公开(公告)号：CN203719771U

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201420001690.8

申请日：2014-01-03

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 许超 ,  杨涛 ,  何浩培 ,  李兴鳌 ,  周馨慧 ,  仪明东 ,  王义成 ,  黄维

IPC: G01J3/45

Abstract: 本实用新型公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器，以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置，第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本实用新型还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法，利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率，使得光弹性材料在相同的外力下，不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同，结合偏振片从而达到改变出射光强的目的；通过测量不同外力下的光强度，并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本实用新型具有成本较低、分辨率高、测量范围宽等优点。

公开(公告)号：CN203719770U

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201420001022.5

申请日：2014-01-02

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  周馨慧 ,  黄维 ,  仪明东 ,  李兴鳌 ,  何浩培 ,  刘辉

IPC: G01J3/447

Abstract: 本实用新型公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本实用新型还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法，首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、光谱定标，得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。

公开(公告)号：CN203772414U

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201420126456.8

申请日：2014-03-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  李咏华 ,  黄维 ,  李兴鳌 ,  何浩培 ,  沈骁

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 本实用新型公开了一种微型光谱仪，包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述微型光谱仪还包括毛玻璃，所述毛玻璃设置在所述光学准直装置与阵列式探测芯片之间。本实用新型采用常用且价格低廉的毛玻璃替代高工艺制作出来的分光器件，在保持测量精度高、测量范围宽以及对振动不敏感等优点的同时，其制作成本更低、且制作过程更简单。

公开(公告)号：CN203629684U

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201320841875.5

申请日：2013-12-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  李兴鳌 ,  黄维 ,  周馨慧 ,  仪明东 ,  何浩培 ,  蔡祥宝

IPC: G01J3/447

Abstract: 本实用新型公开了一种基于电光效应的光谱测量装置，包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、电光效应晶体、第二偏振片、光探测器；其中，第一偏振片的偏振方向与所述电光效应晶体在外加电场下的感应主轴方向不平行。使用本实用新型进行光谱测量，首先测量对电光效应晶体施加不同外加电压下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同外加电压下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合，并经光谱辐射定标，得到待测入射光的光谱。本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。

公开(公告)号：CN203216609U

公开(公告)日：2013-09-25

申请号：CN201320132558.6

申请日：2013-03-21

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  韦玮 ,  仪明东 ,  周馨慧 ,  何浩培 ,  黄维

IPC: G01J3/28

Abstract: 本实用新型公开了一种光谱仪，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层透明涂层，所述透明涂层中包含有一组尺寸或形状不均匀分布的气泡。相比现有技术，本实用新型具有制作简单、实现成本低、便携性好，以及较高的分辨率和较宽的光谱测量范围的优点。

公开(公告)号：CN204007868U

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201420135901.7

申请日：2014-03-25

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  宋春元 ,  许超 ,  黄维 ,  李兴鳌 ,  何浩培 ,  仪明东 ,  周馨慧 ,  李咏华

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

Abstract: 本实用新型公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置，包括光学准直装置、光散射器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；经由光学准直装置准直后的入射光经由光散射器件形成散射光，并被阵列式探测芯片接收；所述光散射器件可令不同频率的入射光形成不同的散射光强角分布，且相同频率的入射光在光散射器件的不同部位所产生的散射光强分布也不同。相比现有技术，本实用新型具有体积更小、结构复杂度及制作成本更低的优点，并提出了一种新的光谱测量技术途径。

公开(公告)号：CN203772415U

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201420139316.4

申请日：2014-03-25

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  宋春元 ,  何浩培 ,  黄维 ,  李兴鳌 ,  周馨慧 ,  沈骁 ,  仪明东 ,  李咏华

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

Abstract: 本实用新型公开了一种光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置，包括沿光入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有一层金属粒子膜，所述金属粒子膜包括一组纳米至微纳米尺度的大小不等的金属粒子，所述金属粒子在金属粒子膜中呈不均匀分布，且金属粒子之间形成有一系列可容光线通过的大小不等的孔隙。相比现有技术，本实用新型具有结构简单、对振动不敏感、测量精度高、制作成本低等优点。

公开(公告)号：CN203719769U

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201320843415.6

申请日：2013-12-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 杨涛 ,  许超 ,  仪明东 ,  黄维 ,  李兴鳌 ,  周馨慧 ,  何浩培 ,  蔡祥宝

IPC: G01J3/433

Abstract: 本实用新型公开了一种基于声光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本实用新型的光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的声光调制器、光探测器。利用本实用新型进行光谱测量时，首先测量不同声场强度下光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合所述光探测器在不同声场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合，并经光谱辐射定标，得到待测入射光的光谱。相比现有技术，本实用新型具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等显著优点。