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发明公开
半导体存储器器件以及在测试模式中读取该器件的方法失效

公开(公告)号：CN1272696A

公开(公告)日：2000-11-08

申请号：CN00108109.8

申请日：2000-04-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 苏秉世 , 苏秦镐

IPC: H01L27/10 , H01L21/66 , G01R31/28

CPC classification number: G11C29/38 , G11C29/40

Abstract: 一种在测试模式期间可编程地改变发送来自比较器的输出数据的输出管脚的半导体存储器器件,以及用于该测试模式的读取方法。所述器件包括对从存储器单元阵列中读取的多个输出数据进行比较的比较器,和在测试模式期间可编程地改变发送比较器的输出的管脚的输出管脚确定单元。当将多个所述器件安装在单个存储器模块中时,利用输出管脚确定单元不同地确定所述器件的输出管脚,以便在模块测试期间一次同时从多于一个的器件中读取数据,从而减小模块测试时间。

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