大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统

    公开(公告)号:CN110018153B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN201910330690.X

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统,属于材料表面表征技术领域,包括:高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器;采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组,控制高精度数控工作台系统,对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理,实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位;采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术,对标定夹杂物进行制导分析,实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合,解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。

    大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统

    公开(公告)号:CN110018153A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201910330690.X

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统,属于材料表面表征技术领域,包括:高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器;采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组,控制高精度数控工作台系统,对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理,实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位;采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术,对标定夹杂物进行制导分析,实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合,解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。

    一种基于数理统计算法的稀土金属精密配重系统及方法

    公开(公告)号:CN115924160B

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202211461206.5

    申请日:2022-11-21

    Abstract: 本发明提供了基于数理统计算法的稀土金属精密配重系统及方法,该系统包括:中央控制系统以及与中央控制系统连接的检重秤、样品传送分选装置、缓冲落位辅助装置、AB双工位自旋转盘、空桶补位装置、振动装置;中央控制系统用于根据设计的基于数理统计的精密配重算法,在稀土金属智能检测、抛丸、配重、包装自动化系统流水线上实现稀土金属样品的自动配重;检重秤用于样品称重,样品传送分选装置用于自动配重;缓冲落位辅助装置用于辅助落位;AB双工位自旋转盘用于成品桶顺位;空桶补位装置用于空桶补位;振动装置用于将成品桶内的稀土金属样品振动均匀。本发明使配重工序工作量小、准确度高、速度快、工序简易,大大提高了生产效率。

    一种稀土金属超高速全自动精密光谱分析系统及工作方法

    公开(公告)号:CN116879191B

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311146047.4

    申请日:2023-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种稀土金属超高速全自动精密光谱分析系统及工作方法,涉及稀土金属光谱分析技术领域,该系统包括中央控制服务器以及与中央控制服务器通信连接的精密数控转台、样品装卡装置、自动称重装置、自动测距装置、分析面加工装置、稀土光谱分析仪以及自动标记装置;样品装卡装置和自动称重装置设置在精密数控转台上,自动测距装置、分析面加工装置、稀土光谱分析仪、自动标记装置环绕精密数控转台设置,分别执行对应的工序。本发明集样品装卡、实时称重、自动测距、表面加工、光谱分析、自动标记等工序于一体,多块样品同时检测,精准定位,准确度高,结构紧凑,节奏加快,大大提高了分析效率和精度,实现了稀土金属高效自动化分析。

    一种超大尺寸管棒状金属材料全域成分分析装置及方法

    公开(公告)号:CN112345512B

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202011059568.2

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明涉及一种超大尺寸管棒状金属材料全域成分分析装置及方法,依靠固定于高精密样品水平移动平台和旋转台,采用火花光谱分析技术,完成超大尺寸管棒状金属材料样品水平表面的成分分析;采用激光光谱分析技术,完成样品圆柱侧表面成分的分析;二者同步开始激发,同步结束,完成第一轮次分析;如果需要沿垂直方向激发更深的高度,对已完成第一轮次的激发的水平面,沿Z轴方向进行切削,深度为上一轮分析的激光光谱分析的圆柱侧表面高度,进行第二轮次分析;经过几个轮次的切削,火花光谱分析水平表面,激光光谱分析圆柱侧表面,在最短的时间内获得超大尺寸管棒状金属材料全域表面成分分布结果。

    一种材料高通量制备-统计映射表征一体化研发系统

    公开(公告)号:CN116130037A

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202310042129.8

    申请日:2023-01-28

    Abstract: 本发明公开了一种材料高通量制备‑统计映射表征一体化研发系统,包括:高通量制备模块、高通量表征模块、自动控制模块以及统计映射数据处理模块;高通量制备模块用于制备合成多组分的组合样品;高通量表征模块包括多个不同高通量表征装置,用于分别获取组合样品的成分、组织结构、性能以及三维形貌数据;自动控制模块包括专用样品盒、样品移动平台、智能机械臂、同步控制系统;统计映射数据处理模块用于根据组合样品的成分、组织结构和性能数据构建位置映射对应的统计映射本构模型,并开展机器学习计算,优化本构模型并预测符合设计要求的新材料成分体系。本发明集多功能于一体,自动控制水平高,提高实验速度和实验效率,加速新材料的研发。

    大尺度金属构件偏析度分析仪扫描自动补偿及保护系统

    公开(公告)号:CN115931722A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211672326.X

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种大尺度金属构件偏析度分析仪扫描自动补偿及保护系统,包括旋转组件、限位开关、急停电路以及复位弹簧;旋转组件包括圆盘转接板、旋转轴、扇叶形转接板、固定调节块和活动调节块,活动调节块安装在圆盘转接板上,限位开关固定安装在扇叶形转接板上,活动调节块与限位开关活动连接,急停电路与限位开关相连;当光学系统发生转动时,带动活动调节块同步转动,活动调节块拨动限位开关,当限位开关被拨动到设定角度后,限位开关触发急停电路的电路切换,将扫描系统紧急停止。本发明在样品扫描过程中,光学系统能够自适应样品分析面,并持续稳定接地;当光学系统与样品发生碰撞挤压时,该系统能够将扫描系统紧急停止,保护光学系统。

    大尺寸金属材料火花放电分析的测量偏差校正方法及系统

    公开(公告)号:CN115656143A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211331804.0

    申请日:2022-10-28

    Abstract: 本发明公开了大尺寸金属材料火花放电分析的测量偏差校正方法及系统,应用于材料表面表征技术领域,包括:对材料表面进行逐行扫描测量,得到行成分含量,采用行线性拟合模型对行成分含量进行行内校正,再采用行成分含量分布剔除极值后得到的总平均值为标准,进行行间校正,得到行间校正成分含量;对材料表面进行逐列扫描测量,得到列成分含量,采用列线性拟合模型对列成分含量进行列内校正,再采用列成分含量剔除极值后得到的总平均值为标准,进行列间校正,得到列间校正成分含量;将行间校正成分含量和列间校正成分含量耦合,得到最优测量成分含量。本方法实现了对大尺寸金属材料表面成分全面表征测量过程中仪器的漂移及测量误差的有效校正。

    一种稀土金属高速全自动光谱分析分类系统及方法

    公开(公告)号:CN113019953B

    公开(公告)日:2022-07-19

    申请号:CN202110263086.7

    申请日:2021-03-11

    Abstract: 本发明涉及一种稀土金属高速全自动光谱分析分类系统及方法,样品中的稀土元素含量大于50%,该系统包括中央控制服务器、样品夹持运动装置、待测样品传送装置、分析面定位装置、分析面加工装置、稀土光谱分析仪、自动称重装置、自动打标装置和成品分级分类装置;样品夹持运动装置采用高精密数控系统精确控制被夹持的待测样品在水平X轴、Y轴方向,以及竖直Z轴方向上移动。本发明集样品加工、光谱分析、样品称重、自动标记分级分类于一体,省去制屑取样、溶解等湿法分析过程,分析速度快,准确度高,即时性强,所有动作3分钟内完成,满足稀土金属样品块块必检的技术要求。

    金相显微镜矩阵归一化校正方法

    公开(公告)号:CN110455797B

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN201910699157.0

    申请日:2019-07-31

    Abstract: 本发明属于金相分析技术领域,特别涉及一种金相显微镜矩阵归一化校正方法,适用于多个金相显微镜同时工作的大面积样品快速金相分析。该金相显微镜矩阵由i×j个金相显微镜组成,将待分析样品表面分割成多个区域,i×j个金相显微镜同时对样品表面进行显微放大、聚焦拍照;通过对标准化样品进行九点采集、十字运行轨迹计算每个金相显微镜的C’ij的安装位置与运动方向的角度偏差αij、坐标偏差(Δxij,Δyij)以及表观长度偏差Δli,实现金相显微镜矩阵的校正。采用本发明能很好的快速解决多金相显微镜之间的位置、角度、放大倍率差异性问题。

Patent Agency Ranking