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公开(公告)号：CN104535858A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201410796746.8
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。通过对这些区域添加高性能的吸波材料或移去这些干扰反射源，减小这些区域反射对待测目标反射信号测量精度的影响。
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公开(公告)号：CN116047436A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211732927.5
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本说明书公开了一种有源相控阵雷达天线的近场幅相校准方法、系统、设备，涉及相控阵雷达天线校准技术领域，旨在解决现有技术对相控阵雷达天线进行近场校准鲁棒性较差的问题。本发明方法包括：对各发射通道一一进行平面扫描，获取相控阵雷达天线的各发射通道的幅度值、相位值；计算幅度值、相位值的误差，并基于误差对各发射通道进行校准；判断是否需要重新进行平面扫描，若否，则计算待测的发射通道的幅度值、相位值；获取待测的发射通道对应的参考阵面的幅度值、相位值，计算幅度值、相位值之间的误差，并基于误差对待测的发射通道再次进行校准。本发明提高了雷达天线方向图的补偿精度和效率，解决了有源相控阵雷达天线的幅相校准鲁棒性差问题。
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公开(公告)号：CN112731017B
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202011516652.2
申请日：2020-12-21
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于电源线传导发射项目测量和整改的装置，包括第一LISN模块、频谱仪模块和快速整改工具模块。第一LISN模块提取输入电源的电源线上的传导骚扰信号，并将传导骚扰信号传输至频谱仪模块进行显示，从而实现电源线传导发射项目的测量，且将频谱仪变成频谱仪模块集成到装置内，缩小了装置的体积，便于携带。另外，该装置还包括快速整改工具模块，快速整改工具模块包括多个插槽，插槽内安装有不同类型和规格的插槽元器件，通过更换插槽内的插槽元器件的类型和规格，能够在发生超标问题时，第一时间进行问题的解决。
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公开(公告)号：CN108896828A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810728293.3
申请日：2018-07-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请实施例中提供了一种负载结构和同心锥形横电磁波室，其中,负载结构包括：两端开口的空心锥形体；所述空心锥形体的外表面涂覆有涂层材料；同心锥形TEM室中的外导体直接与所述涂层材料抵接；所述负载结构通过凸台结构将部分涂层材料以面接触的方式直接与同心锥形横电磁波室中内导体压接。本申请所述技术方案能够可有效地解决掉炭黑涂料以及负载与导体接触不可靠的问题，从而提高同心锥TEM室的可靠性和耐用性。本申请所述技术方案能够吸收内外导体上的传输电流及腔体内传输的电磁波，以减少电磁波反射，从而确保腔体的场均匀性满足指标要求。
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公开(公告)号：CN108318848A
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201810148823.7
申请日：2018-02-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种沉积静电放电电流的校准装置和方法，解决了沉积静电放电电流的校准准确性的问题，所述装置包括被校准的沉积静电放电模拟器，放电靶，电阻，直流电压表，所述模拟器用于产生沉积静电放电电流，并向所述放电靶进行沉积静电放电；所述放电靶与所述电阻串联，用于接收所述模拟器产生的沉积静电并产生直流电流；所述电阻接地；所述直流电压表用于测量所述电阻的电压。所述方法包括以下步骤，调节高压产生器产生预定的沉积静电放电电流，记录所述电流表上的指示和直流电压表的指示；通过欧姆定律得到通过所述电阻的直流电流值；根据所述直流电流值对所述沉积静电放电电流值进行校准。本发明可以沉积静电放电电流进行精确校准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105428803B
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201510956075.1
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种双旋转抛物面振子天线，解决目前标准辐射源天线主波束方向随频率不同偏离水平方向、导致增益低的问题。本发明包含上振子、下振子、连接装置，所述上振子和下振子的外表面为相同形状的旋转抛物面。所述连接装置包含同轴连接器、内导体、绝缘体；所述绝缘体第二端的端面和所述上振子的外表面共形，作为本发明的典型实施例，旋转抛物面的旋转曲线方程的指数项系数为0.06，斜率为0.1,辐射间距为2mm，所述上振子和所述下振子的半径最大值为48.5mm，本发明的典型实施例实现了超宽带(1GHz～18GHz)范围的水平全向标准辐射场。本发明采用改变振子缝隙为曲线间隔的方式增强了超宽带振子天线在水平方向增益。
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公开(公告)号：CN108020802A
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201711148056.1
申请日：2017-11-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种电场探头校准方法和装置，解决现有方法和装置校准频率范围小、校准稳定性差、时间长、无法大批量校准的问题。所述方法，包括：在同心锥TEM室馈电处注入输入信号，产生校准电场；根据被校准场探头频率范围确定校准点；根据校准点频率，在校准电场的场均匀区域内放入标准场探头，得到标准场强；在相同位置放入被校准场探头，记录场强指示值；计算所述校准点的频率响应偏差和频率响应修正因子。所述装置包含：同心锥TEM室、信号源、功率计、定向耦合器、被校场探头，信号源产生校准点频率值的输入信号；定向耦合器接收输入信号并传给同心锥TEM室；同心锥TEM室产生校准电场。本发明实现了电场探头的大频率范围、快速校准问题。
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公开(公告)号：CN104678339A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201510072783.9
申请日：2015-02-11
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开一种用于探针式微波电压测量系统的校准装置，该装置包括微波信号输入端、微波信号输出端，所述该装置还包括标准微带线、探针负极触盘、探针负极触点、探针正极触点、探针定位支架；所述标准微带线，用于传输由微波信号输入端输入的微波信号；所述微波信号输出端，用于输出来自标准微带线的微波信号；所述探针负极触盘采用切角设计；所述探针负极触点、探针正极触点和所述探针定位支架点，用于对探针进行定位。本发明所述技术方案，基于电路并联等压原理，可以将微波电压校准结果溯源到50Ω系统的功率参数，适用于任意非零阻抗探针式微波电压测量系统的校准，能够提高非50Ω微波电压测量系统的准确性。
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公开(公告)号：CN104569943A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410800369.0
申请日：2014-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/41
CPC classification number: G01S7/41
Abstract: 本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。
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公开(公告)号：CN104569932A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410812458.7
申请日：2014-12-23
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
CPC classification number: G01S7/40 , G01S7/026 , G01S7/4004
Abstract: 本发明公开一种用于全极化雷达散射截面测量的校准装置，包括支架和椭圆形直角二面角，支架包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；安装平台上设有安装座，二面角支撑臂的一端可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行，椭圆形直角二面角固设在所述二面角支撑臂的另一端；椭圆形直角二面角在横截面的投影为圆形。本发明中的椭圆形直角二面角横截面为圆形，即不同横滚角下椭圆形直角二面角对应雷达散射截面测量系统辐射场的相同部分，具有横滚稳定性；椭圆形直角二面角在横滚角22.5°时其主极化与交叉极化散射场相等，与理想二面角的主极化和交叉极化的定量关系一致。
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