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公开(公告)号：CN115684617A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211222385.7
申请日：2022-10-08
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N35/00 , G01N35/04 , B65B57/14 , B65B31/04 , B65B51/10 , B65B51/14 , B65B7/28 , B65B61/26 , B65B13/18
Abstract: 本发明公开了一种稀土金属自动化检测、抛丸、配重、包装系统及工作方法，该系统包括待测样品存放盘组、中央控制系统以及与中央控制系统连接的称重和视觉识别系统、自动拆剁机、激光打标机、样品传送分类装置、稀土金属光谱分析系统、抛丸机、冷干机、智能配重系统和自动包装系统。本发明省去了人工辅助分析、人工分拣、人工称量配重等过程，增加了自动包装功能，集精准称重、激光标记、光谱分析、分级分类、抛丸冷却、智能配重、密封包装等工序于一体，实现智能的自动化生产，大大提高生产效率，节约时间和人工成本。
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公开(公告)号：CN110018153B
公开(公告)日：2021-11-02
申请号：CN201910330690.X
申请日：2019-04-23
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统，属于材料表面表征技术领域，包括：高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器；采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组，控制高精度数控工作台系统，对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理，实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位；采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术，对标定夹杂物进行制导分析，实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合，解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。
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公开(公告)号：CN110018153A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201910330690.X
申请日：2019-04-23
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统，属于材料表面表征技术领域，包括：高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器；采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组，控制高精度数控工作台系统，对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理，实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位；采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术，对标定夹杂物进行制导分析，实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合，解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。
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公开(公告)号：CN116879191A
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN202311146047.4
申请日：2023-09-07
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种稀土金属超高速全自动精密光谱分析系统及工作方法，涉及稀土金属光谱分析技术领域，该系统包括中央控制服务器以及与中央控制服务器通信连接的精密数控转台、样品装卡装置、自动称重装置、自动测距装置、分析面加工装置、稀土光谱分析仪以及自动标记装置；样品装卡装置和自动称重装置设置在精密数控转台上，自动测距装置、分析面加工装置、稀土光谱分析仪、自动标记装置环绕精密数控转台设置，分别执行对应的工序。本发明集样品装卡、实时称重、自动测距、表面加工、光谱分析、自动标记等工序于一体，多块样品同时检测，精准定位，准确度高，结构紧凑，节奏加快，大大提高了分析效率和精度，实现了稀土金属高效自动化分析。
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公开(公告)号：CN111157460B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN201911374898.8
申请日：2019-12-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于偏析分析技术领域，特别涉及一种大尺度金属构件偏析度分析仪及分析方法。分析仪包括高精密三维数控工作台、样品表面加工模块、偏析度分析模块和结果表征模块；高精密三维数控工作台包括在水平X轴和Y轴方向精密移动用于固定待测样品的水平样品台，以及相互平行且垂直于X轴Y轴平面的Z轴和W轴；样品表面加工模块和偏析度分析模块能够上下移动地分别安装在高精密三维数控工作台的Z轴和W轴上，位于水平样品台上的待测样品的上方；样品表面加工模块包括用于在待测样品表面进行表面加工的刀具；偏析度分析模块包括激发光源和用于对待测样品表面进行分析的光谱仪；刀具的中心与所述光谱仪的火花台之间的间距一定距离。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110490801B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN201910699192.2
申请日：2019-07-31
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种金相显微镜矩阵超大图片高速拼接方法，属于金相分析技术领域。该方法用于将多个金相显微镜同时拍摄获得的多幅照片，通过在GPU上运行的并行算法在0.7秒内进行一次裁剪、灰度化、缩放、旋转、二次裁剪处理，消除金相显微镜的位置、安放角度、放大倍数等带来的差异性；对单个金相显微镜内的扫描分析照片进行照片拼接，再对金相显微矩阵获得的各个分析区域内的照片进行拼接，获得样品全表面的完整金相照片。采用本发明能很好的快速解决金相显微镜矩阵超大图片的拼接问题。
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公开(公告)号：CN112634121A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011343868.3
申请日：2020-11-26
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于超大尺寸金属原位分析技术领域，特别涉及一种基于CUDA平台的GPU并行运算技术的超大尺寸金属原位分析仪中大数据快速处理方法。本发明在集加工、扫描、表征于一体的超大尺寸金属原位分析仪上，将单火花积分光谱强度数据转化为基于CUDA平台的GPU并行计算技术要求的数据结构，通过CPU+GPU异构平台基础上的并行操作及算法优化大幅提高大数据的处理效率，并最终实现超大尺寸金属原位分析仪的分布表征，处理数据量大，计算速度快，准确度高，即时性强，所有数据结果5分钟内完成。
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公开(公告)号：CN111157460A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201911374898.8
申请日：2019-12-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于偏析分析技术领域，特别涉及一种大尺度金属构件偏析度分析仪及分析方法。分析仪包括高精密三维数控工作台、样品表面加工模块、偏析度分析模块和结果表征模块；高精密三维数控工作台包括在水平X轴和Y轴方向精密移动用于固定待测样品的水平样品台，以及相互平行且垂直于X轴Y轴平面的Z轴和W轴；样品表面加工模块和偏析度分析模块能够上下移动地分别安装在高精密三维数控工作台的Z轴和W轴上，位于水平样品台上的待测样品的上方；样品表面加工模块包括用于在待测样品表面进行表面加工的刀具；偏析度分析模块包括激发光源和用于对待测样品表面进行分析的光谱仪；刀具的中心与所述光谱仪的火花台之间的间距一定距离。
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公开(公告)号：CN109470698B
公开(公告)日：2020-02-14
申请号：CN201811131502.2
申请日：2018-09-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统；待测样品为大尺寸金属构件，显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上，计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移，逐步移动待测样品的位置，使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面，实现对待测样品的全尺度显微照相，进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合，样品扫描尺寸大、精度高、速度快，显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。
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公开(公告)号：CN109470698A
公开(公告)日：2019-03-15
申请号：CN201811131502.2
申请日：2018-09-27
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统；待测样品为大尺寸金属构件，显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上，计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移，逐步移动待测样品的位置，使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面，实现对待测样品的全尺度显微照相，进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合，样品扫描尺寸大、精度高、速度快，显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。
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