公开(公告)号：CN115053124A

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN202180013126.0

申请日：2021-01-27

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 马燕婷 ,  M·A·罗迪 ,  H·曼苏尔 ,  P·布富诺斯 ,  刘德红

IPC: G01N22/00 ,  G01R27/26 ,  G06T11/00

Abstract: 提供了一种用于确定场景中的对象的材料的介电常数的分布的图像的介电常数传感器，该介电常数传感器包括输入接口、硬件处理器和输出接口。所述输入接口被配置为接受通过所述场景并且被所述场景中的对象的材料散射的已知入射场的传播的无相位测量。所述硬件处理器被配置为通过使已知入射场和未知图像的非线性函数与无相位测量的已知幅度和未知相位的乘积的差最小化来解决关于无相位测量的未知相位和对象的材料的介电常数的未知图像的多变量最小化问题。此外，所述输出接口被配置为呈现由所述多变量最小化问题的解提供的所述对象的材料的介电常数。

公开(公告)号：CN108603933B

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN201680078181.7

申请日：2016-12-20

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： U·卡米洛夫 ,  J·卡斯托雷纳 ,  P·布富诺斯

IPC: G01S7/497 ,  G01S17/04 ,  G01S17/894 ,  G01S17/93 ,  G01S13/86

Abstract: 一种用于融合具有不同分辨率的传感器的测量值的方法联合地执行所述传感器的校准和它们的测量值的融合，以生成限定所述传感器的坐标系之间的几何映射的校准参数以及具有一传感器的模态的融合测量值集，所述融合测量值集具有高于该传感器的分辨率的分辨率。所述校准和所述融合联合执行，以彼此依赖地更新所述校准参数和所述融合测量值集。

公开(公告)号：CN113454686A

公开(公告)日：2021-09-28

申请号：CN201980092685.8

申请日：2019-10-11

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： H·曼苏尔 ,  A·卡杜 ,  P·布富诺斯 ,  刘德红

IPC: G06T11/00

Abstract: 一种断层摄影成像系统接收由对象的内部结构散射的波场的频率集合处的测量结果，递归地重构对象的内部结构的图像，直到满足终止条件为止，并且渲染重构图像。对于当前迭代，该系统将频率添加到先前迭代期间使用的先前频率集合以产生当前频率集合，使得添加的频率高于先前频率集合中的任何频率，并且重构对象的内部结构的当前图像，该当前图像将在当前频率集合处测量的散射波场的一部分与从当前图像合成的波场之间的差最小化。在先前迭代期间确定的先前图像初始化当前图像的重构。

公开(公告)号：CN108603933A

公开(公告)日：2018-09-28

申请号：CN201680078181.7

申请日：2016-12-20

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： U·卡米洛夫 ,  J·卡斯托雷纳 ,  P·布富诺斯

IPC: G01S17/02 ,  G01S17/89 ,  G01S7/48 ,  G01S13/86

Abstract: 一种用于融合具有不同分辨率的传感器的测量值的方法联合地执行所述传感器的校准和它们的测量值的融合，以生成限定所述传感器的坐标系之间的几何映射的校准参数以及具有一传感器的模态的融合测量值集，所述融合测量值集具有高于该传感器的分辨率的分辨率。所述校准和所述融合联合执行，以彼此依赖地更新所述校准参数和所述融合测量值集。