公开(公告)号：CN108152013B

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：CN201711452063.0

申请日：2017-12-28

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 吴磊 ,  黎高平 ,  于东钰 ,  赵宝珍 ,  桑鹏 ,  张魁甲 ,  吕春莉

IPC: G01M11/04 ,  H04N17/00

Abstract: 本发明提出一种光电系统跟瞄精度测量装置光路调校方法，测量装置主要由光学平台以及安装在其上的激光光源、毛玻璃、小孔光阑、分束镜、平行光管准直镜、高帧频CCD相机等组成。本发明采用平面反射镜、光学自准直仪、五棱镜及经纬仪实现了光电系统跟瞄精度测量装置激光光源、小孔光阑及高帧频CCD相机位置的调校，具有精度高、操作简单、方便和直观的特点，解决了光电系统跟瞄精度测量装置的光路调较难题，不仅为空间激光通信跟瞄技术的发展提供了技术保障，还为空间激光通信系统跟瞄精度测量装置的设计提供了参考依据。

公开(公告)号：CN108287060A

公开(公告)日：2018-07-17

申请号：CN201810046777.X

申请日：2018-01-18

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 黎高平 ,  于东钰 ,  桑鹏 ,  李四维 ,  王浩 ,  吴磊

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提出一种激光发散角的测量装置及方法，属光学计量领域。其特点是利用CCD成像元件搭配合适焦距的透镜进行激光发散角的测量。激光经过透镜在CCD上成像，测得透镜与CCD不同间隔处的光斑的大小，通过数据拟合即可求出激光器在透镜焦点处光斑的大小。利用光斑大小与透镜焦距的关系就可以求出激光器的发散角。该方法对透镜与CCD之间的距离没有苛刻要求，方法简单精度高，应用前景广的特点。

公开(公告)号：CN108020179A

公开(公告)日：2018-05-11

申请号：CN201711452067.9

申请日：2017-12-28

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 于东钰 ,  黎高平 ,  吴磊 ,  桑鹏 ,  阴万宏 ,  李四维 ,  吕春莉

IPC: G01B11/26

Abstract: 本发明提出一种高精度角度测量装置及方法，激光光源经扩束镜和衰减片后成为扩束平行激光；扩束平行激光经过第一分束镜、反射镜、第三分束镜、第四分束镜，形成第一参考光束；扩束平行激光经过第一分束镜、第二分束镜、第三分束镜、第四分束镜，形成第二参考光束；扩束平行激光经过第一分束镜、第二分束镜、待测反射镜、第四分束镜，形成待测光束；第一参考光束、第二参考光束、待测光束在CCD相机像面上相干叠加产生干涉图，并输入图像处理系统。本发明通过测量激光干涉光斑的位置信息，并将位置信息进行线性拟合，通过计算直线距离的变化量，计算出入射激光的角度变化。在相同测量精度下，该方法避免了对距离的苛刻要求，为高精度角度测量设备小型化提供一种方法。

公开(公告)号：CN106053356A

公开(公告)日：2016-10-26

申请号：CN201610474724.9

申请日：2016-06-27

Applicant: 西安应用光学研究所

Inventor： 岳文龙 ,  于东钰 ,  黎高平 ,  谢毅 ,  桑鹏 ,  李四维

IPC: G01N21/27

CPC classification number: G01N21/274

Abstract: 本发明公开了一种基于辐射量测量的金属凝固点黑体有效发射率测量系统及方法，属光学计量领域。其特点是首先利用低温辐射计对硅陷阱探测器进行标定，再由可调谐激光光源、激光稳功率控制器结合积分球形成比较稳定的均匀的激光束，均匀的激光束经过准直透镜准直后，分别由红外滤光辐射计和硅陷阱探测器进行接收测量，采用辐射比对法对红外滤光辐射计在特定波长下的绝对响应度进行校准，然后用校准过的红外红外滤光辐射计对温坪段凝固点黑体的光谱辐射通量进行精确测量，工作于温坪段的凝固点黑体温度为定值，利用测得的辐射通量和凝固点黑体的温度即可计算得到凝固点黑体的发射率。从而实现了凝固点黑体有效发射率的测量。该方法解决了目前凝固点黑体有效发射率的测量难题，具有测量准确度高，应用前景广的特点。