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公开(公告)号：CN108857689A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810738698.5
申请日：2018-07-06
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B24B9/06
Abstract: 本发明实施例提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，包括：加工平台；设于所述加工平台上的承载晶片的研磨盘；驱动所述研磨盘转动的驱动机构；扣压固定在所述晶片上的晶片扣，所述晶片扣包括沉孔；以及按压在所述晶片扣上的按压机构；其中，所述按压机构包括可插入所述沉孔与所述晶片扣插接固定的顶针以及驱动所述顶针转动的第一转动机构。本发明提供一种精密石英晶体谐振器的倒边倒弧加工的装置，能够保证晶片研磨曲面稳定，保证设计符合性及外形对称性。并且可调节控制支撑杆、顶针以及晶片水平面等三者之间的相互垂直及固定关系，实现了晶片在研磨过程中始终保持研磨重心不变。
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公开(公告)号：CN105958961B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201610269557.4
申请日：2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种石英谐振器的制作方法，包括：通过将上下电极与石英晶片悬离，消除金属膜附着在石英晶片表面所产生的内应力，同时也排除了由于蒸镀或溅镀时使用的真空油泵散发的油气对石英晶片产生污染引起的石英谐振器输出频率不稳定。同时在封装是采用真空技术，将石英晶片内部的水、氧化物等杂质排出，有效降低外界环境对石英晶片的影响，提高石英谐振器输出频率的稳定性。
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公开(公告)号：CN108037356A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711162178.6
申请日：2017-11-21
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/02
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器频率监测系统及方法。本发明包括主控单元，所述主控单元连接有频率计数单元、变温单元、供电单元，所述频率计数单元连接有测试单元，所述主控单元用于向各连接设备输出控制参数，所述变温单元用于在主控单元输出的测试温度循环参数控制下给待监测振荡器提供变温条件；所述供电单元用于给测试单元提供测试电压；所述测试单元用于对待监测振荡器变温条件下频率进行监测；所述频率计数单元用于检测所述测试单元中待监测振荡器的实时频率参数并反馈至主控单元，主控单元计算频率突跳量，当突跳量达到限定值时，触发频率计数单元对频率进行计数，实现了在变温条件下对晶体振荡器的连续频率监测。
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公开(公告)号：CN119862863A
公开(公告)日：2025-04-22
申请号：CN202411910988.5
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种老化监测数据统计方法及装置，包括：将同批产品的老化监测数据以指定排列方式输入表格文件；根据产品标称频率、产品批次号和产品型号对表格文件命名，并将命名后的表格文件放入指定文件夹；判断第一选择是单批产品还是多批产品；当第一选择为单批产品时，从第一指定表格文件中提取至少一个指定产品的老化监测数据绘制第一折线图和第二折线图；当第一选择是多批产品时，从所有第二指定表格文件中提取所有产品的时间和产品频率绘制第一折线图，并从第二选择中提取所有产品的产品编号和老化率绘制第二折线图。本发明提供了一种老化监测数据统计方法及装置，用以解决现有技术中存在的老化监测数据分析举步维艰等问题。
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公开(公告)号：CN119827868A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411965407.8
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及石英晶体元器件测试领域，尤其涉及一种用于SMD封装晶体振荡器耐辐照性能批量测试实现装置，用以解决现有技术中无法批量检测以及测试效率低下的问题。本发明包括：上电部分上安装有多个待测试的SMD封装晶体振荡器，并为所述SMD封装晶体振荡器提供电连接和输出信号传输通路；所述耐辐照防护部分设置在所述上电部分的下方，并覆盖在监测控制部分的上方，用于为监测控制部分隔离电离辐射；所述监测控制部分设置在所述耐辐照防护部分的下方，并嵌入式安装在固定部分内；所述上电部分、所述耐辐照防护部分和所述固定部分可拆卸固定连接。本发明实现了SMD封装晶体振荡器的高效批量性能测试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117985326A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311864793.7
申请日：2023-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种用于DIP14型晶体振荡器的防静电移载工具及移载方法，DIP14型晶体振荡器在长度方向上的两侧具有突出部，移载工具包括顶板、第一侧板和第二侧板；第一侧板和第二侧板分别位于顶板的两侧，并与顶板形成长方体中空结构，长方体中空结构用于水平容纳DIP14型晶体振荡器；第一侧板和第二侧板的底部设置有向长方体中空结构内部延伸的相互配对的卡槽，卡槽用于承载突出部。通过顶板、第一侧板和第二侧板形成长方体中空结构以水平容纳DIP14型晶体振荡器，并在第一侧板和第二侧板上设置相互配对的卡槽来承载DIP14型晶体振荡器的突出部，避免在移载DIP14型晶体振荡器时手动接触DIP14型晶体振荡器而造成污染、划伤和静电损伤。
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公开(公告)号：CN112698172B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202011359773.0
申请日：2020-11-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开一种电老炼实现装置和方法，解决现有装置和方法对产品进行间歇式电信号激励及电老炼批量不足的问题。一种电老炼实现装置，用于分立式晶体滤波器，包含：晶振加电模块和滤波器测试模块；所述晶振加电模块，用于产生与待测分立式晶体滤波器中心频率相同的正弦波激励信号；所述滤波器测试模块，用于接收所述正弦波激励信号，输出滤波信号，所述滤波信号用于高温电老炼测试。所述方法使用所述装置。本发明可实现分立式晶体滤波器批量化高温电老炼测试。
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公开(公告)号：CN114448373A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111559786.7
申请日：2021-12-20
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种晶体振荡器上架点胶工艺方法，其特征在于，包括以下步骤：S10：搅拌导电胶；S30：使用搅拌好的导电胶按照装配参数进行石英振子的装配，形成晶体振荡器；S50：对所述晶体振荡器进行导电胶的固化；S70：清洗导电胶固化完毕的晶体振荡器。本发明解决了表贴晶体振荡器内部传统两点式的石英振子的装配方法而引起的抗冲击性能较低的问题，使得晶体振荡器的抗冲击性能达到较高水平，满足了电子设备对晶体振荡器小型化、高抗冲击、高可靠方面的需求。
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公开(公告)号：CN117097292A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311139496.6
申请日：2023-09-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种具有电性能参数测试数据存储功能的晶体振荡器，包括基座；配置于基座上的石英晶体谐振器；配置于基座上的存储芯片，用以存储电性能参数测试数据；以及与基座结合固定的盖体；所述盖体与基座形成用以容纳石英晶体谐振器和存储芯片的密闭腔体。该晶体振荡器在具有传统晶体振荡器的优良特性的同时还具有电性能参数测试数据及生产加工信息存储功能。
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公开(公告)号：CN116232229A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202211092750.7
申请日：2022-09-08
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于晶体振荡器设计技术领域，具体公开了一种温补晶体振荡器的温度补偿方法及晶体振荡器。温度补偿方法包括：测量温补晶体振荡器中晶体谐振器的工作温度信号；根据工作温度信号和预先确定的目标标称频率温度曲线，生成频率控制信号，并利用频率控制信号控制晶体谐振器的振荡频率；其中，目标标称频率温度曲线为，通过对晶体谐振器的初始标称频率温度曲线添加线性补偿线段进行线性补偿后获得，初始标称频率温度曲线由多项式补偿函数发生器对晶体谐振器的频率偏移进行补偿获得。本发明解决了相关技术中温度补偿的补偿精度依然较低的难题。
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