一种双频段太赫兹波发生装置及方法

    公开(公告)号:CN113872021A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111143051.6

    申请日:2021-09-28

    Abstract: 本发明涉及一种双频段太赫兹波发生装置及方法。该装置包括:发射阴极、收集极和金属光栅;所述发射阴极和所述收集极设置于所述金属光栅的上方,所述发射阴极能够发出电子束,所述收集极能够接收电子束;所述金属光栅靠近所述发射阴极和所述收集极的一侧设置有N个第一矩形槽和N个第二矩形槽,所述第一矩形槽和所述第二矩形槽的深度不同,所述第一矩形槽和所述第二矩形槽在所述金属光栅上呈周期性排列;当所述电子束的工作电压大于所述金属光栅中最大截止工作电压时,能够激发出双频段的表面等离激元,以利用所述电子束和所述表面等离激元的互作用产生太赫兹波。本发明提供的方案能够实现双频段太赫兹波的高效率激发,也具有宽频带工作的优势。

    超表面透镜角反射器
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111981438A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010940933.4

    申请日:2020-09-09

    Abstract: 本发明涉及超表面透镜角反射器,包括金属薄层、介质层和反射镜,两层介质层分别分布在三层金属薄层相接面之间,金属薄层与介质层均为圆盘状,反射镜为中心旋转对称的圆弧球壳,反射镜位于金属薄层下方,反射镜与最底部金属薄层间距为反射镜内圆弧半径,反射镜敞口端朝向金属薄层,本发明具有能够克服采用单一反射型超表面后向散射增强工作角域窄和单向工作的缺陷,能够在宽角域范围内工作,且结构小巧、紧凑、轻材质,易平面共形和灵活设计的优点。

    一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法

    公开(公告)号:CN111879238A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010761630.6

    申请日:2020-07-31

    Abstract: 本发明涉及一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法,包括太赫兹天线、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、主反射镜、第一电移台、第二电移台和调整部件,第一、第二电移台均架设在光学平台上,太赫兹天线架设在第一电移台上,第一、第三反射镜分别架设在两个调整部件上,两个调整部件分别架设在第一、第二电移台上,第二反射镜固连在第二电移台一侧的光学平台上,主反射镜固连在第二电移台另一侧的光学平台上;第一反射镜移动将太赫兹天线发射的波束反射到第二反射镜或第三反射镜上,第二反射镜和第三反射镜反射波束至主反射镜上,本发明提高太赫兹时域光谱散射测量系统目标测试尺寸选择灵活性的优点。

    太赫兹频谱校准系统及方法
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109030406A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201811187004.X

    申请日:2018-10-12

    CPC classification number: G01N21/3586

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹频谱校准系统,包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具,该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡,对太赫兹时域光谱进行频率校准,并且,该系统通过引入准直光路,利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准,使得太赫兹波与标准量具垂直,减小由非垂直入射引起的频谱误差,有效提高系统的准确性和可靠性。本发明还提供了一种太赫兹频谱校准方法,通过太赫兹频谱校准系统进行频谱校准,利用反向输入太赫兹光路的准直光调整太赫兹光路,使标准量具与太赫兹波垂直,减小标准量具对太赫兹倾斜角引起的频谱误差。

    一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法

    公开(公告)号:CN119534323A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411705902.5

    申请日:2024-11-26

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法,系统的发射天线和接收天线分别用于发射太赫兹波和接收太赫兹波回波,六轴式机械臂用于支撑并调节待测材料的测试角度,第一离轴抛物面镜相对发射天线固定,用于将发射天线出射的太赫兹波转换为平行波束照射到待测材料,第二离轴抛物面镜相对接收天线固定,且能够围绕六轴式机械臂发生圆周运动,用于将待测材料反射的太赫兹波回波反射至接收天线,控制器用于采集待测材料的半球空间角度的太赫兹波的回波信号,通过处理分析得到待测材料的双向反射分布函数。该测量系统通过简单的结构,实现待测材料的半球空间角度的太赫兹波回波信号采集,进而实现待测材料的双向反射分布函数。测量方法操作方便。

    一种随机介质内的单像素三维非侵入式成像方法及装置

    公开(公告)号:CN119399374A

    公开(公告)日:2025-02-07

    申请号:CN202411500058.2

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本发明提供了一种随机介质内的单像素三维非侵入式成像方法及装置,涉及计算机成像技术领域,其中方法包括:利用垂直于光扩散方向的虚拟聚焦扫描面对待成像目标进行划分,得到多个垂直平面;根据随机介质中每个垂直平面与激光入射平面的深度距离,对所有垂直平面的点扩展函数的参数均进行自标定处理;根据自标定结果建立单像素共聚焦探测模式下的激光传播模型;利用所述激光传播模型对待成像目标进行计算,得到待成像目标的反射率的三维空间分布。本方案能够对浸没在随机介质中的立体物体进行非侵入的,自定标的高效成像。

    一种有补偿光路的太赫兹时域光谱紧缩场测量系统

    公开(公告)号:CN117387760A

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN202311328353.X

    申请日:2023-10-13

    Abstract: 本发明涉及一种有补偿光路的太赫兹时域光谱紧缩场测量系统,涉及光学设备领域,包括产生路和探测路,产生路和探测路均采用一个光线耦合激光器,光线耦合激光器将激光发射到产生路里的发射天线以及探测路的接收天线,产生路产生的紧缩场光路以及探测路发出的激光均到达接收天线,在产生路或探测路布置有补偿光路,补偿光路包括耦合器和收集器,收集器接收耦合器发出的激光,耦合器与收集器间隔布置以使激光在自由空间中传输,本发明具有解决了光纤耦合太赫兹时域光谱紧缩场测量系统中的色散、长光程差光路补偿等系统技术难题,可作为此类紧缩场系统设置的规范的优点。

    一种等离子体炬及其冷却方法

    公开(公告)号:CN113993264B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202111303436.4

    申请日:2021-11-05

    Abstract: 本申请涉及换热技术领域,尤其涉及一种等离子体炬及其冷却方法。该等离子体炬包括等离子体炬本体和冷却组件,其中,等离子体炬本体包括喷头、钨针、内壳和外壳,喷头和钨针的极性相反,钨针设置于内壳内,内壳设置于外壳内,钨针和内壳之间形成气腔,内壳和外壳之间形成冷却腔,外壳上设置有进液管和出液管,进液管和出液管分别与冷却腔连通;冷却组件设置于冷却腔内,用于改变液体在冷却腔内的流向,以增加液体在冷却腔内的流程。本申请提供的等离子体炬换热效果好,管壁不易超温,工作状态稳定,可连续工作,使用寿命长。

    空心光纤、气体检测系统及方法

    公开(公告)号:CN113589426B

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202111066785.9

    申请日:2021-09-13

    Abstract: 本发明提供了一种空心光纤、气体检测系统及方法,气体检测系统可以包括:太赫兹波产生装置、太赫兹波探测装置、耦合装置、光谱信息处理装置和空心光纤;太赫兹波产生装置,用于产生太赫兹波入射至耦合装置中;耦合装置与空心光纤的一端相连,用于将太赫兹波和待测气体分别耦合至空心光纤的纤芯及包层内,以使太赫兹波在纤芯内传输过程中与从包层渗透到纤芯内的待测气体进行反应,并从纤芯的另一端输出;太赫兹波探测装置探测从纤芯输出的太赫兹波,得到待测气体的吸收光谱发送给光谱信息处理装置;光谱信息处理装置,用于根据待测气体的吸收光谱得到分析结果。本方案,能够降低气体检测系统的体积以及提高气体检测效率。

    样品材料参数确定方法及装置

    公开(公告)号:CN113983994B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202111240690.4

    申请日:2021-10-25

    Inventor: 蔡禾 李粮生

    Abstract: 本发明提供了一种样品材料参数确定方法及装置,其中方法包括:获取长度相等的样品时域波形和参考时域波形;生成与样品时域波形对应的第一汉宁窗,以及生成与参考时域波形对应的第二汉宁窗;第一汉宁窗的窗口函数长度与样品时域波形的长度相等;第二汉宁窗的窗口函数长度与参考时域波形的长度相等;利用第一汉宁窗对样品时域波形进行处理,得到处理后的样品有效时域波形;利用第二汉宁窗对参考时域波形进行处理,得到处理后的参考有效时域波形;根据样品有效时域波形和参考有效时域波形,确定样品材料参数。本方案,使用汉宁窗进行处理,可以使得频谱泄露较少,从而能够提高对较薄厚度的样品太赫兹材料参数反演的准确性。

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