一种利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料柔性的方法

    公开(公告)号:CN111272543B

    公开(公告)日:2020-10-02

    申请号:CN202010121348.1

    申请日:2020-02-26

    Abstract: 一种利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料柔性的方法,本发明涉及测试纳米材料柔性的方法。本发明要解决现有纳米材料力学性能的测试及表征需要分散、转移和固定等程序,无法实现对原位生长的纳米材料进行原位加载、实时观察及施加不同应力状态的问题。方法:一、置于FIB‑SEM双束系统中;二、插入改进后的探针,调整改进后的探针移动到定位的纳米材料所在区域;三、激活离子束窗口,调整改进后的探针端部与电子束镜头在同一高度上;四、在电子束窗口下,使得改进后的探针在定位的纳米材料上施加作用力,使纳米材料发生变形。本发明适用于利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料的柔性。

    一种利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料柔性的方法

    公开(公告)号:CN111272543A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN202010121348.1

    申请日:2020-02-26

    Abstract: 一种利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料柔性的方法,本发明涉及测试纳米材料柔性的方法。本发明要解决现有纳米材料力学性能的测试及表征需要分散、转移和固定等程序,无法实现对原位生长的纳米材料进行原位加载、实时观察及施加不同应力状态的问题。方法:一、置于FIB-SEM双束系统中;二、插入改进后的探针,调整改进后的探针移动到定位的纳米材料所在区域;三、激活离子束窗口,调整改进后的探针端部与电子束镜头在同一高度上;四、在电子束窗口下,使得改进后的探针在定位的纳米材料上施加作用力,使纳米材料发生变形。本发明适用于利用扫描电镜原位测试生长于涂层表面的纳米材料的柔性。

    超低温原位拉伸台及扫描电镜超低温原位拉伸测试系统

    公开(公告)号:CN113138130A

    公开(公告)日:2021-07-20

    申请号:CN202110435406.2

    申请日:2021-04-22

    Abstract: 超低温原位拉伸台及扫描电镜超低温原位拉伸测试系统,它涉及超低温力学性能测试领域。本发明解决了传统拉伸性能测试无法动态捕捉材料在超低温环境下裂纹萌生、扩展及颈缩和断裂的问题。本发明的低温制冷器安装在底板的制冷器预留方孔内,第一丝杠组件和第二丝杠组件并排设置在底板上方,且两端分别与两个侧板可转动连接,驱动装置安装在机架的一个侧板的外端面上,驱动装置的两个动力输出端分别与第一丝杠组件和第二丝杠组件连接;第一夹具组件安装在第一滑块固定组件靠近低温制冷器一侧的端面上,第二夹具组件安装在第二滑块固定组件靠近低温制冷器一侧的端面上。本发明用于动态捕捉材料在超低温环境下裂纹萌生、扩展及颈缩和断裂。

    一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法

    公开(公告)号:CN111266368B

    公开(公告)日:2020-09-22

    申请号:CN202010067583.5

    申请日:2020-01-20

    Abstract: 一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法,本发明涉及清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明要解决现有透射电子显微镜中的光阑污染及堵塞后无法清理的问题。方法:一、透射电子显微镜光阑固定与区域观察;二、透射电子显微镜光阑粗加工;三、透射电子显微镜光阑细加工;四、透射电子显微镜光阑精加工,即完成聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明适用于清理透射电子显微镜光阑。

    一种用于高分辨三维X射线显微镜的低温冷却装置

    公开(公告)号:CN217212349U

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202220245450.7

    申请日:2022-01-29

    Abstract: 一种用于高分辨三维X射线显微镜的低温冷却装置,涉及一种低温冷却装置。为了解决现有的低温CT扫描时无法进行实时低温扫描或容易在装置表面产生冰层的问题。低温冷却装置由铜导热片、多级半导体制冷片、储水箱、铜冷却台、隔热罩、隔热管、隔热管罩构成;本实用新型可以实现对低温状态的样品进行实时扫描确保试验的准确性。装置结构简单,使用方便,稳定可靠还具有无震动、无噪音、寿命长、安装容易、制冷快、不会在样品表面产生冰层、不会在样品表面产生冰层等优点。本实用新型适用于低温CT扫描实验。

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