一种基于干涉光强信息的相位提取方法及系统

    公开(公告)号:CN115183697B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN202210841640.X

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于干涉光强信息的相位提取方法及系统,采集两帧相差为#imgabs0#的非球面干涉图,并用从球面镜干涉图中计算出的背景光强和调制度代替待测元件的背景光强和调制度,基于干涉公式对非球面干涉图进行相位提取;对相位信息进行相位解包,并用Zernike多项式对波面进行拟合以消除调整误差,最后求解待测面形信息。本发明是以干涉场的光强分布和干涉图中像素点的灰度信息为基础,通过计算光强,只需采集两帧干涉图即可完成对非球面元件的面形检测,结构简单,相较于传统的多步移相法,有效减少了移相次数,避免了误差累积,检测效率更高,适用于大批量的非球面元件检测。

    多波长点衍射干涉仪用光路合束质量检测校准方法及系统

    公开(公告)号:CN114688963B

    公开(公告)日:2023-02-21

    申请号:CN202210283332.X

    申请日:2022-03-22

    Abstract: 本发明公开了一种多波长点衍射干涉仪用光路合束质量检测校准方法及系统,用彩色CCD采集各个通道的光斑,计算光斑的轮廓、质心等参数,分析合束光的合束效果、空间传播状态及误差来源,将其误差作为反馈信号控制相关驱动元件,构成闭环的反馈控制系统,精确调整多波长光路。本发明结构简单,功能全面,可对合束光的空间传播状态、光强及分布、光路的焦点和倾斜状态进行检测与校准,适用于多波长干涉测量领域。

    一种针孔点衍射干涉测量系统用孔板相移解相位方法

    公开(公告)号:CN113465540B

    公开(公告)日:2022-10-25

    申请号:CN202110770501.8

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明公开了一种针孔点衍射干涉测量系统用孔板相移解相位方法,将线偏振激光转变为圆偏振激光,再扩束变为平行光,将平行光汇聚到针孔衍射板上衍射分为检测波和参考波;检测波通过被测非球面镜反射至针孔衍射板,由针孔衍射板再次反射并与参考波干涉,控制针孔衍射板在ZX平面沿被测非球面镜的光轴方向移动相应步长,检测波和参考波发生干涉,获得对应步长的干涉图像,采集干涉图像,根据所采集的干涉图像信息获得相位。本发明避免了被测镜口径受到压电纳米平台负载能力限制,提高了被测镜可测量的口径范围。

    一种基于干涉光强信息的相位提取方法及系统

    公开(公告)号:CN115183697A

    公开(公告)日:2022-10-14

    申请号:CN202210841640.X

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明公开了一种基于干涉光强信息的相位提取方法及系统,采集两帧相差为的非球面干涉图,并用从球面镜干涉图中计算出的背景光强和调制度代替待测元件的背景光强和调制度,基于干涉公式对非球面干涉图进行相位提取;对相位信息进行相位解包,并用Zernike多项式对波面进行拟合以消除调整误差,最后求解待测面形信息。本发明是以干涉场的光强分布和干涉图中像素点的灰度信息为基础,通过计算光强,只需采集两帧干涉图即可完成对非球面元件的面形检测,结构简单,相较于传统的多步移相法,有效减少了移相次数,避免了误差累积,检测效率更高,适用于大批量的非球面元件检测。

    一种基于点衍射干涉仪的可变分辨率相位解包裹方法

    公开(公告)号:CN111561877B

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202010333826.5

    申请日:2020-04-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于点衍射干涉仪的可变分辨率相位解包裹方法,生成与干涉仪实际采集得到网络模型训练和验证数据;进行包裹处理后建立训练/验证数据集,采用四步移相法提取干涉图相位数据;建立卷积自编码神经网络模型,将训练数据输入模型,通过多次迭代训练网络直至最优状态然后再对仪器采集的待处理数据进行预测;在预测前根据分辨率对包裹相位图进行区域划分,通过后续拼接策略进行全幅解包;以原始包裹相位为基准,提取数据跳变点得到包裹区域轮廓,套入初始预测结果并以区域为单位去噪,对预测结果进行优化处理提高解包准确度;利用Iterative Closest Point算法拼接多组相邻相位数据实现分辨率可调。解包精度高,通用性强,实时处理能力强。

    一种基于ORB特征匹配和LK光流法的电池丝印质量检测方法

    公开(公告)号:CN111275697A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN202010085060.3

    申请日:2020-02-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于ORB特征匹配和LK光流法的电池丝印质量检测方法,采集电池丝印图像数据,进行预处理提取电池丝印区域;采用矩形分块的方式进行建模,包括插画部分模板和文字部分模板,基于ORB算法提取模板丝印和待测丝印的特征并匹配,实现对丝印内容的定位;基于形态学的图像差影法进行检测,如果出现误报,使用基于L-K光流法的扭曲校正检测方法进行二次检测;如果没有出现误报,输出结果图像及检测数据,执行分拣操作。本发明实时性好、检测率高,通过改进传统差影法,并将光流法引入印刷缺陷检测领域内,大大提升了对非精确印刷的适应性与检测率。

    一种基于机器视觉的自动化装配异常检测方法及系统

    公开(公告)号:CN118823477A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410975749.1

    申请日:2024-07-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于机器视觉的自动化装配异常检测方法及系统,利用DINO模型预训练的网络结构对采集到的螺钉安全绳图像进行特征提取,通过自监督学习和知识蒸馏提取图像特征,生成核心集;使用贪心选择算法对核心集进行采样,对核心集进行筛选和聚集以完成安全绳图像的提取;通过Kmeans算法对筛选后的特征集进行聚类,再利用全连接高斯条件随机场、阈值分割及面积筛选算法完成安全绳图像的提取;利用SAM大模型及得到的安全绳图像,进行先验提示框的输入,完成螺钉图像的提取;根据提取的安全绳图像和螺钉图像,利用位置判断知识判断螺钉安全绳的安装,实现装配异常检测。确保了螺钉安全绳图像的精准分割和判别,提高了自动化检测的效率和可靠性。

    一种针孔点衍射干涉测量系统用孔板相移解相位方法

    公开(公告)号:CN113465540A

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN202110770501.8

    申请日:2021-07-07

    Abstract: 本发明公开了一种针孔点衍射干涉测量系统用孔板相移解相位方法,将线偏振激光转变为圆偏振激光,再扩束变为平行光,将平行光汇聚到针孔衍射板上衍射分为检测波和参考波;检测波通过被测非球面镜反射至针孔衍射板,由针孔衍射板再次反射并与参考波干涉,控制针孔衍射板在ZX平面沿被测非球面镜的光轴方向移动相应步长,检测波和参考波发生干涉,获得对应步长的干涉图像,采集干涉图像,根据所采集的干涉图像信息获得相位。本发明避免了被测镜口径受到压电纳米平台负载能力限制,提高了被测镜可测量的口径范围。

    分块模板匹配结合形态学处理的电池丝印质量检测方法

    公开(公告)号:CN110264445B

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN201910460803.8

    申请日:2019-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种分块模板匹配结合形态学处理的电池丝印质量检测方法,基于形态学的模板匹配方法建立文字部分模板;应用阈值分割和形态学腐蚀提取电池区域;采用求解电池区域最小外接矩形的方式确定倾斜角度,采用等间隔旋转搜索算法寻找最小外接矩形作为最终结果,利用仿射变换对偏转角度进行反向旋转进行电池校正及裁减;采用差影方法识别插画部分缺陷检测;然后依次屏蔽插画,文字分割,文字提取及校正,文字重组,待检文字骨架提取,再采用差影方法识别文字部分缺陷,采用可疑区域平移作差检测和可疑区域微量旋转作差检测进行缺陷检测。准确率高,成本较低,对国内电池丝印质量自动化检测领域有一定程度的推动作用。

    一种基于自适应光学波前校正的高次非球面检测方法及系统

    公开(公告)号:CN112629436A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202011312177.7

    申请日:2020-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种基于自适应光学波前校正的高次非球面检测方法及系统,搭建自适应光学波前校正干涉仪对高次非球面进行测量,得到耦合多种误差的测量值;通过组合调节变形镜表面形成不同面形的Zernike自由曲面形式,校正三阶及以上像差;采用两步Zernike模式随机并行梯度下降算法建立控制量与测量量之间的关系模型,优化测量值能量梯度G,保存可变形镜控制参数并固定对应的面形,进行干涉图像处理并计算测量结果,采用逆向优化得到待测非球面真实面形与理论面形的偏差;采用Zernike多项式对测量面形拟合,从测量结果中减去多项式前四项对应的位姿像差,得到最终的测量结果,完成非球面检测。本发明提高了干涉仪的动态测量范围,同时兼顾系统通用性与检测精度。

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