高密度只读光盘及其制备方法

    公开(公告)号:CN100433153C

    公开(公告)日:2008-11-12

    申请号:CN200480027356.9

    申请日:2004-09-22

    Abstract: 关于最近开发的许多介质,最大的看点就是容量。本发明提供了一种高密度只读光盘,该高密度只读光盘包括:基底,该基底具有根据单位信息而长度不同的坑,其中,坑的深度随着坑长度增加而增加;掩模层,包含金属氧化物或者精细金属颗粒和介电材料的混合物。由于坑深度根据坑长度而改变,所以高密度只读光盘可用于读取不大于读取分辨率极限的坑,并且得到了最佳的CNR。同样,本发明提供了一种高密度只读光盘的制备方法,该方法可用来制备具有基于坑长度的最佳坑深度的高密度只读光盘。

    再现记录在超分辨率信息存储介质上的信息的方法和设备

    公开(公告)号:CN100351922C

    公开(公告)日:2007-11-28

    申请号:CN200580000173.2

    申请日:2005-01-28

    CPC classification number: G11B7/1267

    Abstract: 本发明提供了一种用于通过积极地检测根据超分辨率信息存储介质(SRISM)的反射率而变化的阈域,使用实际上适于再现的适当实际再现功率来再现记录在SRISM中的信息的方法和设备。从SRISM再现信息的方法包括:将光束发射到SRISM上,同时改变激光光束的再现功率,接收被SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号电平的变化;基于再现信号电平的变化,计算再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率;和基于参考再现功率设置实际再现功率。用于从SRISM再现信息的设备包括光学拾取单元和信号处理单元。该光学拾取单元包括光源和光电检测器,其中光源将具有一定范围的功率的光束发射到SRISM上,光电检测器接收从SRISM反射的光束,并从接收的光束检测再现信号;该信号处理单元根据被光源发射到SRISM上的光束的再现功率的变化来检测再现信号电平的变化,并基于再现信号电平对再现功率的曲线的梯度改变处的参考再现功率设置从光源发射的光束的实际再现功率。

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