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公开(公告)号：CN1243328C
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN03136227.3
申请日：1997-04-01
Applicant: 柯尼格及包尔公开股份有限公司
Inventor： 克劳斯·奥古斯特·伯尔查-许内曼 , 约翰内斯·乔治·社德
CPC classification number: B41M3/14 , B65H29/04 , B65H2406/351 , G01N21/8903
Abstract: 本发明涉及一种用于对待处理材料进行定性鉴定的装置，具有至少一个照射设备、至少一个光电传感器和一个与该传感器配合的计算设备，其特征在于：在照射设备(3)的光发射面(28、29)上设置有导光板(33)并且所述导光板(33)的设置与相应的反射的光线平行，在待检查材料(1)、照射设备(3)和传感器的配置决定的反射角的情况下，待检查材料(1)各个具有最佳反射性能的图像段对光线的反射构成的总反射被汇聚到传感器(4)上。
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公开(公告)号：CN1234005C
公开(公告)日：2005-12-28
申请号：CN03136228.1
申请日：1997-04-01
Applicant: 柯尼格及包尔公开股份有限公司
Inventor： 克劳斯·奥古斯特·伯尔查-许内曼 , 约翰内斯·乔治·社德
CPC classification number: B41M3/14 , B65H29/04 , B65H2406/351 , G01N21/8903
Abstract: 本发明涉及一种用于对处理材料进行定性鉴定的装置，具有至少一个照射设备、至少一个光电传感器和一个与该传感器配合的计算设备，其特征在于：具有一个用于对待检查材料(1)进行导向的弯曲的导向面(7)，在待检查材料、照射设备和传感器的配置决定的反射角的情况下，待检查材料各个具有最佳反射性能的图像段对光线的反射构成的总反射被汇聚到传感器(4)上。
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公开(公告)号：CN1617296A
公开(公告)日：2005-05-18
申请号：CN200410087049.1
申请日：2004-10-22
Applicant: 惠普开发有限公司
Inventor： W·杰克森
IPC: H01L21/00
CPC classification number: G03F7/7035 , D06H3/12 , D06H3/125 , G01N21/8903 , G01N21/898 , G03F7/70791 , G03F9/7003 , H01L21/67288
Abstract: 本发明包括一种用于修正卷到卷工艺中薄片变形的方法和系统。本发明包括能动态调节卷到卷工艺中薄片[210]平面度的可控机械元件[230]。通过在卷到卷工艺中调节薄片[210]，极大地增加了连续构图步骤中层对层的对准精度，由此使得能够生产具有低叠加电容和更高分辨率的电子结构。本发明的第一方面是用于修正卷到卷工艺中薄片变形的方法。该方法包括启动与柔性薄片衬底[210]相关的卷到卷工艺，探测卷到卷工艺中柔性薄片衬底[210]中的变形，并根据探测到的变形动态对准柔性薄片衬底[210]。
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公开(公告)号：CN1490610A
公开(公告)日：2004-04-21
申请号：CN03136225.7
申请日：1997-04-01
Applicant: 柯尼格及包尔公开股份有限公司
Inventor： 克劳斯·奥古斯特·伯尔查-许内曼 , 约翰内斯·乔治·社德
CPC classification number: B41M3/14 , B65H29/04 , B65H2406/351 , G01N21/8903
Abstract: 本发明涉及一种用于对材料(1)进行定性鉴定的方法，采用至少一个照射设备(3)、至少一个光电传感器(4)和一个与此传感器配合的计算设备，其中材料是经印刷的并具有有至少一个防伪标志，尤其是具有一个散射性能弱，但具有明显的定向分量的反射的图像段，其特征在于：利用待检查材料(1)、照射设备(3)和传感器的配置确定反射角，使每个散射性能弱，但具有明显定向分量的待检查材料(1)的防伪标志将光线完全反射到传感器(4)上并且该完全反射被用于防伪标志识别。
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公开(公告)号：CN1267866A
公开(公告)日：2000-09-27
申请号：CN00106727.3
申请日：2000-03-01
Applicant: 希尔德科股份有限公司
CPC classification number: H04N7/181 , G01N21/8903
Abstract: 本发明的目的是对从过程监视摄象机中所得到的图象数据执行同步的一种方法。通过使用同步,当其穿过不同摄象位置时,纸幅内的一个或相同的区域可被搜索到。由于速度很高,且织物有某种程度的延伸,因此同步经常不能直接导致同一区域显示在不同摄象位置上。为方便搜索,与每个摄象位置的同步点(9,9’)的环境内有限数目的连续图象相应的选择区域(10)可以被操作者观测到,该区域内,肯定可以看到织物中的相应区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108896570A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810735002.3
申请日：2018-07-06
Applicant: 湖南工程学院
IPC: G01N21/89
CPC classification number: G01N21/8851 , G01N21/8903 , G01N21/8983 , G01N2021/8887
Abstract: 本发明涉及织物检测控制系统及检测方法，其包括织物检测件的水平状态的A段织物、设置在A段织物上方的A段上方矩阵排列相机和/或设置在A段织物下方的A段下方矩阵排列相机、处理器、以及用于存储图片拼合识别单元的存储器；A段上方矩阵排列相机和/或A段下方矩阵排列相机，用于获取对面A段织物表面的图形且与处理器、以及存储器通信连接；图片拼合识别单元包括框裁模块；框裁模块，用于按照预设尺寸与坐标除去毛边并确定裁剪A段上方矩阵排列相机和/或A段下方矩阵排列相机中的框裁图形，并根据该框裁图形对应的相机在A段上方矩阵排列相机或A段下方矩阵排列相机中的矩阵位置进行位置标识；本发明设计合理、结构紧凑且使用方便。
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公开(公告)号：CN105358948A
公开(公告)日：2016-02-24
申请号：CN201480036090.8
申请日：2014-06-25
Applicant: 诺瓦硅镁产品有限公司
Inventor： 毛里齐奥·巴尔迪
IPC: G01J3/50 , G01J3/28 , B07C5/342 , B28B17/00 , G01N21/898
CPC classification number: G01J3/501 , B07C5/342 , B28B17/0072 , G01J3/2803 , G01J2003/104 , G01N21/8903 , G01N2021/1776
Abstract: 本发明涉及一种用于扫描一片瓷砖彩色表面(2)的方法及一种实施该方法的装置。所述用于扫描一片瓷砖(3)彩色表面(2)的装置(1)包括光电探测器矩阵(4)，所述光电探测器矩阵(4)包括多排平行并排放置的光电探测器(5)但不包括光电探测器(4)上面的任何颜色滤光器，多排光电探测器(5)彼此靠近且仅间隔至少一个像素的距离；如此设置光检测器矩阵(4)以便与扫描时间间隔同步地获取瓷砖(3)待扫描彩色表面(2)的一个表面带(6)的图像。所述装置还包括：多个灯具(7)，每个灯具(7)都具有不同发光光谱；所设置的灯具(7)用于照亮所述瓷砖(3)待扫描的彩色表面(2)的表面带(6)，每隔一定的扫描时间一次至少可以打开一只所述灯具(7)；用于静止地接收和传送所述待扫描瓷砖(3)的输送装置(8)，一方面输送装置用于确定瓷砖(3)与光电检测器矩阵(4)和多个灯具(7)间的相对运动，另一方面输送装置在运动方向上垂直于多排光电探测器(5)，这样可以采集瓷砖(3)待扫描彩色表面(2)每个表面带(6)的预定数量的图像。
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公开(公告)号：CN104919305A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201480004546.2
申请日：2014-01-15
Applicant: 住友化学株式会社
Inventor： 尾崎麻耶
IPC: G01N21/892 , G06T1/00
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/8851 , G01N21/8903 , G06T2207/30124
Abstract: 本发明提供一种缺陷检查装置。在缺陷检查装置(100)中，图像生成装置(1)的处理图像生成部(61)，生成由针对缺陷像素存储有表示与特征量相应的灰度值的灰度信息、针对残余像素存储有表示零的灰度值的灰度信息的灰度信息存储位串构成的处理图像数据，分析用图像生成部(62)，按照每个像素，生成由在所述灰度信息存储位串中附加存储有缺陷信息的缺陷信息存储位串而得到分析用位串构成分析用图像数据。
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公开(公告)号：CN102639989B
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201080050021.4
申请日：2010-11-04
Applicant: 赛博光学公司
Inventor： 卡尔·E·豪根 , 蒂莫西·A·什昆尼斯 , 埃里克·P·路德 , 史蒂文·K·凯斯(死亡)
IPC: G01N21/956
CPC classification number: H05K13/08 , G01N21/8806 , G01N21/8903 , G01N21/956 , G01N2021/8812 , G01N2021/8816 , G01N2021/8822 , G01N2021/8924 , G01N2021/95638 , G01N2201/0635 , G01R31/304
Abstract: 本发明提供了一种用于检查基板(10)的光学检查系统(41，42，43，44，45)。所述系统(41，42，43，44，45)包括照相机(2A-2H)的阵列(4)，所述照相机(2A-2H)的阵列(4)被构造成在所述基板(10)和所述阵列(4)相对于彼此进行相对运动时获取多组图像。至少一个聚焦致动器(9A-9H)可操作地连接到照相机(2A-2H)的阵列(4)的每一个照相机(2A-2H)，以使影响聚焦的每一个照相机(2A-2H)的至少一部分移动。基板范围计算器(16)被构造成从所述阵列(4)接收至少一部分图像并计算照相机(2A-2H)的阵列(4)和所述基板(10)之间的范围。控制器(80)连接到照相机(2A-2H)的阵列(4)并连接到范围计算器(16)。控制器(80)被构造成将控制信号提供到至少一个聚焦致动器(9A-9H)中的每一个，以使阵列(4)的每一个照相机(A-2H)在相对运动过程中自适应聚焦。
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公开(公告)号：CN104077556A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201310386360.5
申请日：2013-08-30
Applicant: 现代自动车株式会社
Inventor： 宋在勋
CPC classification number: G06K9/2036 , G01N21/8806 , G01N21/8901 , G01N21/8903 , G01N2021/8845 , G01N2021/8918 , G06K2209/01
Abstract: 本发明涉及一种识别模压字符的设备和方法，利用所述设备和方法检测字符的模压深度，和/或即使当由于字符的不同模压深度，在模压部分发生图像失真时，也能够准确地识别字符。
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