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公开(公告)号:CN100468571C
公开(公告)日:2009-03-11
申请号:CN200510052645.0
申请日:2005-03-07
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11C11/409 , G11C7/00
CPC classification number: G11C13/0011 , G11C11/5614 , G11C13/004 , G11C13/0069 , G11C2013/0054 , G11C2013/009 , G11C2213/34 , G11C2213/79
Abstract: 通过在写操作到选定的存储单元中时设置特定的条件,能够容易而准确地进行读数据操作。存储单元有这样的结构,在此结构中电极间材料层夹在第一电极和第二电极之间。通过改变第一电极和第二电极之间的电阻值来存储数据。将在高电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_high;将在低电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_low1;负载电路的电阻值表述为R_load;将第二电源线的电压设置为基准电压,读电压表述为Vread;阈电压表述为Vth_critical。在将数据写到存储单元中时,由于产生了低电阻状态,因此这些参数满足特定的关系。用与存储单元的存储元件有相同结构的元件来构成负载电路。
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公开(公告)号:CN1697195B
公开(公告)日:2010-08-18
申请号:CN200410094244.7
申请日:2004-11-29
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11C13/0011 , G11C13/0007 , G11C2213/11 , G11C2213/15 , G11C2213/33 , G11C2213/34 , G11C2213/56 , G11C2213/72 , H01L27/2409 , H01L27/2436 , H01L45/085 , H01L45/1233 , H01L45/1266 , H01L45/143 , H01L45/144 , H01L45/145 , H01L45/146 , H01L45/1625
Abstract: 一种存储器件10具有如下的结构,其中,存储器薄膜4夹在第一和第二电极2和6之间,该存储器薄膜4至少包含稀土元素,该存储器薄膜4或与该存储器薄膜接触的层3包含从Cu、Ag、Zn中选出的任一种元素,而且该存储器薄膜4或与该存储器薄膜接触的层3包含从Te、S、Se中选出的任一种元素。该存储器件能方便稳定地记录并读出信息,并且该存储器件能由相对简单的制造方法方便地制造。
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公开(公告)号:CN100481254C
公开(公告)日:2009-04-22
申请号:CN200510107643.7
申请日:2005-09-29
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11C13/02 , G11C13/0069 , G11C2213/79
Abstract: 一种存储装置,包括存储器件,所述存储器件每个都具有存储元件,所述存储元件具有如下特性:不低于第一阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从高电阻值状态转换到低电阻值状,以及不低于第二阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从低电阻值状态转换到高电阻值状态,所述第二阈值信号具有与第一阈值信号不同的极性;所述存储器件每个都具有电路元件,与存储元件串联以作为负载,其中,存储器件以矩阵排列,且每个存储器件的端子之一与公共线连接;并且其中向公共线施加在电源电势和接地电势之间的中间电势。
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公开(公告)号:CN1989619A
公开(公告)日:2007-06-27
申请号:CN200580024194.8
申请日:2005-07-08
Applicant: 索尼株式会社
IPC: H01L27/10
CPC classification number: G11C13/0011 , G11C13/0069 , G11C2013/009 , G11C2213/56 , G11C2213/79 , H01L27/2436 , H01L27/2472 , H01L45/085 , H01L45/1233 , H01L45/1266 , H01L45/141 , H01L45/145 , H01L45/146 , H01L45/148 , H01L45/149 , H01L45/1675
Abstract: 提供了一种其构造能够容易以高密度制造的存储元件。该存储元件包括两个电极(1、4)之间的记录层(2、3),且向两个电极(1、4)施加不同极性的电势,从而由电阻变化元件(10)构造存储单元,用于可逆地改变记录层(2、3)的电阻值。在多个相邻的存储单元中,至少一部分构成电阻变化元件(10)的记录层的层(2、3)是由相同层共同形成的。
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公开(公告)号:CN1770319A
公开(公告)日:2006-05-10
申请号:CN200510107643.7
申请日:2005-09-29
Applicant: 索尼株式会社
CPC classification number: G11C13/02 , G11C13/0069 , G11C2213/79
Abstract: 一种存储装置,包括存储器件,所述存储器件每个都具有存储元件,所述存储元件具有如下特性:不低于第一阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从高电阻值状态转换到低电阻值状态,以及不低于第二阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从低电阻值状态转换到高电阻值状态,所述第二阈值信号具有与第一阈值信号不同的极性;所述存储器件每个都具有电路元件,与存储元件串联以作为负载,其中,存储器件以矩阵排列,且每个存储器件的端子之一与公共线连接;并且其中向公共线施加在电源电势和接地电势之间的中间电势。
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公开(公告)号:CN1664957A
公开(公告)日:2005-09-07
申请号:CN200510052645.0
申请日:2005-03-07
Applicant: 索尼株式会社
IPC: G11C11/409 , G11C7/00
CPC classification number: G11C13/0011 , G11C11/5614 , G11C13/004 , G11C13/0069 , G11C2013/0054 , G11C2013/009 , G11C2213/34 , G11C2213/79
Abstract: 通过在写操作到选定的存储单元中时设置特定的条件,能够容易而准确地进行读数据操作。存储单元有这样的结构,在此结构中电极间材料层夹在第一电极和第二电极之间。通过改变第一电极和第二电极之间的电阻值来存储数据。将在高电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_high;将在低电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_low1;负载电路的电阻值表述为R_load;将第二电源线的电压设置为基准电压,读电压表述为Vread;阈电压表述为Vth_critical。在将数据写到存储单元中时,由于产生了低电阻状态,因此这些参数满足特定的关系。用与存储单元的存储元件有相同结构的元件来构成负载电路。
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