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公开(公告)号：CN119722735A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411654012.6
申请日：2024-11-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于多狭缝高光谱数据的动目标信息检测方法，解决了现有技术难以精准获取动目标的形态信息与运动信息的问题；本发明针对动目标在不同狭缝获取的高光谱数据中的成像位置差异，通过数据差分、模板匹配获取目标运动区域及运动信息，并通过运动信息对目标形态的采样修正及形态与运动信息的迭代反馈运算，实现动目标运动信息及形态信息的精准获取。
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公开(公告)号：CN115342917B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202211053410.3
申请日：2022-08-31
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于子视场拼接的紧凑型大视场光谱成像系统，解决了现有的光谱成像系统难以同时实现增大视场并减小体积，而且还具备高像质及高稳定性的技术问题。具体包括N片探测器组成的探测器阵列和N个光谱成像单元，N≥2；N片探测器位于同一平面内且设置为相对交错排列的两列探测器；N个光谱成像单元与N片探测器一一对应设置；每个探测器与对应的光谱成像单元形成一个子视场光谱成像模块；光谱成像单元包括狭缝、透镜组和色散元件；入射光线透过狭缝后经所述透镜组准直，准直后的入射光线经色散元件色散反射后形成反射光线，反射光线再次入射至透镜组，经透镜组成像后入射至对应的探测器；透镜组的焦距与色散元件的刻线密度匹配。
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公开(公告)号：CN118960955A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411014370.0
申请日：2024-07-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及光谱成像方法，具体涉及基于复合多狭缝的光谱仪及其成像方法，为解决现有多狭缝技术中存在局部弱光区无法获得足够的增益效果，信噪比难以提高的不足之处。本发明基于复合多狭缝的光谱仪包括探测器、分光系统和设置在分光系统入射端的狭缝组件，狭缝组件包括并列设置在同一平面的N条完整色散狭缝以及M条局部色散狭缝，其中轴线位于同一平面；N条完整色散狭缝相邻设置，M条局部色散狭缝相邻设置；相邻完整色散狭缝的间距为n+1个像元尺寸；相邻局部色散狭缝间距为m+1个像元尺寸；同时还提供基于上述光谱仪的成像方法，将N+M个光谱数据线性相加，得到待测目标的光谱仪成像数据，从而增强弱光光谱区间的信噪比。
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公开(公告)号：CN115793238A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211670779.9
申请日：2022-12-23
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B27/00
Abstract: 本发明涉及一种成像系统杂散光系数确定方法，具体为一种杂散光系数仿真方法。解决当仿真系统中杂散光光源为有限个离散的点光源时，现有杂散光系数计算方法无法适用的问题，首先在仿真软件中，建立仿真模型；仿真模型包括光源、被测光学系统和像面；光源由位于同一平面内、具有不同法方向的多个栅格光源组成；其次，获得点源透过率矩阵；最后基于点源透过率矩阵获得杂散光系数。以现有理论公式为基础，利用仿真得到的到离散点组成的点源透过率矩阵，计算光学系统杂散光系数，在设计阶段成像系统不具备实际测试条件时，可利用此方法仿真光学系统视场外的杂散光系数。
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公开(公告)号：CN114964493A
公开(公告)日：2022-08-30
申请号：CN202210417669.5
申请日：2022-04-20
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种星载曲面棱镜色散型光谱仪系统及装配方法，以解决目前现有的光谱仪系统支撑稳定性低以及如何实现对曲面棱镜的空间位置和姿态快速装调的技术问题。本发明的光谱仪系统包括基板、基板上的精测镜组件和沿光线入射光路依次设置的狭缝入射组件、同轴镜组组件、偏轴曲面棱镜组件、偏轴凹面反射镜组件、出射棱镜组件以及探测器组件。光线经光学狭缝入射进光谱仪系统，经入射棱镜折转光路后进入同轴镜组，经同轴镜组透射后进入偏轴曲面棱镜，经偏轴曲面棱镜分光后，再经偏轴凹面反射镜反射，后依次反向经过偏轴曲面棱镜和同轴镜组，实现光路复用；反向经同轴镜组透射后再经出射棱镜折转，后进入探测器，实现光谱成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113777766B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202110896071.4
申请日：2021-08-05
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G02B17/06
Abstract: 本发明涉及一种替代同轴三反系统对高光谱成像分系统调试用光学系统，其目的是解决在轨测试之前，现有技术尚无可代替前置物镜，对高光谱成像系统的后续各分系统进行测试的光学系统的技术问题。该系统包括物面a和像面b，及二者间沿光路依次设置的光阑、调焦镜、第一球面反射镜、第二球面反射镜、第三球面反射镜、第四球面反射镜和平面反射镜；调焦镜和第一球面反射镜与原同轴三反系统的调焦镜及其前一片球面反射镜的结构和参数一致；第二球面反射镜、第三球面反射镜和第四球面反射镜的光焦度符号相同，与平面反射镜形成折叠式离轴三反系统代替原同轴三反系统中的其余镜片；物面a位于原同轴三反系统的像面处，像面b模拟无穷远物体作为成像物面。
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公开(公告)号：CN107238438A
公开(公告)日：2017-10-10
申请号：CN201710384345.5
申请日：2017-05-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/2823 , G01J2003/451 , G01J2003/452
Abstract: 本发明属于干涉光谱技术领域，具体涉及一种多普勒差分式干涉仪的装调方法。该方法主要包括建立系统基准、装调分光棱镜、装调视场展宽棱镜和装调光栅等步骤。本发明通过将两个经纬仪与激光器相结合，可以直接有效地获得接近设计要求的干涉仪安装方式，从而得到精确的干涉条纹信息。
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公开(公告)号：CN107238437A
公开(公告)日：2017-10-10
申请号：CN201710438660.1
申请日：2017-06-12
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823
Abstract: 本发明具体涉及一种自动对焦高光谱成像仪，解决了现有的高光谱成像仪物镜对焦过程繁琐、对焦准确性低的问题。其包括高光谱成像系统和自动对焦系统；高光谱成像系统包括物镜、狭缝、光谱仪系统和探测器；自动对焦系统包括反射平板、对焦成像透镜组、自动对焦探测器、液晶显示系统、数据处理驱动模块和驱动装置；反射平板设置在物镜与狭缝之间的光路下方，对焦成像透镜组设置在成像光线经反射平板反射后的光路上，对焦成像透镜组的像面上安装自动对焦探测器，自动对焦探测器分别与液晶显示系统、数据处理驱动模块连接，数据处理驱动模块控制驱动装置带动物镜前后调焦移动。本发明简化了高光谱成像仪物镜的对焦过程，提高了对焦的准确性。
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公开(公告)号：CN119715405A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411654009.4
申请日：2024-11-19
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明公开了一种多狭缝高光谱图像数据的像移检测修正方法，解决了现有技术中尚未见针对多狭缝高光谱数据间各像元像移差异的检测方法，制约了多狭缝高光谱成像系统优势的体现及其数据高质量应用的问题，本发明将多狭缝高光谱数据间各像元的像移量看作各图像的像移量，各像元像移量之间存在连续性，利用纵横两方向上不同的像移连续性约束HS稠密光流法实现各像元像移量的检测修正，而后基于多狭缝高光谱成像系统的畸变像移偏差、平台运动引起的成像像移偏差对通过HS稠密光流法计算得到的光流数值进行修正，剔除异常光流数值，通过线性差值计算结果补充被剔除像元位置的光流数值，得到多狭缝高光谱数据各像元的最终像移量。
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公开(公告)号：CN114964493B
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202210417669.5
申请日：2022-04-20
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种星载曲面棱镜色散型光谱仪系统及装配方法，以解决目前现有的光谱仪系统支撑稳定性低以及如何实现对曲面棱镜的空间位置和姿态快速装调的技术问题。本发明的光谱仪系统包括基板、基板上的精测镜组件和沿光线入射光路依次设置的狭缝入射组件、同轴镜组组件、偏轴曲面棱镜组件、偏轴凹面反射镜组件、出射棱镜组件以及探测器组件。光线经光学狭缝入射进光谱仪系统，经入射棱镜折转光路后进入同轴镜组，经同轴镜组透射后进入偏轴曲面棱镜，经偏轴曲面棱镜分光后，再经偏轴凹面反射镜反射，后依次反向经过偏轴曲面棱镜和同轴镜组，实现光路复用；反向经同轴镜组透射后再经出射棱镜折转，后进入探测器，实现光谱成像。
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