一种等离子体发生器校准系统

    公开(公告)号:CN111315106A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN202010203562.1

    申请日:2020-03-20

    Abstract: 本申请提供了一种等离子体发生器校准系统。所述等离子体发生器校准系统包括:第一真空校准系统,所述第一真空校准系统用于校准标准量传装置以及标准探针;第二真空校准系统,所述第二真空校准系统与所述第一真空校准系统连通,其内设置有待校准等离子体发生器;其中,所述第二真空校准系统用于使用经过所述第一真空校准系统校准后的标准量传装置对所述待校准等离子体发生器进行校准。采用本申请的等离子体发生器校准系统,通过第一真空校准系统以及第二真空校准系统的组合,满足校准的同时,提供了一种高效的等离子体校准与舱室压力调节形式,在保证设备易用性、经济性的前提下,提升校准平台在校准电推进器过程的效率与灵活性。

    一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114245554A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111465016.6

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法,多点测量装置,包括:真空舱;与所述真空舱相连接的真空泵单元;与所述真空泵单元相连接的工控单元,用于提供并维持所述真空舱的真空环境;以及测量单元;所述测量单元包括:至少两个设置在所述真空舱内的三维移动平台;设置于所述三维移动平台上的探测结构;与所述探测结构连接,用于采集数据的采集单元;探测结构采用朗缪尔探针、RPA探针或Faraday探针。本发明可以提高等离子体测量效率、能够连续测量羽流多点对称性,打破朗缪尔探针使用的局限性、屏蔽探针电路中的误差干扰,同时,本发明的多点测量装置结构简单、稳定可靠,实用性强。

    TDLAS温度测量与校准用真空腔

    公开(公告)号:CN103134773B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201310048774.7

    申请日:2013-02-06

    Abstract: TDLAS温度测量与校准用真空腔,其特征在于,包括通过透射镜片隔开的上真空室和下真空室,所述下真空室的底部设置有反射镜片,所述下真空室的侧壁分别设置有试验气体充气口和真空获得系统接口,所述试验气体充气口连接第二充气阀,所述真空获得系统接口连接第二隔断阀,所述上真空室分别内设有准直器安装架和光电探测器安装架,所述上真空室的侧壁分别设置有光纤引入口、抽真空口和氩气充气口。

    一种真空下温度传感器校准用均温系统

    公开(公告)号:CN103115699B

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201310048769.6

    申请日:2013-02-06

    Abstract: 一种真空下温度传感器校准用均温系统,所述均温系统既可以实现热辐射式测温,又可以实现热传导式测温,从而有利于实现真空下温度传感器校准,其特征在于,包括恒温槽,所述恒温槽内有恒温介质,所述恒温槽的槽口上设置有覆盖所述槽口的吊固平台,所述吊固平台将均温真空室吊装固定在所述恒温槽内的恒温介质中,所述均温真空室的上方与弯管的一端连接,所述弯管从所述吊固平台穿越,所述弯管的另一端设置有连接真空抽气系统的接口,所述均温真空室的外壁设置有铜管,所述铜管的底端被封堵,所述铜管的顶端穿越在所述吊固平台之外,所述均温真空室内设置有绝热传感器固定支架。

    全自动磁性表座磁力检测装置

    公开(公告)号:CN103115714A

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201310048775.1

    申请日:2013-02-06

    Abstract: 全自动磁性表座磁力检测装置,采用该检测装置能够避免磁性表座不合格时可能对检测人员产生的伤害,其特征在于,包括机箱,所述机箱内具有竖立设置的底板,所述底板的上部固定有电机,所述电机通过螺杆往下连接拉力传感器,所述拉力传感器通过活动悬挂组件连接磁性表座固定机构,所述磁性表座固定机构的下方设置有磁性表座工作磁力吸附平台,所述磁性表座工作磁力吸附平台为角铁结构的一个平面,所述角铁结构的另一面与所述底板的下部通过螺栓紧固连接。

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