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公开(公告)号：CN112763818B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202011508380.1
申请日：2020-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种小屏蔽体宽频带屏蔽效能测量装置及方法，涉及能效测量技术领域，以解决现有屏蔽效能相关测试的测试天线不适用与小屏蔽体屏蔽性能测量的问题。其中测量装置包括屏蔽暗室、信号发生器、信号接收设备、放置在屏蔽暗室内的屏蔽体以及相对放置的发送天线和接收天线；信号发生器，与发送天线电连接，用于通过发送天线向外输出目标幅度的正弦波信号；信号接收装置，与接收天线电连接，用于检测接收天线无屏蔽体罩设时接收到的第一信号强度；和有屏蔽体罩设时接收到的第二信号强度；根据第一信号强度和第二信号强度计算屏蔽体的屏蔽能效。上述测量装置及方法有效的实现了对小屏蔽体屏蔽能效的测试，具有很高的实用性。
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公开(公告)号：CN112702127A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011417029.1
申请日：2020-12-07
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种T型网络测量方法和系统，解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法，包含：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法，可实现大范围、高精度T型网络电容测量。
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公开(公告)号：CN109324227A
公开(公告)日：2019-02-12
申请号：CN201811380134.5
申请日：2018-11-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/165
Abstract: 本发明公开了一种畸变频谱测量装置和方法，解决现有装置和方法设备复杂、实时处理能力差的问题。一种畸变频谱测量装置，包含：隔直网络模块、频谱分析仪；所述隔直网络模块用于滤除机载直流供电信号中的直流分量，输出畸变谐波信号；所述频谱分析仪用于接收所述畸变谐波信号，测量畸变参数，所述畸变参数包含畸变幅度、畸变频率。一种畸变频谱测量方法，包含：对所述机载直流供电信号滤除直流分量；对所述畸变谐波信号进行测量，得到畸变参数。本发明对畸变信号的幅度和频谱具有较好的适应性和完整性。
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公开(公告)号：CN105527598A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201510956142.X
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种场传感器校准系统和方法，解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体，构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细，侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线，从顶面至底面逐渐变细，使得场传感器校准可使用的空间区域变大；在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域，在该立方体的顶点及各边中点设置参考点，分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度，得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式，提高了场传感器的校准精度。
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公开(公告)号：CN103618141B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310646488.0
申请日：2013-12-04
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于校准电磁兼容测量用单极天线的T型网络装置，包括屏蔽盒主体，所述屏蔽盒主体内设有阶梯结构，所述阶梯结构上固定设置有T型网络电路板，所述T型网络电路板上设有信号源接口，频谱仪接口和被测天线接口，所述屏蔽盒主体的顶部固定设置有屏蔽盒顶盖，所述屏蔽盒主体的前侧面上和后侧面上分别固定设置有同轴SMA接头，所述屏蔽盒主体的左侧面上固定设置有绝缘隔离支撑，所述绝缘隔离支撑设有开口，天线基座连接头的连接端穿过绝缘隔离支撑的开口与T型网络电路板电连接；两个SMA接头中的一个SMA接头与所述信号源接口电连接，另一个SMA接头与所述频谱仪接口电连接；所述天线基座连接头的连接端与被测天线接口电连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112702127B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202011417029.1
申请日：2020-12-07
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种T型网络测量方法和系统，解决现有方法中系统测量误差大和频率覆盖范围小的问题。所述方法，包含：将被测T型网络的第三端口与匹配负载连接，选定被测频率范围内的被校频率点，通过所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第二端口在所述被校频率点的输出幅度值为第一测量值；将被测T型网络的第二端口与匹配负载连接，在所述被校频率点，保持所述被测T型网络的第一端口输入预设幅度值的正弦连续波信号，记录其第三端口在所述被校频率点的输出幅度值为第二测量值；计算所述被测T型网络的在每个所述被校频率的插入损耗和电容值。所述系统使用所述方法，可实现大范围、高精度T型网络电容测量。
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公开(公告)号：CN112763818A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011508380.1
申请日：2020-12-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开一种小屏蔽体宽频带屏蔽效能测量装置及方法，涉及能效测量技术领域，以解决现有屏蔽效能相关测试的测试天线不适用与小屏蔽体屏蔽性能测量的问题。其中测量装置包括屏蔽暗室、信号发生器、信号接收设备、放置在屏蔽暗室内的屏蔽体以及相对放置的发送天线和接收天线；信号发生器，与发送天线电连接，用于通过发送天线向外输出目标幅度的正弦波信号；信号接收装置，与接收天线电连接，用于检测接收天线无屏蔽体罩设时接收到的第一信号强度；和有屏蔽体罩设时接收到的第二信号强度；根据第一信号强度和第二信号强度计算屏蔽体的屏蔽能效。上述测量装置及方法有效的实现了对小屏蔽体屏蔽能效的测试，具有很高的实用性。
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公开(公告)号：CN112578192A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011603064.2
申请日：2020-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明公开了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法。该小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，包括：脉冲发射系统、天线系统、待测屏蔽体和接收系统。通过这一具体结构设置，本发明使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，并通过时域－频域转换得到频率信息，一次测量即可完成全频段测量，不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实，进而使得小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试操作步骤更加简便、测量效率更加精确。
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公开(公告)号：CN108318848B
公开(公告)日：2020-09-22
申请号：CN201810148823.7
申请日：2018-02-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种沉积静电放电电流的校准装置和方法，解决了沉积静电放电电流的校准准确性的问题，所述装置包括被校准的沉积静电放电模拟器，放电靶，电阻，直流电压表，所述模拟器用于产生沉积静电放电电流，并向所述放电靶进行沉积静电放电；所述放电靶与所述电阻串联，用于接收所述模拟器产生的沉积静电并产生直流电流；所述电阻接地；所述直流电压表用于测量所述电阻的电压。所述方法包括以下步骤，调节高压产生器产生预定的沉积静电放电电流，记录所述电流表上的指示和直流电压表的指示；通过欧姆定律得到通过所述电阻的直流电流值；根据所述直流电流值对所述沉积静电放电电流值进行校准。本发明可以沉积静电放电电流进行精确校准。
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公开(公告)号：CN108318848A
公开(公告)日：2018-07-24
申请号：CN201810148823.7
申请日：2018-02-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/02
Abstract: 本申请公开了一种沉积静电放电电流的校准装置和方法，解决了沉积静电放电电流的校准准确性的问题，所述装置包括被校准的沉积静电放电模拟器，放电靶，电阻，直流电压表，所述模拟器用于产生沉积静电放电电流，并向所述放电靶进行沉积静电放电；所述放电靶与所述电阻串联，用于接收所述模拟器产生的沉积静电并产生直流电流；所述电阻接地；所述直流电压表用于测量所述电阻的电压。所述方法包括以下步骤，调节高压产生器产生预定的沉积静电放电电流，记录所述电流表上的指示和直流电压表的指示；通过欧姆定律得到通过所述电阻的直流电流值；根据所述直流电流值对所述沉积静电放电电流值进行校准。本发明可以沉积静电放电电流进行精确校准。
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