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公开(公告)号：CN115878057A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202111134657.3
申请日：2021-09-27
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F3/14 , G06F3/04817
Abstract: 本申请涉及遥控技术领域，特别涉及一种多屏系统的控制方法、介质及其电子设备。本申请实施例的多屏系统至少包括第一显示单元和第二显示单元，该方法包括：第一显示单元与遥控设备建立通信连接；第一显示单元显示处于焦点选中状态的第一显示元素；第一显示单元接收到遥控设备发送的第一遥控指令；第一显示单元向第二显示单元发送第一遥控指令；第二显示单元响应于接收到的第一遥控指令，显示处于焦点选中状态的第二显示元素，且第一显示单元中的第一显示元素不再处于焦点选中状态。本申请实施例中，遥控设备仅需要与第一显示单元建立通信连接，就能控制多屏系统中的多个显示单元，实现了一个遥控器方便地控制多个显示单元的效果，提升用户体验。
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公开(公告)号：CN115443415A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202080100118.5
申请日：2020-08-31
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G01R31/3167
Abstract: 一种芯片中的测试电路(03)及电路的测试方法，涉及电子技术领域，可适用于EDA软件，用于解决目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置复杂的问题。该测试电路(03)将测试向量的输入数据通过测试总线(02)的输入传输至数据分发电路(301)中，通过数据分发电路(301)传输至被测电路(01)的扫描输入通道，被测电路(01)扫描结束后，被测电路(01)的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路(301)传输至测试总线(02)的输出完成被测电路(01)的测试，可根据具体的测试方案配置数据分发电路(301)与测试总线(02)的动态对应关系，使得测试资源能够得以动态分配，极大程度地优化了绕线拥塞的问题，以便降低测试成本，并且可以简化配置过程，而提高测试效率。
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公开(公告)号：CN118159975A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202180104022.0
申请日：2021-12-29
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F30/392 , G06F30/398
Abstract: 本公开的各实施例涉及用于设计布局的方法、装置、设备、介质以及程序产品。根据本公开的一些实施例的方法可以针对布局区域的网格阵列中的过载网格确定用于移动其中的电路单元的多个候选路径的优先级，并且根据所确定的优先级来移动过载网格中的电路单元，从而在实现布局合法化的同时可以尽可能地减小布局质量的下降程度，甚至是可以提升布局质量。
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公开(公告)号：CN117751295A
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202180100883.1
申请日：2021-10-26
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G01R31/3185
Abstract: 一种用于对逻辑电路进行仿真的方法和设备。该方法包括对逻辑电路进行分级，并且由GPU在同一时间帧中使用测试向量对分级后的各级中的多个逻辑门进行并行计算以最终得到逻辑仿真输出集。相比于诸如硬编码之类的由CPU执行的常规串行仿真，由GPU对经分级的电路中多个逻辑门进行并行仿真可以大幅度缩减逻辑仿真的时间。
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公开(公告)号：CN117561513A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202180099701.3
申请日：2021-06-24
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F30/30
Abstract: 一种芯片布局方法及装置，涉及集成电路设计技术领域。方法包括：根据第一信息，确定多个目标对象的第一布局规划方案；其中，第一信息中包括用于描述多个目标对象以及各个目标对象之间的连接关系的信息，第一布局规划方案用于描述多个目标对象在芯片中的初始布局位置；根据至少一个参数，对第一布局规划方案进行调整，得到多个目标对象的第二布局规划方案，其中，至少一个参数用于表征多个目标对象在芯片中的紧密程度，第二布局规划方案用于描述多个目标对象在芯片中的目标布局位置；根据第二布局规划方案，输出多个目标对象所属的至少一个分组在芯片上相应的分区信息，每个分组在所述芯片上相应的分区信息用于在所述芯片上部署属于所述分组的目标对象。该方案有助于自动化实现VLSI物理设计中的顶层布局规划以及宏模块布局规划。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116324440A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202080104733.3
申请日：2020-10-28
Applicant: 华为技术有限公司
Inventor： 黄宇
IPC: G01R31/3187
Abstract: 一种解压缩电路的生成方法和装置，涉及IC芯片测试领域，解压缩电路的生成方法包括：根据扫描链的输入端的位置坐标确定驱动异或门的位置坐标，以及，驱动异或门与扫描链的输入端的耦合关系(S601)；根据扫描链的输入端的位置坐标确定中间异或门的位置坐标，以及，中间异或门与驱动异或门的耦合关系(S602)；根据中间异或门的位置坐标确定CA寄存器的位置坐标，以及，CA寄存器与中间异或门的耦合关系(S603)。
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公开(公告)号：CN115729422A
公开(公告)日：2023-03-03
申请号：CN202110970722.X
申请日：2021-08-23
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F3/04845 , G06F3/14
Abstract: 本申请实施例涉及图像处理技术领域，提供一种图像处理方法、显示设备、控制设备、组合屏和存储介质，应用于控制设备和组合屏组成的图像处理系统中，组合屏由多个显示设备拼接形成。显示设备获取显示参数，显示参数包括放大倍数、位置偏移和角度偏移，放大倍数指示对待显示图像的放大比例，位置偏移和角度偏移分别指示显示设备相对于组合屏的相对位置和相对旋转角度。显示设备根据显示参数和待显示图像，确定并显示该显示设备的显示内容。组合屏中的每个显示设备根据各自的显示参数可以将待显示图像调整为相同的显示尺寸并显示其中对应的一部分图像，从而在组合屏显示整个画面时降低甚至消除画面的错位感和分裂感，提高显示效果。
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公开(公告)号：CN115443413A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202080100077.X
申请日：2020-08-31
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种芯片测试电路及电路测试方法，可用于EDA软件中对芯片电路进行测试，用于解决目前的测试方案中的绕线拥塞和测试配置复杂的问题。该测试电路将测试向量的输入数据通过测试总线的输入传输至数据分发电路(301)中，通过数据分发电路(301)传输至被测电路(01)的扫描输入通道，被测电路(01)扫描结束后，被测电路(01)的扫描输出通道的测试向量的输出数据通过数据分发电路(301)传输至测试总线的输出完成被测电路(01)的测试，通过对第一选择器(302)的配置实现数据分发电路(301)与测试总线(02)的动态对应关系，使得测试资源能够得以动态分配，极大程度地优化了绕线拥塞的问题，以便降低测试成本，并且可以简化配置过程，从而提高测试效率。
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公开(公告)号：CN114925651A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210469023.1
申请日：2022-04-29
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F30/394 , G06F30/398 , G06N5/00 , G06N20/00 , G06N3/04 , G06F111/04 , G06F115/12
Abstract: 一种电路走线确定方法，涉及电路布图领域，方法包括：获取用于描述端口和引脚的信息，根据端口和引脚的信息确定多个候选连接路径，并通过机器学习模型，得到每个候选连接路径的代价值，代价值用于指示候选连接路径对多个端口和多个引脚之间总连接路径的数量的影响，根据代价值，从多个候选连接路径中确定至少一个目标连接路径。本申请通过机器学习模型，有效评估候选连接路径的代价值，通过代价值确定优选的目标连接路径，从而提高电路整体的端口与引脚之间的连接数量。
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公开(公告)号：CN113657022A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110801966.5
申请日：2021-07-15
Applicant: 华为技术有限公司
IPC: G06F30/27 , G06K9/62 , G06N3/04 , G06N3/08 , G06F111/08
Abstract: 本申请涉及人工智能领域，公开了一种芯片故障识别方法，包括：获取故障芯片的多个局部片段以及每个局部片段与故障芯片发生故障之间的关联程度；基于多个局部片段之间的结构相似性，对多个局部片段进行聚类，以得到聚类结果；根据聚类结果以及关联程度，训练因果关系模型，并根据聚类结果以及因果关系模型，确定多个片段类别中的每个片段类别导致故障芯片发生故障的概率。本申请基于片段之间的样本相似性，对大量候选的局部片段进行分类，得到多个片段类别，并构建用于进行片段类别对故障影响的根因推断的因果关系模型，避免了等价的局部片段分散候选根因的因果效应，进而提升了根因识别的准确率。
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