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公开(公告)号：CN204377315U
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201520068875.5
申请日：2015-01-30
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: H05K7/20
Abstract: 本实用新型属于飞行器密闭舱体技术领域；具体涉及一种能够确保高温密闭舱体内电子设备长时间正常工作的高温密闭舱内电子设备的被动热控系统；包括金属舱壁(1)、电子设备隔热温控组件A(2)、电子设备隔热温控组件B(3)、铝箔(4)、隔热层(6)、隔热垫A(7)及隔热垫B(8)，其中所述高温密闭舱为金属舱壁(1)围成的中空封闭舱体，所述金属舱壁(1)内表面设有一层隔热层(6)，隔热层内表面设有一层铝箔(4)，所述电子设备隔热温控组件A(2)与底部金属舱壁(1)之间设有两个隔热垫A(7)，所述电子设备隔热温控组件B(3)与底部金属舱壁(1)之间设有两个隔热垫B(8)。
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公开(公告)号：CN119918186A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202510166423.9
申请日：2025-02-14
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Inventor： 杨光 , 解向前 , 高扬 , 张亮 , 迟蓬涛 , 周禹 , 陈燕扬 , 于明星 , 陈敏 , 尘军 , 王国梁 , 刘宇航 , 谢佳 , 刘逸章 , 王振峰 , 王永海 , 孟举 , 李哲文
IPC: G06F30/15 , G06F30/20 , G06F119/08
Abstract: 本发明公开一种气动热烧蚀匹配耦合仿真设计方法，S1、针对未烧蚀的飞行器外形，选取飞行轨道典型状态点计算来流条件，仿真不同类型热防护材料搭接部位的热环境；S2、开展烧蚀仿真分析确定搭接部位两侧的烧蚀量和烧蚀轮廓，计算两侧材料初次烧蚀匹配台阶高度h0；S3、估算烧蚀恶化因子，在h0的基础上估算烧蚀恶化效应后的烧蚀匹配台阶高度H；在此开展烧蚀台阶外形建模，得到带有局部烧蚀台阶外形的飞行器外形；S4、重新生成飞行器表面与外流场网格，开展三维气动热仿真设计，给出材料搭接部位的热环境；S5、再次开展烧蚀仿真分析，计算二次烧蚀匹配台阶高度h1；S6、对比h1与H，确认S3中估算烧蚀量包络飞行试验烧蚀量后仿真结束。
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公开(公告)号：CN113515804B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202110350567.1
申请日：2021-03-31
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
IPC: G06F30/15 , G06F30/17 , G06F30/23 , G06F30/25 , G06F119/08
Abstract: 本发明涉及一种飞行器热密封结构内部流动传热的确定方法：每个计算周期执行：计算实际飞行条件下飞行器整体的周边流场，并获取所关注热密封结构的边界层内空间流场的物理参数；建立以“外部流场空间、热密封结构流道、飞行器内腔及出口”为边界的热密封结构有限元空间流场计算模型；将所关注热密封结构的边界层内空间流场的物理参数，作为外部流场输入条件，代入热密封结构有限元空间流场计算模型，采用DSMC方法，计算得到所关注热密封结构的内部空间流场的物理参数，直至流场稳定；如果所得DSMC方法计算结果不具备有效性，则对DSMC计算模型进行修正并续算至流场稳定，重复前一步过程直至DSMC方法计算结果具备有效性。
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公开(公告)号：CN115308354A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210910104.0
申请日：2022-07-29
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本申请涉及催化特性测量的领域，公开了一种材料催化特性测量装置，包括外壳体；绝缘套，连接于外壳体内；安装头，设置两个，两个安装头均连接于绝缘套内；敏感片，设置两个，两个敏感片分别连接于两个安装头的端部，且两个敏感片、与绝缘套和外壳体的一端相平齐；热电偶，设置两个，两个热电偶分别插入两个安装头内，且分别连接于两个敏感片。克服现有电子密度数测量装置只适用于地面静场环境的局限性，提供一种适应高马赫、高温非平衡气动热环境下的结构表面材料催化效应的装置。本申请保证不同材料处于同一个高温非平衡气动热流场中进行催化系数测量，保证了后续不同材料催化效果比对的准确性，为后续飞行器设计提供了有力的数据支撑。
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公开(公告)号：CN115308039B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202210814838.9
申请日：2022-07-11
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种硅基材料收缩变形量在线测量装置及方法，其中，该装置包括：承载面板、第一隔热块、第二隔热块、第一金属工装、第二金属工装、辐射加热器、液压压头、第三温度传感器、第四温度传感器、第一位移传感器和第二位移传感器；其中，第一金属工装和第二金属工装并行排列；第一隔热块设置于第一金属工装的上表面，第二隔热块设置于第二金属工装的上表面；承载面板的一端设置于第一隔热块的上表面，承载面板的另一端设置于第二隔热块的上表面；辐射加热器放置于承载面板的下部；硅基材料试件设置于承载面板的上表面；液压压头压在硅基材料试件的上表面。本发明能够真实地获取硅基材料飞行过程中的收缩变形情况。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115308039A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210814838.9
申请日：2022-07-11
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种硅基材料收缩变形量在线测量装置及方法，其中，该装置包括：承载面板、第一隔热块、第二隔热块、第一金属工装、第二金属工装、辐射加热器、液压压头、第三温度传感器、第四温度传感器、第一位移传感器和第二位移传感器；其中，第一金属工装和第二金属工装并行排列；第一隔热块设置于第一金属工装的上表面，第二隔热块设置于第二金属工装的上表面；承载面板的一端设置于第一隔热块的上表面，承载面板的另一端设置于第二隔热块的上表面；辐射加热器放置于承载面板的下部；硅基材料试件设置于承载面板的上表面；液压压头压在硅基材料试件的上表面。本发明能够真实地获取硅基材料飞行过程中的收缩变形情况。
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公开(公告)号：CN115499990B
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202210910105.5
申请日：2022-07-29
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本申请涉及离子体密度测量的领域，具体公开了一种耐高温等离子体密度测量装置，包括外壳体；绝缘套，设置于外壳体内部；电极，设置两个，两个电极插设于绝缘套内；电极、绝缘套、外壳体的端部齐平；电极与绝缘套、外壳体与绝缘套之间的热膨胀系数差不大于2×10‑6。克服现有电子密度数测量装置只适用于地面静场环境的局限性，能够在高温环境下持续使用上千秒。
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公开(公告)号：CN115377673B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202211035764.5
申请日：2022-08-26
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于等离子体密度诊断的天线，双层Vivaldi天线设于双层基板表面，馈电条夹在双层基板之间，Vivaldi天线基板和馈电条垂直于反射器接地板设置。本发明天线可满足小型化要求，适用于微波反射法的在线等离子体诊断。本发明还公开了一种反射数据标定方法，利用无等离子体时的反射数据对等离子体反射数据进行标定，有效排除天线盖板及外部环境等因素的干扰，得到能够准确诊断等离子体密度的真实反射系数。
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公开(公告)号：CN116600207A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310436215.7
申请日：2023-04-21
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种高速飞行器不同背景环境下观测固定目标的方法。在一种方式中，设定信号增益、曝光时间、曝光系数以及灰阶设定，并在整流罩关闭状态和开启状态中获取固定目标的图像；信号增益为自动增益，信号增益的设置范围为10dB～15dB，曝光时间为自动曝光，图像中对应地球背景区域的曝光系数为0～2，图像中对应固定目标的区域的曝光系数为6～15，灰阶为50～60。在另一种方式中，根据当前飞行器状态确定图像获取参数，并根据图像获取参数在当前飞行器状态下获取固定目标的图像。通过对摄像装置观测区域的曝光以及信号增益进行适当设置，结合目标发射率确认的灰阶，实现高速飞行器在不同背景环境下观测固定目标图像的获取。
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公开(公告)号：CN115643664A
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN202211177046.1
申请日：2022-09-26
Applicant: 北京临近空间飞行器系统工程研究所
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明公开了一种等离子体密度采样系统，电源变换模块将由供电模块输入的第一电压信号转换为预定峰值的第二电压信号；三角波变换模块将第二电压信号转换为用于驱动探针的三角波驱动电压信号，并驱动探针产生探测电流，将探针的探测电流转换为电压信号，将转换后的电压信号输出至信号调理模块；信号调理模块将探测电流转换后的电压信号调理为1～5V的第三电压信号；采集及频率调节模块对第三电压信号按照设定的采样频率进行采样，得到采样电流信号。本发明还公开了一种等离子密度采样方法，根据探测电流调整采样频率。本发明应用于真实飞行环境下的等离子体密度测量，可以适应10e10cm‑3至10e14cm‑3范围的等离子体密度测量。
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