一种多狭缝极紫外光谱日冕仪光学结构

    公开(公告)号:CN117433628A

    公开(公告)日:2024-01-23

    申请号:CN202311373294.8

    申请日:2023-10-23

    Abstract: 本发明公开了一种多狭缝极紫外光谱日冕仪光学结构,包括:外遮掩系统,用于将日面成像反射出日冕仪系统,以减小杂光的影响;光谱成像光学系统,采用离轴两反射式结构,减小日冕极紫外辐射损耗;杂光抑制系统,用于消除结构中边缘产生的衍射杂光;成像系统,用于对日冕微弱紫外辐射的高灵敏成像;多狭缝装置,设置在所述光谱成像光学系统中。本发明的多狭缝极紫外光谱日冕仪光学结构,用于在内日冕区域、极紫外波段宽温度范围内同时实现大视场的空间、光谱、时间高分辨率观测。

    基于电光调制的旋叶式表面电位测量装置

    公开(公告)号:CN106970273A

    公开(公告)日:2017-07-21

    申请号:CN201710201796.0

    申请日:2017-03-30

    Abstract: 本发明公开了一种基于电光调制的旋叶式表面电位测量装置,包括激光器、光纤、电光调制器、旋转叶片、固定叶片等,当对被测表面进行电位测量时,在被测带电体的作用下,当接地旋转叶片旋转时,周期性地遮盖或打开固定叶片,使固定叶片感应出持续的交流信号,并输出至电光调制系统进行检测,激光器发出的光传输至电光调制器,经由所加载的交流信号调制后传输至光电探测器转换为电信号,最终通过信号显示输出装置将电信号进行输出观测,并通过计算最终获得被测物体表面的电位值。本发明将旋叶式测量方法与集成光波导技术相结合,最终实现高灵敏度、高稳定度和高精度的表面电位测量。

    一种用于电离层光度计的干扰光消除结构及控制方法

    公开(公告)号:CN111765971A

    公开(公告)日:2020-10-13

    申请号:CN202010646316.3

    申请日:2020-07-07

    Abstract: 本发明涉及一种用于电离层光度计的干扰光消除结构,包括电离层光度计反射镜、短波滤光片、分光滤光片、目标光谱探测器、长波干扰光探测器,所述电离层光度计反射镜汇聚的电离层夜气辉辐射光线,首先通过短波滤光片,再通过分光滤光片分光,通过分光滤光片的一部分反射光汇聚到目标光谱探测器,另一部分透射光汇聚到长波干扰光探测器,形成目标光谱信号及干扰光信号两个独立光路,并能同时获取目标光谱信号能量值和干扰光信号能量值。能代替电离层光度计中转动轮滤光方式的滤光系统,从而消除测量错误,实现电离层夜气辉目标光谱信号的准确探测;同时,电机及转动轮结构的去除,也会减少需要的重量、尺寸、功耗资源,降低控制电路的复杂程度。

    空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统

    公开(公告)号:CN109708750A

    公开(公告)日:2019-05-03

    申请号:CN201811509021.0

    申请日:2018-12-11

    Abstract: 本发明公开了一种适用于空间电离层远紫外探测器灵敏度标定系统,该系统中,光源发出的光经过单色仪入射到真空系统中的匀化光学系统,形成准直均匀光束,入射到漫反射板上,漫反射板两侧设置标准探测器和电离层远紫外探测器,漫反射后的光线分别进入标准探测器和电离层远紫外探测器,通过数据采集系统获得数值结果,电离层远紫外探测器的计数值结果与光谱辐亮度瑞利值的比值,即获得电离层远紫外探测器的灵敏度。本发明的标定系统,结构简单,容易搭建,且能够减小远紫外光的能量损失,提高出射光线的均匀性,提高了光谱辐亮度瑞利值标值测试结果的准确性。

    全日面多级太阳极紫外光谱成像方法

    公开(公告)号:CN108680253A

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201810323272.3

    申请日:2018-04-11

    CPC classification number: G01J3/2823

    Abstract: 本发明公开了一种全日面多级太阳极紫外光谱成像方法,该方法通过入光口的光线被离轴抛物面反射镜聚焦在系统焦面上,系统焦面处设置极紫外变间距光栅,聚焦后的太阳极紫外辐射经过极紫外变间距光栅色散后分别由五个级次的探测器接收,其中四个探测器接收的图像发生过色散,中间的一个探测器接受的图像未发生色散,使得空间信息直接从未发生色散的那个级次得到,而光谱信息则需要根据五个级次成像的反演结果得出。本发明可实现全日面空间和光谱信息同时观测,适合观测CME等大范围动态太阳活动,可以获得太阳爆发的速度信息,为空间天气和空间环境研究提供新的手段。

    辐照试验的控温方法
    30.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102455715B

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201010512684.5

    申请日:2010-10-20

    Abstract: 本发明公开了一种辐照试验中的样品温度控制方法,该方法利用高反光、高导热材料制成的反光片遮挡固定样品的靶台,同时靶台与反光片之间使用隔热材料支撑,且使反光片通过导热桥与低温结构相连,及时将反光片获得的热量传导出去。通过这种方法最大限度减弱了靶台被加热的效果,降低了温控系统的负荷,利用有限的控温能力保证了样品的理想温度,解决了在辐照源加热作用强烈的试验中样品温度容易过高的问题。

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