公开(公告)号：CN112255469A

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN202010899976.2

申请日：2020-08-31

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 张启涛 ,  赵兵 ,  蒲理华 ,  马玉丰 ,  李文龙 ,  王宇 ,  李祥祥

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明公开了一种无参考信号的天线任意曲面近场测试相位获取装置和方法，该装置包括：信号源，用于产生射频测试信号；标准发射天线，用于将射频测试信号发送至处于接收状态的待测天线；待测天线，用于将射频测试信号发送至标准接收天线，以及生成的响应信号Ⅰ；标准接收天线，用于生成响应信号Ⅱ；数字接收机，用于对响应信号Ⅰ/Ⅱ进行处理后得到幅度和相位；控制计算机，用于根据幅度和相位进行近远场变换，得到远场方向图。本发明采用数字采样方式，通过“0”中频取得测试路相位，最终得到整个扫描面的所有位置的相位分布，无需参考路比幅比相即可得到不随时间变化的相位值；规避了平面近场在相位获取中对于参考信号的依赖。

公开(公告)号：CN106405256A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201610752000.6

申请日：2016-08-26

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘灵鸽 ,  赵兵 ,  张启涛 ,  李文龙 ,  王宇 ,  马玉丰 ,  严瑾

IPC: G01R29/10

CPC classification number: G01R29/10

Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。