-
公开(公告)号：CN120010102A
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202510312613.7
申请日：2025-03-17
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统，具体涉及一种基于自由曲面共用缩束镜的可见红外双波段折反光学系统，解决现有存在全反射式对地遥感系统和折反式对地遥感光学系统难以满足紧凑性、杂散光、方便调节及大视场整体要求的技术问题。该系统包括沿光路依次设置的缩束单元、分色镜，以及设置在分色镜反射光路上的可见TDI成像透镜组、透射光路上的反射镜和红外TDI成像透镜组、可见切换反射镜和设置在可见切换反射镜反射光路上的可见面阵成像透镜组；缩束单元包括沿光路依次设置的主镜、次镜、折轴镜和三镜；主镜与次镜同轴布置；折轴镜的法线与系统光轴的夹角大于45°；三镜为自由曲面反射镜，其出射中心视场光线与主次镜轴垂直；分色镜设置在三镜的出射光路上。
-
公开(公告)号：CN110026389B
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN201910198870.7
申请日：2019-03-15
Applicant: 国网陕西省电力公司电力科学研究院 , 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 为解决传统高压电线搭接异物清除方式安全性低、维护成本高、清除效率低，以及现有CO2激光烧蚀简易装置不适用于远距离或异物较小时的清除的技术问题，本发明提供了一种基于双离轴抛物面镜组的CO2激光烧蚀装置。采用共轴分光镜组实现了CO2激光扩束聚焦系统、可见光摄相机及激光测距系统三路共轴，CO2激光扩束聚焦系统基于双离轴抛物面镜组，无中心遮拦，轻质且可满足大口径使用需求；可见光摄相机的光轴与CO2激光扩束聚焦系统的光轴保持共轴，能够确保烧蚀效果最佳；测距系统的光轴与CO2激光扩束聚焦系统的光轴保持共轴，能够确保调节调焦负透镜时，实现CO2激光的远距离聚焦；利用可见光摄像机结合二维旋转机构能实现异物目标的搜索、捕获和锁定。
-
公开(公告)号：CN110986830B
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN201911064430.9
申请日：2019-11-04
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种双光谱三维姿态角测量装置及测量方法，解决现有三维姿态角测量系统复杂、体积大以及测量精度较低，不符合航天领域测量要求的问题。该装置包括双光谱光源、二维自准直仪、图像传感器电路板、五棱分光棱镜、折转棱镜和数据处理模块；双光谱光源发射红绿光谱光束，该光谱光束经二维自准直仪的同一狭缝出射后入射至五棱分光棱镜，五棱分光棱镜将双光谱光束分成两路，第一光路光束穿过五棱分光棱镜直接入射至被测立方镜前表面，第二光路光束通过折转棱镜折转入射至被测立方镜的侧表面，两路光束原路反射，二维自准直仪的图像传感器对返回的光束进行分时成像，图像传感器电路板对图像进行采集，并传输给数据处理模块。
-
公开(公告)号：CN104748720B
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201510142143.0
申请日：2015-03-27
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01C1/00
Abstract: 本发明涉及一种空间测角装置及测角方法，该空间测角装置包括双光谱自准直仪以及折转系统；折转系统包括分光光学元件以及折转镜片；分光光学元件表面涂有分光膜且设置在双光谱自准直仪的出射光路上；分光光学元件将双光谱自准直仪的出射光分为透射光以及反射光，被测第一方位棱镜设置在分光光学元件的透射光所在光路上，折转镜片设置在分光光学元件的反射光所在光路上；被测第二方位棱镜设置在经折转镜片反射后的反射光所在光路上。本发明提供了一种能够方便、快速地对同一空间内不同平面上的两个方位角同时进行测量的空间测角装置及测角方法。
-
公开(公告)号：CN105674883A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610173197.8
申请日：2016-03-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及一种伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统，以解决现有光学系统在二维测量时长度尺寸易受限制的问题。本发明包括光源合作目标、伽利略望远镜组、分光镜组、柱面镜组、线阵CCD组；测量时，将被测物体与在光源合作目标固连；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第一柱面镜组变换为正交于第一线阵CCD的线像，完成X向的测量；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第二柱面镜组变换为正交于第二线阵CCD的线像，完成Y向的测量。本发明所提供的光学系统接近无焦，有效缩短了系统长度，使用方便。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102620688B
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201210080090.0
申请日：2012-03-23
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供了一种多功能光轴平行性校正仪以及标定该校正仪的方法，极大地降低了校正设备的制作安装成本，且可以灵活配置以适应不同的待校正多光轴系统的需求。该多功能光轴平行性校正仪包括分立的多个平行光管，所述多个平行光管与待校正多光轴系统的多个子系统一一对应；所述多个平行光管分别通过定位块固定安装于组合台上，定位块中设置有微调-锁紧装置。本发明避免了大口径非球面反射镜的加工风险和高额的费用，可以满足大光轴跨度的平行性校正的需求；可以采用针对性的光源和观测设备，因此在校正过程中不需要更换功能模块，操作简单有序，不需要反复调节。
-
公开(公告)号：CN102865834A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201210375629.5
申请日：2012-09-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种精度高、可靠性好的偶数窄缝式光电自准直仪。该偶数窄缝式光电自准直仪，包括在主光路上依次设置的单色光源（1）、窄缝组（2）、分光镜（3）、准直物镜（4）、可转动的平面反射镜（5）以及在分光镜分光光路上设置的线阵CCD（6），所述窄缝组（2）为偶数窄缝，偶数窄缝由多个等宽度且等间距的平行单狭缝组成，平行单狭缝的数目p为：p=2k，各平行单狭缝的间距为：本发明可广泛应用于高精度小角度精度测试，反射镜动静态小角度误差高精度测量、角位移传感器角度标校、光学平面冷加工件的小角度测量、高精度台面或工件的垂直度/平面度的高精度测量等。
-
公开(公告)号：CN102620688A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210080090.0
申请日：2012-03-23
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明提供了一种多功能光轴平行性校正仪以及标定该校正仪的方法，极大地降低了校正设备的制作安装成本，且可以灵活配置以适应不同的待校正多光轴系统的需求。该多功能光轴平行性校正仪包括分立的多个平行光管，所述多个平行光管与待校正多光轴系统的多个子系统一一对应；所述多个平行光管分别通过定位块固定安装于组合台上，定位块中设置有微调-锁紧装置。本发明避免了大口径非球面反射镜的加工风险和高额的费用，可以满足大光轴跨度的平行性校正的需求；可以采用针对性的光源和观测设备，因此在校正过程中不需要更换功能模块，操作简单有序，不需要反复调节。
-
公开(公告)号：CN209728313U
公开(公告)日：2019-12-03
申请号：CN201920331298.2
申请日：2019-03-15
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 国网陕西省电力公司电力科学研究院
Abstract: 为解决传统高压电线搭接异物清除方式安全性低、维护成本高、清除效率低，以及现有CO2激光烧蚀简易装置不适用于远距离或异物较小时的清除的技术问题，本实用新型提供了一种基于双离轴抛物面镜组的CO2激光烧蚀装置。采用共轴分光镜组实现了CO2激光扩束聚焦系统、可见光摄相机及激光测距系统三路共轴，CO2激光扩束聚焦系统基于双离轴抛物面镜组，无中心遮拦，轻质且可满足大口径使用需求；可见光摄相机的光轴与CO2激光扩束聚焦系统的光轴保持共轴，能够确保烧蚀效果最佳；测距系统的光轴与CO2激光扩束聚焦系统的光轴保持共轴，能够确保调节调焦负透镜时，实现CO2激光的远距离聚焦；利用可见光摄像机结合二维旋转机构能实现异物目标的搜索、捕获和锁定。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
-
公开(公告)号：CN202885788U
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201220510586.2
申请日：2012-09-29
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种精度高、可靠性好的偶数窄缝式光电自准直仪。该偶数窄缝式光电自准直仪，包括在主光路上依次设置的单色光源（1）、窄缝组（2）、分光镜（3）、准直物镜（4）、可转动的平面反射镜（5）以及在分光镜分光光路上设置的线阵CCD（6），所述窄缝组（2）为偶数窄缝，偶数窄缝由多个等宽度且等间距的平行单狭缝组成，平行单狭缝的数目p为：p=2k，各平行单狭缝的间距为：本实用新型可广泛应用于高精度小角度精度测试，反射镜动静态小角度误差高精度测量、角位移传感器角度标校、光学平面冷加工件的小角度测量、高精度台面或工件的垂直度/平面度的高精度测量等。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
37
records
(took 0.036 seconds)
