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公开(公告)号：CN118209156A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410177417.9
申请日：2024-02-08
申请人： 耐驰仪器制造有限公司
IPC分类号： G01D21/02
摘要： 本发明提供一种用于控制测量装置(100)的方法，包括以下方法步骤：选择待检查的样本，创建将通过所述测量装置(100)被检查的样本所处的条件，以及建立关于所述样本的性质的测量值，其中，所述方法步骤通过控制器(110)自动地控制。本发明进一步提供一种能够执行所述方法的测量装置。
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公开(公告)号：CN118170045A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410177394.1
申请日：2024-02-08
申请人： 耐驰仪器制造有限公司
IPC分类号： G05B19/04
摘要： 本发明涉及一种用于控制具有多个测量装置(100)的系统(10)的方法，所述方法包括由通过所述系统(10)的控制器(200)接收确定期望的测量值的请求，通过所述控制器(200)创建关于所述多个测量装置(100)中的哪个适于确定所述具体测量值的提议，以及通过所述控制器(200)将所确立的所述提议输出给所述系统(10)的用户。本发明进一步涉及一种包括多个测量装置(100)的系统(10)。
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公开(公告)号：CN107860789B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201710851017.1
申请日：2017-09-20
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括：借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量，或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射；比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果；基于比较结果，为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数；以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或设备(10)的调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。
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公开(公告)号：CN110568007A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910450779.X
申请日：2019-05-28
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
发明人： A·辛德勒
IPC分类号： G01N25/20
摘要： 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)放置在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明的设置成，测量装置还具有外坩埚(30-1)，外坩埚用于使坩埚(10)支承在外坩埚(30-1)中，其中，坩埚(10)由坩埚材料构成并且外坩埚(30-1)由与坩埚材料不同的外坩埚材料构成。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。
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公开(公告)号：CN104281733B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201410332040.6
申请日：2014-07-11
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
发明人： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格莱德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , S·施姆尔泽 , M·迈耶尔
CPC分类号： G01K3/10 , G01N25/20 , G01N25/4866 , G06F17/16 , G06F17/18
摘要： 本发明涉及一种用于评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)的方法。按照本发明规定，在使用程序控制的计算机装置(14；14a‑2)的情况下计算测量结果(DSCsample；DATAsample)与至少一个事先存储在计算机装置(14；14a‑2)中的数据记录一致的至少一个可能性，其中，该计算是基于之前从热分析的测量曲线(DSCsample)中摘取的有效数据(DATAsample)与相应存储的数据记录的有效数据(DATAref1)的比较(S4)。因此通过本发明为评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)提供了一种更简单的方式，其中，评估必要时可以有利地包括自动识别和分类测量曲线(DSCsample),并且在评估质量较高的同时尤其可以比迄今的方法更有效率、更经济并且更快速地执行。
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公开(公告)号：CN103969287B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410035821.9
申请日：2014-01-24
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
发明人： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔博特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格拉德尔 , G·赫尔 , S·克奈伯 , M·迈耶尔 , G·凯瑟
IPC分类号： G01N25/20
CPC分类号： G01K3/14 , G01N25/4866
摘要： 本发明涉及一种用作进行差热分析的方法，其中设置在可调温的样品腔中的样品按照基本线性的温度曲线从起始温度（Tstart）开始一直调温到最终温度（Tend），其中由在加热过程中在多个测量时间点（t0,...ti,...tn）进行的样品温度（Tsample）测量的结果中计算出cDTA‑信号（cDTA），作为测得的样品温度（Tsample）和按温度走向模型计算的参考温度（TRef）之间的温差。按照本发明，通过以下步骤为每个时间点（ti）计算对应的参考温度（TRef(ti)）:a)确定包含相关测量时间点（ti）的时间间隔；b1)在时间间隔中为测得的样品温度走向（TSample(t)）计算非线性的拟合函数，c)计算参考温度（TRef），作为测量时间点的拟合函数的值（TRef(ti)）。
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公开(公告)号：CN104281733A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410332040.6
申请日：2014-07-11
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
发明人： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格莱德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , S·施姆尔泽 , M·迈耶尔
CPC分类号： G01K3/10 , G01N25/20 , G01N25/4866 , G06F17/16 , G06F17/18
摘要： 本发明涉及一种用于评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)的方法。按照本发明规定，在使用程序控制的计算机装置(14；14a-2)的情况下计算测量结果(DSCsample；DATAsample)与至少一个事先存储在计算机装置(14；14a-2)中的数据记录一致的至少一个可能性，其中，该计算是基于之前从热分析的测量曲线(DSCsample)中摘取的有效数据(DATAsample)与相应存储的数据记录的有效数据(DATAref1)的比较(S4)。因此通过本发明为评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)提供了一种更简单的方式，其中，评估必要时可以有利地包括自动识别和分类测量曲线(DSCsample),并且在评估质量较高的同时尤其可以比迄今的方法更有效率、更经济并且更快速地执行。
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公开(公告)号：CN103370614A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201180065407.7
申请日：2011-01-18
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
发明人： 于尔根·布卢姆
CPC分类号： G01N25/00 , G01N5/04 , G01N25/4846 , G01N30/7206 , H01J49/0459
摘要： 本发明涉及一种热分析装置(10)，其包括：可控制的温度调节装置(ST，20)，用来受控制地改变待研究的样品(16)的温度(T)；检测装置(ST)，用来在温度(T)变化过程中连续地检测至少一个表征样品(16)的特性的信号(TG)；以及气体分析装置(28)，用来研究从样品(16)中逸出的气体。为了更好地对挥发性组分和分解产物进行时间分辨或温度分辨的研究，按本发明规定，在样品(16)的温度(T)变化过程中按控制算法在考虑检测到的信号(TG)的情况下控制温度调节装置(20)，和/或气体分析装置(26)构造为可控制，并且按控制算法在考虑检测到信号(TG)的情况下控制气体分析装置(26)。
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公开(公告)号：CN117233201A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202310669919.9
申请日：2023-06-07
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
摘要： 本发明涉及一种热分析系统，包括：被配置为分析对象的试样的试样准备部，其具有：‑壁部，其划分形成内部空间；‑门部，其可对设置在壁部的开口部进行开闭；‑试样保持部件，其具有放置试样的试样保持架和用于测量试样温度的温度传感器；‑移动机构，其用于使试样保持架通过开口部移动到热分析部内；‑密封机构，当已使试样保持架移动到热分析部内时，密封机构将试样保持架相对于试样准备部的内部空间进行密封；‑耦合机构，其将热分析部的加热管在相对于外部密封的状态下与门部连结，对试样进行热分析的热分析部，其具有：‑加热管，其容纳来自试样准备部的试样保持架；‑加热部，其从外侧包围加热管并对加热管进行加热。
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公开(公告)号：CN116642917A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310136930.9
申请日：2023-02-20
申请人： 耐驰-仪器制造有限公司
摘要： 本发明涉及一种样品的热分析，并提出了一种用于对样品进行热分析的装置(10)，其具有：样品室(12)，用于容纳其上放置有坩埚盖(16)的样品坩埚(14)，待分析的样品位于该样品坩埚的内部，其中，样品室(12)具有用于将样品坩埚(14)置入样品室(12)中的室开口(18)；温度调节装置(20)，用于对样品室(12)进行温度调节；测量装置，用于测量样品的温度和一个或多个其他测量变量；气体引导装置(30、31、32)，用于在样品室(12)中产生气体气氛；室盖(40)，可放置在样品室(12)的室开口(18)上；配备有针(44)的穿刺装置(42)，其适用于当样品坩埚(14)容纳在样品室(12)中且室盖(40)放置在室开口(18)上时，用针(44)在样品坩埚(14)的坩埚盖(16)中穿刺孔。此外在本发明的范围中，提出了对样品进行热分析的相应方法、具有坩埚盖(16)的样品坩埚(14)以及覆盖/穿刺单元(40、42)。
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