存储设备
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100468571C

    公开(公告)日:2009-03-11

    申请号:CN200510052645.0

    申请日:2005-03-07

    Abstract: 通过在写操作到选定的存储单元中时设置特定的条件,能够容易而准确地进行读数据操作。存储单元有这样的结构,在此结构中电极间材料层夹在第一电极和第二电极之间。通过改变第一电极和第二电极之间的电阻值来存储数据。将在高电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_high;将在低电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_low1;负载电路的电阻值表述为R_load;将第二电源线的电压设置为基准电压,读电压表述为Vread;阈电压表述为Vth_critical。在将数据写到存储单元中时,由于产生了低电阻状态,因此这些参数满足特定的关系。用与存储单元的存储元件有相同结构的元件来构成负载电路。

    存储装置及半导体装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100481254C

    公开(公告)日:2009-04-22

    申请号:CN200510107643.7

    申请日:2005-09-29

    CPC classification number: G11C13/02 G11C13/0069 G11C2213/79

    Abstract: 一种存储装置,包括存储器件,所述存储器件每个都具有存储元件,所述存储元件具有如下特性:不低于第一阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从高电阻值状态转换到低电阻值状,以及不低于第二阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从低电阻值状态转换到高电阻值状态,所述第二阈值信号具有与第一阈值信号不同的极性;所述存储器件每个都具有电路元件,与存储元件串联以作为负载,其中,存储器件以矩阵排列,且每个存储器件的端子之一与公共线连接;并且其中向公共线施加在电源电势和接地电势之间的中间电势。

    存储装置及半导体装置
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1770319A

    公开(公告)日:2006-05-10

    申请号:CN200510107643.7

    申请日:2005-09-29

    CPC classification number: G11C13/02 G11C13/0069 G11C2213/79

    Abstract: 一种存储装置,包括存储器件,所述存储器件每个都具有存储元件,所述存储元件具有如下特性:不低于第一阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从高电阻值状态转换到低电阻值状态,以及不低于第二阈值信号的电信号的施加,允许存储元件从低电阻值状态转换到高电阻值状态,所述第二阈值信号具有与第一阈值信号不同的极性;所述存储器件每个都具有电路元件,与存储元件串联以作为负载,其中,存储器件以矩阵排列,且每个存储器件的端子之一与公共线连接;并且其中向公共线施加在电源电势和接地电势之间的中间电势。

    存储设备
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1664957A

    公开(公告)日:2005-09-07

    申请号:CN200510052645.0

    申请日:2005-03-07

    Abstract: 通过在写操作到选定的存储单元中时设置特定的条件,能够容易而准确地进行读数据操作。存储单元有这样的结构,在此结构中电极间材料层夹在第一电极和第二电极之间。通过改变第一电极和第二电极之间的电阻值来存储数据。将在高电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_high;将在低电阻状态下的存储元件的电阻值表述为R_mem_low1;负载电路的电阻值表述为R_load;将第二电源线的电压设置为基准电压,读电压表述为Vread;阈电压表述为Vth_critical。在将数据写到存储单元中时,由于产生了低电阻状态,因此这些参数满足特定的关系。用与存储单元的存储元件有相同结构的元件来构成负载电路。

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