印刷电路基板制造用剥离膜

    公开(公告)号:CN105102194B

    公开(公告)日:2017-08-22

    申请号:CN201380075174.8

    申请日:2013-12-27

    Abstract: 本发明的印刷电路基板制造用剥离膜的特征在于,具有基材和剥离剂层,通过向将剥离剂层形成用材料涂布于第1面形成的涂布层照射活化能射线形成剥离剂层,所述剥离剂层形成用材料含有活化能射线固化性化合物(A)、聚有机硅氧烷(B)、和碳纳米材料(C),所述活化能射线固化性化合物(A)具有从(甲基)丙烯酰基、链烯基和马来酰亚胺基组成的组选择的至少1种反应性官能团,剥离剂层的外表面的算术平均粗糙度Ra1为8nm以下,并且剥离剂层的所述外表面的最大突起高度Rp1为50nm以下。根据本发明能够提供,能够防止印刷电路基板的表面上产生针孔或局部厚度不均等、制造可靠性高的印刷电路基板的印刷电路基板制造用剥离膜。

    印刷电路基板制造用剥离膜

    公开(公告)号:CN104245263B

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201380021204.7

    申请日:2013-03-14

    Abstract: 本发明的印刷电路基板制造用剥离膜,其特征在于,其具备:具有第1面和第2面的基材;和通过将含有活化能射线固化性化合物(a1)和聚有机硅氧烷(b1)的材料涂布于所述基材的第1面侧并将其固化而形成的剥离剂层;和通过将含有活化能射线固化性化合物(a2)的材料涂布于基材的第2面侧并将其固化而形成的背面涂布层;剥离剂层的外表面的算术平均粗糙度Ra2在8nm以下,并且其最大突起高度Rp2在50nm以下;背面涂布层的外表面的算术平均粗糙度Ra3为5~40nm,并且其最大突起高度Rp3为60~500nm。根据本发明,能够抑制印刷电路基板上针孔或局部厚度不均的产生。

    陶瓷胚片制造工序用剥离膜

    公开(公告)号:CN104203518B

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201380016120.4

    申请日:2013-02-04

    CPC classification number: B28B1/30 Y10T428/24355

    Abstract: 本发明涉及一种陶瓷胚片制造工序用剥离膜(1),其包括基材(11)及设置于基材(11)的一侧的剥离剂层(12),其中剥离剂层(12)为包含活性能量射线固化性成分以及硅酮类成分的剥离剂组合物的固化物,剥离剂层(12)的与基材(11)相反侧的面的算数平均粗糙度(Ra)为8nm以下,且最大突起高度(Rp)为50nm以下,剥离剂层(12)的通过纳米压痕试验所测定的弹性模数为4.0GPa以上,基材(11)的与剥离剂层(12)的相反侧的面的算数平均粗糙度(Ra)为5~50nm,且最大突起高度(Rp)为30~500nm。根据照此陶瓷胚片制造工序用剥离膜(1),能够防止·抑制于陶瓷胚片产生针孔或厚度不均等缺陷,而且陶瓷胚片的剥离性也优异。

    印刷电路基板制造用剥离膜

    公开(公告)号:CN104203519B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201380016849.1

    申请日:2013-03-14

    CPC classification number: B28B7/364 B28B1/30 Y10T428/24355

    Abstract: 本发明的印刷电路基板制造用剥离膜,其特征在于,其为印刷电路基板制造用剥离膜,具备具有第1面和第2面的基材和在所述基材的所述第1面侧形成的剥离剂层,所述基材的所述第2面的最大突起高度Rp2为60~500nm,并且在所述第2面中的高度在60nm以上的突起的面积占有率在10%以下。根据本发明,能够抑制印刷电路基板上的针孔或局部厚度不均的产生。

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