一种基于多参量的有载分接开关故障监测方法

    公开(公告)号:CN106597266A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201611014853.6

    申请日:2016-11-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于多参量的有载分接开关故障监测方法,测量有载分接开关本体的多路振动信号、驱动电机电流信号,通过端点识别算法与混合信号分离算法对多路振动信号进行有效信号提取,通过相空间重构法以及几何分布特征提取对有载分接开关的多个运行状态进行特征提取,并建立相应的特征库;基于特征库根据有载分接开关的振动信息判断有载分接开关的运行状态,识别故障种类;并采用希尔伯特变换根据有载分接开关驱动电机电流信号的电流包络线判断驱动电机故障;本发明提供的这种有载分接开关故障监测方法,建立了多种主流有载分接开关的振动信号库,具有简单且故障识别率高的特点。

    抗辐射加固存储单元电路
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103474092B

    公开(公告)日:2016-01-06

    申请号:CN201310397216.1

    申请日:2013-09-04

    CPC classification number: G11C11/4125

    Abstract: 本发明公开了一种抗辐射加固存储单元电路,包括:基本存储单元、冗余存储单元和双向反馈单元;其中,基本存储单元包括第一、第二PMOS管和第三、第四PMOS管;冗余存储单元包括第五、第六PMOS管和第七、第八PMOS管;双向反馈单元用于构成存储节点与冗余存储节点间的反馈通路,还用于构成反相存储节点与反相冗余存储节点间的反馈通路。本发明的存储单元电路可自动实现抗总剂量效应加固和抗单粒子闩锁效应加固,同时利用冗余和双路循环反馈技术实现抗单粒子翻转效应加固,具有较好的抗辐射特性,且电路结构简单,单元面积小。

    一种宽照度全色成像探测芯片

    公开(公告)号:CN103528675B

    公开(公告)日:2015-11-11

    申请号:CN201310431718.1

    申请日:2013-09-22

    Abstract: 本发明公开了一种宽照度全色成像探测芯片,包括面阵电控双模平面液晶微透镜、面阵全色探测器和驱控预处理模块;面阵全色探测器被划分成多个阵列分布的子面阵全色探测器,每个子面阵全色探测器包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的光敏元;面阵电控双模平面液晶微透镜与面阵全色探测器匹配耦合,包括多个阵列分布的单元电控双模平面液晶微透镜,每单元电控双模平面液晶微透镜与一个子面阵全色探测器对应;面阵电控双模平面液晶微透镜基于入射光的强度,对其进行定向汇聚、发散或维持光束的空间传输形态。本发明的探测芯片可实现宽照度范围内的全色图像信息获取,测量精度高,目标和环境适应性好,易与常规光学系统耦合。

    一种基于sigma滤波器的红外焦平面非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN102968765B

    公开(公告)日:2014-12-17

    申请号:CN201210454281.9

    申请日:2012-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于sigma滤波器的红外焦平面非均匀性校正方法,该方法对线性校正后的图像进行模板大小为5x5的sigma滤波,在实现边缘保持平滑滤波的同时,完成校正参数迭代步长自适应调整以及异常像素(坏元、冲激噪声)检测与替换,采用变化参考图像实现运动检测,只有当校正图像与变化参考图像的差值大于变化阈值时才对非均匀性校正参数进行自适应迭代步长的更新。本发明将sigma滤波器用于红外焦平面非均匀性校正,利用其边缘保持特性降低非均匀性参数估计误差,增强“鬼影”抑制能力,同时利用sigma滤波器实现自适应迭代步长与异常像素检测与替换,计算复杂度低,适合硬件电路实现。

    一种2-D卷积器
    28.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102208005B

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201110142679.4

    申请日:2011-05-30

    Abstract: 2-D卷积计算在图像处理领域中有着广泛的应用,本发明公开了一种2-D卷积器,通过将2-D卷积计算分解为多1-D卷积计算窗口并行计算以及采用图像数据以行或列主导Zigzag扫描格式输入的策略,减少了片上存储器的容量,降低了片上资源开销;并且2-D卷积器能接受行或列主导Zigzag扫描格式这两种不同图像数据输入格式的特点,使得本2-D卷积器适用于不同的应用系统;通过调整中间结果暂存单元各双端口SRAM的深度W,在片上存储器容量和外部带宽之间做出较好的折中,带来系统设计的灵活性。与现有的2-D卷积器相比,本发明占用的硬件资源少,吞吐率可以满足大多数图像处理系统的实时性要求,可用于实现低成本嵌入式系统中2-D卷积计算。本发明属于超大规模集成电路结构设计领域。

    一种基于sigma滤波器的红外焦平面非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN102968765A

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN201210454281.9

    申请日:2012-11-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于sigma滤波器的红外焦平面非均匀性校正方法,该方法对线性校正后的图像进行模板大小为5x5的sigma滤波,在实现边缘保持平滑滤波的同时,完成校正参数迭代步长自适应调整以及异常像素(坏元、冲激噪声)检测与替换,采用变化参考图像实现运动检测,只有当校正图像与变化参考图像的差值大于变化阈值时才对非均匀性校正参数进行自适应迭代步长的更新。本发明将sigma滤波器用于红外焦平面非均匀性校正,利用其边缘保持特性降低非均匀性参数估计误差,增强“鬼影”抑制能力,同时利用sigma滤波器实现自适应迭代步长与异常像素检测与替换,计算复杂度低,适合硬件电路实现。

    一种电抗器状态诊断方法及系统

    公开(公告)号:CN112182490B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202010906417.X

    申请日:2020-09-01

    Abstract: 本发明公开了一种电抗器状态诊断方法及系统,包括以下步骤:S1、采集待测电抗器运行时表面产生的振动信号,并对其进行预处理;S2、对于所得预处理后的振动信号进行谱残差运算,并基于所得谱残差计算得到该振动信号的显著性序列;S3、将所得振动信号的显著性序列输入到预处理好的状态诊断模型中,得到待测电抗器的运行状态;其中,状态诊断模型为卷积神经网络;本发明通过提取振动信号的显著性序列,去除了振动信号中存在的冗余信息,得到了对信息变化趋势更加敏感的信息,并结合卷积神经网络对所得显著性序列进行识别,可以实时的对电抗器具体运行状态进行判断,且状态诊断的准确性较(56)对比文件REN Han-sheng等.Time-Series AnomalyDetection Service atMicrosoft.Proceedings of the 25th ACMSIGKDD International Conference onKnowledge Discovery & Data Mining.2019,全文.崔博文;任章.基于傅里叶变换和神经网络的逆变器故障检测与诊断.电工技术学报.2006,(第07期),全文.

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