公开(公告)号：CN104838550A

公开(公告)日：2015-08-12

申请号：CN201380063301.2

申请日：2013-10-01

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 森田大嗣 ,  桂智毅 ,  今野进 ,  藤川周一 ,  西田聪 ,  熊本健二 ,  宫本直树 ,  黑川裕章

IPC: H01S5/022 ,  H01S5/14 ,  H01S5/40 ,  G02B27/10

CPC classification number: H01S5/4062 ,  G02B3/06 ,  G02B19/0014 ,  G02B19/0057 ,  G02B27/0905 ,  G02B27/0911 ,  G02B27/0922 ,  G02B27/10 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/126 ,  G02B27/14 ,  G02B27/4233 ,  H01S5/022 ,  H01S5/14 ,  H01S5/143 ,  H01S5/40 ,  H01S5/4012 ,  H01S5/4087

Abstract: 具有：光束发散角度校正光学系统(3)，其对从半导体激光条(2)的发光点(1)产生的光束(11)的发散角度进行校正；光束旋转光学系统(4)，其使发散角度受到校正后的各光束(11)旋转；波长色散光学元件(5)，其具有波长色散功能；以及部分反射镜(6)，光束发散角度校正光学系统(3)相对于发光点(1)的在发散角度校正方向上的相对位置针对每个发光点(1)而变化。

公开(公告)号：CN103460125A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201280015298.2

申请日：2012-03-13

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 藤川周一 ,  今野进 ,  古田启介 ,  桂智毅

IPC: G02F1/37

CPC classification number: G02F1/37 ,  G02F1/3551 ,  G02F2001/354 ,  H01S3/0092 ,  H01S3/08054 ,  H01S3/08059 ,  H01S3/0815 ,  H01S3/082 ,  H01S3/0941 ,  H01S3/109 ,  H01S3/117 ,  H01S3/1611 ,  H01S3/1643

Abstract: 波长变换元件由单一的波长变换晶体100和第1反射面D面110以及第2反射面E面111等构成，该单一的波长变换晶体100满足用于将作为基波的波长1064nm的光变换为作为2次谐波的波长532nm的光的第1波长变换的第1相位匹配条件以及将波长532nm的光变换为作为4次谐波的波长266nm的光的第2波长变换的第2相位匹配条件这两者，第1反射面D面110以及第2反射面E面111等用于反射由第1波长变换产生的波长532nm的光并供给到第2波长变换。根据这样的结构，能够可靠性优异、并能以简单的结构高效地产生3次谐波以上的高次谐波。

公开(公告)号：CN101743740A

公开(公告)日：2010-06-16

申请号：CN200880024576.4

申请日：2008-03-26

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 河野裕之 ,  冈本达树 ,  桂智毅 ,  西前顺一

IPC: H04N1/19 ,  G02B3/00 ,  G02B5/10 ,  G02B27/50

CPC classification number: G03B27/50 ,  G02B3/005 ,  G02B5/10 ,  H04N1/02845 ,  H04N1/03 ,  H04N1/0305 ,  H04N1/0306 ,  H04N1/193 ,  H04N1/1934 ,  H04N1/1935

Abstract: 本发明提供一种景深大且小型的图像读取装置。这样的图像读取装置具有多个单元(13)和与各单元对应地设置且对成像后的像进行摄像的摄像元件(8)。各单元具有：具有第一焦距(f1)的第一透镜(3)；从第一透镜隔开第一焦距的光圈(5)；以及以比第一焦距小的第二焦距(f2)相对于摄像元件设置的第二透镜(4)。

公开(公告)号：CN101384953A

公开(公告)日：2009-03-11

申请号：CN200780006027.X

申请日：2007-03-14

Applicant: 国立大学法人大阪大学 ,  三菱电机株式会社

Inventor： 吉村政志 ,  佐佐木孝友 ,  森勇介 ,  西岗志行 ,  桂智毅 ,  小岛哲夫 ,  西前顺一

IPC: G02F1/37

CPC classification number: G02F1/37 ,  G02F1/3551 ,  G02F2001/3505 ,  G02F2001/354

Abstract: 本发明提供一种输出特性能够与入射强度相应地增加且能够在室温下使用的波长转换光学元件。本发明的波长转换光学元件是包含硼酸铯锂系列结晶的波长转换光学元件，其特征在于，上述结晶中的水杂质的含有量是如下这样的含有量，即在将上述结晶加工为Nd:YAG激光的4倍高次谐波发生方位的光学元件且长度为10mm的光学元件时，将上述光学元件的红外透射频谱中的3589cm－1的透射率(Ta)作为指标，透射率(Ta)与偏振光方向无关且不考虑在光学研磨表面上的损失时的实测值为1％以上的含有量。

公开(公告)号：CN118302921A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202280077132.7

申请日：2022-04-21

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 平山望 ,  藤井俊辅 ,  桂智毅 ,  深堀秀则

IPC: H01S3/10 ,  B23K26/064 ,  H01S3/00

Abstract: 激光装置(100)具有：脉冲光源(1)，其使信号光(11)产生；激励光源(2)，其使激励光(12)产生；以及多个激光介质(4a、4b)，它们在信号光(11)的光路串联地排列，分别由激励光(12)激励而使信号光(11)放大。多个激光介质(4a、4b)之中的来自脉冲光源(1)的信号光(11)最后射入的激光介质(4b)的光轴方向长度，比多个激光介质(4a、4b)之中的来自脉冲光源(1)的信号光(11)首先射入的激光介质(4a)的光轴方向长度更短。

公开(公告)号：CN116157223A

公开(公告)日：2023-05-23

申请号：CN202080104534.2

申请日：2020-08-27

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 石川恭平 ,  濑口正记 ,  西胁基晃 ,  藤井健太 ,  桂智毅

IPC: B23K26/00

Abstract: 激光加工装置(50)具有：驱动部(5)，其对加工头(2)和工件(W)的相对位置进行变更，该加工头(2)包含将从激光振荡器(1)射出的激光会聚而对工件(W)进行照射的聚光光学系统；控制部(3)，其基于与激光加工相关的数值参数即加工参数对激光振荡器(1)、加工头(2)及驱动部(5)进行控制而执行加工；加工状态观察部(52)，其对通过激光的照射而从工件(W)发出的光即加工光(8)的预先决定的多个关注波段的光强度进行检测而作为多个光传感器信号；特征量提取部(53)，其对多个光传感器信号之间的相关指标、能够从一个光传感器信号得到的特征量的至少任一个进行提取；以及校正量计算部(55)，其基于特征量，将用于执行校正的加工参数决定为校正参数，决定校正参数的校正量。

公开(公告)号：CN110383607B

公开(公告)日：2021-03-02

申请号：CN201880015868.5

申请日：2018-01-12

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 小林信高 ,  桂智毅 ,  森田大嗣 ,  西前顺一 ,  京藤友博

IPC: H01S5/14 ,  G02B3/06 ,  G02B5/18 ,  H01S5/0225

Abstract: 波长耦合激光器装置(10)具有：半导体激光器，其从在激光耦合方向排列的多个发光部的出射端面(1b)，向与激光耦合方向垂直的光轴的方向射出多个激光(6)；波长耦合元件(3)，其在激光耦合方向对多个激光进行耦合而作为1根激光进行输出；交叉耦合抑制光学系统(4)，其在与从波长耦合元件输出的1根激光的光轴垂直的激光耦合方向具有正的焦度；以及部分反射镜(5)，其对经过交叉耦合抑制光学系统的1根激光进行反射并使其透过而射出，在由光轴和激光耦合方向所成的平面内，通过将出射端面和部分反射镜共轭地连结，从而以将出射端面在部分反射镜之上成像的方式配置有交叉耦合抑制光学系统。

公开(公告)号：CN110036544B

公开(公告)日：2020-07-24

申请号：CN201780074812.2

申请日：2017-03-01

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 西前顺一 ,  桂智毅 ,  森田大嗣 ,  黑川裕章

IPC: H01S5/14

Abstract: 具有：多个激光介质(1、2)，它们所发出的激光束的波长不同；衍射光栅(3)，其使从多个激光介质(1、2)射入的多个激光束重叠地射出；部分反射镜(4)，其对从衍射光栅(3)射出的多个激光束的一部分进行反射而使其返回至衍射光栅(3)，使剩余部分透过；以及多个透镜(5、6)，它们分别配置于多个激光介质(1、2)的每一个和衍射光栅(3)之间，多个透镜(5、6)各自针对在多个激光介质(1、2)和衍射光栅(3)之间形成的每个光路进行配置，使来自多个激光介质(1、2)的激光束在向衍射光栅(3)的入射面上以同一外径进行重叠。

公开(公告)号：CN109475974A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201780042748.X

申请日：2017-06-16

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 高桥悌史 ,  河野裕之 ,  古田启介 ,  桂智毅 ,  平山望

IPC: B23K26/02 ,  B23K26/00 ,  B23K26/04 ,  B23K26/082

Abstract: 基板测量装置(1)具有：测量用照相机(8)，其取得基板(5)的图像数据，该基板(5)设置有定位用的对准标记(7)，具有被激光加工后的被加工部(6)；测量工作台(4)，其搭载基板(5)，对基板(5)和测量用照相机(8)的相对位置进行变更；图像处理部(12)，其基于图像数据及测量工作台(4)的位置信息，求出对准标记(7)的测量位置坐标及被加工部(6)的测量位置坐标；变换系数计算部(13)，其求出从对准标记(7)的测量位置坐标向对准标记(7)的设计位置坐标的变换系数；以及加工误差计算部(14)，其使用变换系数将被加工部(6)的测量位置坐标坐标变换为变换后位置坐标，根据变换后位置坐标和被加工部(6)的设计位置坐标之差而求出加工误差。

公开(公告)号：CN106575853A

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：CN201580040673.2

申请日：2015-07-24

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 森田大嗣 ,  河崎正人 ,  今野进 ,  桂智毅 ,  藤川周一

IPC: H01S5/14 ,  H01S5/022

CPC classification number: H01S5/4012 ,  H01S5/02288 ,  H01S5/141 ,  H01S5/143 ,  H01S5/4062 ,  H01S5/4087

Abstract: 该半导体激光装置在波长色散元件和部分反射镜之间配置有变形棱镜对，该变形棱镜对将从发光点射出的正规振荡光束的正规振荡光轴、与经由不同的发光点而振荡形成的交叉耦合振荡光束的交叉耦合光轴所成的角度扩大，该半导体激光装置无需使装置大型化即可增大交叉耦合振荡光束的振荡损耗，能够提高聚光性。