场效应晶体管
    23.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101796644B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN200880105254.2

    申请日:2008-08-29

    CPC classification number: H01L29/7869 C23C14/086 H01L29/78606

    Abstract: 提供一种场效应晶体管,该场效应晶体管包含栅电极(15)、源电极(13)、漏电极(14)和沟道层(11),以通过向栅电极(15)施加电压控制在源电极(13)和漏电极(14)之间流动的电流。沟道层(11)由包含In和Si并且具有不小于0.05且不大于0.40的由Si/(In+Si)表示的成分比的非晶氧化物构成。

    场效应晶体管和显示器
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101897030B

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN200880120014.X

    申请日:2008-12-02

    CPC classification number: H01L29/7869 C23C14/086

    Abstract: 一种场效应晶体管至少包括沟道层、栅绝缘层、源极电极、漏极电极和栅极电极。沟道层由至少包含In和Mg的非晶氧化物材料形成,非晶氧化物材料的通过Mg/(In+Mg)表达的元素比为大于等于0.1且小于等于0.48。

    场效应晶体管和显示器
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102394248A

    公开(公告)日:2012-03-28

    申请号:CN201110374817.1

    申请日:2008-12-02

    CPC classification number: H01L29/7869 C23C14/086

    Abstract: 本发明涉及场效应晶体管和显示器。所述场效应晶体管至少包括沟道层、栅绝缘层、源极电极、漏极电极和栅极电极。所述沟道层由包含In和Al的非晶氧化物材料In-Al-O形成。所述非晶氧化物材料的通过Al/(In+Al)表达的元素比为大于等于0.15且小于等于0.45。

    氧化物场效应晶体管
    27.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101897030A

    公开(公告)日:2010-11-24

    申请号:CN200880120014.X

    申请日:2008-12-02

    CPC classification number: H01L29/7869 C23C14/086

    Abstract: 一种场效应晶体管至少包括沟道层、栅绝缘层、源极电极、漏极电极和栅极电极。沟道层由至少包含In和Mg的非晶氧化物材料形成,非晶氧化物材料的通过Mg/(In+Mg)表达的元素比为大于等于0.1且小于等于0.48。

    场效应晶体管
    28.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101796644A

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN200880105254.2

    申请日:2008-08-29

    CPC classification number: H01L29/7869 C23C14/086 H01L29/78606

    Abstract: 提供一种场效应晶体管,该场效应晶体管包含栅电极(15)、源电极(13)、漏电极(14)和沟道层(11),以通过向栅电极(15)施加电压控制在源电极(13)和漏电极(14)之间流动的电流。沟道层(11)由包含In和Si并且具有不小于0.05且不大于0.40的由Si/(In+Si)表示的成分比的非晶氧化物构成。

    无定形氧化物和场效应晶体管

    公开(公告)号:CN101681922A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200880017454.2

    申请日:2008-05-22

    CPC classification number: H01L29/7869 H01L29/247

    Abstract: 在场效应晶体管中,该场效应晶体管的沟道层包括无定形氧化物,该无定形氧化物包括In、Zn、N和O,该无定形氧化物中的N对N和O的原子组成比(N/(N+O))大于或等于0.01原子百分比并且小于或等于3原子百分比,并且该无定形氧化物不包括Ga,或者,在该无定形氧化物包括Ga的情况下,该无定形氧化物中包含的Ga原子的数量小于N原子的数量。

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