公开(公告)号：CN119198804A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202410383192.2

申请日：2024-04-01

Applicant: 清华大学

Inventor： 王振天 ,  俞文杰 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  陈志强

IPC: G01N23/046 ,  A61B6/40 ,  A61B6/00 ,  A61B6/06 ,  A61B6/03

Abstract: 本公开涉及材料检测设备技术领域，尤其涉及一种X射线倒易空间多尺度成像系统，其中，X射线准直和光栅集成装置，用于对锥束X射线进行调制，得到扇束X射线；光栅装置用于对扇束X射线照射到待测样品后产生的X射线小角散射信号进行初步调制；光栅和编码孔集成装置配置有第三光栅及编码孔，第三光栅用于对初步调制的X射线小角散射信号进行再次调制，得到调制后的X射线小角散射信号；编码孔用于对扇束X射线照射到待测样品后产生的X射线衍射信号进行调制，得到调制后的X射线衍射信号；探测器用于接收调制后的X射线小角散射信号及X射线衍射信号。本公开可一体化、自动化地对待测样品的断层成像，高效获得内部体素的晶体结构和介观尺度信息。

公开(公告)号：CN118967857A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202411064509.2

申请日：2024-08-05

Applicant: 清华大学

Inventor： 高河伟 ,  陈志强 ,  夏颖贤 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  李亮 ,  王振天 ,  邓智

IPC: G06T11/00 ,  G06N3/08

Abstract: 本申请涉及辐射成像技术领域，特别涉及一种基于深度学习的多源CT散射校正方法及装置，其中，方法包括：在多源CT系统中至少两个射线源同时出束时，获取多源CT扫描数据；从多源CT扫描数据的总信号中学习得到相应的低频的多源交叉散射场，以校正交叉散射信号；基于预设的前向散射网络表达估计前向散射信号，以校正前向散射信号，完成多源CT散射的校正。由此，解决了相关技术中，由于多源同时出束，导致探测器接收的散射信号包括前向散射信号和交叉散射信号，严重影响重建图像的质量，且相关校正方法导致数值误差较大，易产生高频伪影等问题。

公开(公告)号：CN114202464B

公开(公告)日：2024-07-02

申请号：CN202111539063.0

申请日：2021-12-15

Applicant: 清华大学

Inventor： 邢宇翔 ,  张丽 ,  陈志强 ,  高河伟 ,  邓智 ,  王振天

IPC: G06T3/4053 ,  G06N3/0455 ,  G06N3/0464

Abstract: 本申请公开了一种基于深度学习的X射线CT局部高分辨率成像方法及装置，其中，方法包括：对待成像区域投影数据预重建后的初始估计图像进行增强后构建待成像区域图像基础数据集；对待成像区域外的投影数据进行预重建构建基础背景图像数据集；分别在两个数据集中随机选取图像数据组合成待成像物体，并对其进行扫描仿真得到仿真局部扫描数据；将仿真局部扫描数据与待成像区域图像基础数据集中对应的数据进行配对组成训练数据，利用训练数据对局部区域深度学习重建网络进行训练，以利用训练后的局部区域深度学习重建网络进行高分辨率局部区域重建。由此，结合深度学习和成像机制的全新局部区域高分辨率重建，提升重建图像质量和效率。

公开(公告)号：CN115356362A

公开(公告)日：2022-11-18

申请号：CN202211008806.6

申请日：2022-08-22

Applicant: 清华大学

Inventor： 李亮 ,  陈志强 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  高河伟 ,  邓智 ,  王振天 ,  武传鹏

IPC: G01N23/223 ,  G06T17/00

Abstract: 本申请涉及一种X射线荧光成像方法、装置、电子设备及存储介质，包括：将X射线入射到待扫描样品，激发待扫描样品中的X射线荧光光子和散射光子；将荧光光子和/或散射光子射入康普顿相机探测器，获取康普顿相机探测器移动过程中荧光光子和散射光子发生康普顿散射时发生散射事件的第一空间坐标和第一沉积能量，及发生吸收事件的第二空间坐标和第二沉积能量；根据第一空间坐标、第一沉积能量、第二空间坐标和第二沉积能量进行康普顿相机的图像重建，得到待扫描样品的三维图像。由此，解决了X射线激发产生的散射光子带来大量噪声和较低的信噪比，导致荧光光子的识别和成像困难，以及康普顿相机对于100keV以下的入射光子分辨率低等问题。

公开(公告)号：CN114199907A

公开(公告)日：2022-03-18

申请号：CN202111479200.6

申请日：2021-12-06

Applicant: 清华大学

Inventor： 张丽 ,  高河伟 ,  邢宇翔 ,  陈志强 ,  邓智 ,  王振天

IPC: G01N23/046 ,  A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  G06T11/00

Abstract: 本申请公开了一种多分辨率CT成像系统及方法，其中，成像系统包括：通过射线生成模块向待成像物体发出射线；通过至少两个分辨率探测器生成对高分辨率成像区域进行单独扫描的第一投影数据，和对所需成像区域进行扫描的第二投影数据；通过扫描成像子系统确定高分辨率成像区域、分辨率探测器对应的成像扫描参数、扫描运动轨迹以及进行投影数据采集；图像重建子系统利用第二投影数据对第一投影数据进行补全或补偿，通过图像重建算法对补全或补偿后的投影数据进行自适应融合重建，得到重建结果。本申请的实施例使用多种分辨率的探测器，同时利用大视野测量的投影数据和小视野探测器的投影数据进行综合重建，达到实现大视野与局部高分辨率的重建效果。

公开(公告)号：CN120065444A

公开(公告)日：2025-05-30

申请号：CN202510435737.4

申请日：2025-04-08

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 张丽 ,  杨建学 ,  张立国 ,  王振天 ,  陈志强 ,  李元景 ,  黄清萍 ,  张金宇 ,  李新斌

IPC: G02B7/00 ,  G01N23/046

Abstract: 本发明的实施例提供一种调节装置及检测设备，调节装置包括：安装组件，包括间隔设置的第一安装件和第二安装件，用于安装工件；第一调节机构，连接于所述第一安装件，被配置为沿第一方向作直线运动和/或沿第二方向作直线运动；以及第二调节机构，连接于所述第二安装件，被配置为沿所述第一方向作直线运动和/或沿所述第二方向作直线运动；其中，所述第一调节机构和所述第二调节机构能够同步运动，以带动所述第一安装件和所述第二安装件沿所述第一方向和/或所述第二方向运动，以调节所述工件的位置。本发明的调节装置，既能够对工件的位置进行灵活、便捷的调整，又能够避免损伤工件。

公开(公告)号：CN120031995A

公开(公告)日：2025-05-23

申请号：CN202510049214.6

申请日：2025-01-13

Applicant: 清华大学

Inventor： 高河伟 ,  陈志强 ,  朱国曦 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  王振天 ,  邓智 ,  李亮

IPC: G06T11/00 ,  G06F17/11 ,  G01N23/046

Abstract: 本申请涉及辐射成像技术领域，特别涉及一种基于玻尔兹曼输运方程的多能CT散射校正方法及装置，其中，方法包括：对物体在经多能CT扫描后得到的待校正初始多能投影数据进行预处理，获取初始校正多能投影数据；对初始校正多能投影数据进行材料密度转换，得到物质密度分布数据；对物体在多能CT扫描过程中的实际扫描能谱进行离散化和标签标记，确定预先构建的带标签的玻尔兹曼输运方程中的能谱矩阵；计算物体的多能散射信号数据；利用多能散射信号数据得到实际多能投影数据。由此，解决了相关技术中，散射校正不够精细使得物质分解获得的材料密度失真，且由于多能谱的原因，需要在不同的X射线源条件下进行多个散射估计，处理过程冗长复杂等问题。

公开(公告)号：CN119510456A

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202411733296.8

申请日：2024-11-28

Applicant: 同方威视技术股份有限公司 ,  清华大学

Inventor： 张丽 ,  王振天 ,  黄清萍 ,  陈志强 ,  李元景 ,  杨建学 ,  张金宇 ,  张立国 ,  李新斌

IPC: G01N23/046 ,  G01V5/22 ,  G01V13/00 ,  G02B7/00

Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧；入口通道部件，设于所述检测部件的第一侧；以及出口通道部件，设于所述检测部件的第二侧；其中，所述检测部件包括：支撑框架限定出检测通道，所述支撑框架为一体成型件；辐射源，设于所述支撑框架；探测器，设于所述支撑框架，且与所述辐射源相对；光栅组件，包括可调光栅，所述可调光栅包括可移动横臂和可移动竖臂，所述可移动横臂设于所述支撑框架的顶壁面，所述可移动竖臂设于所述支撑框架的侧壁面。本发明的检测设备，支撑框架一体成型，支撑框架的安装面具有良好的平面度，有效确保辐射源、探测器和光栅组件安装位置的准确性，进而有利于确保扫描图像的质量。

公开(公告)号：CN119198804B

公开(公告)日：2025-02-11

申请号：CN202410383192.2

申请日：2024-04-01

Applicant: 清华大学

Inventor： 王振天 ,  俞文杰 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  陈志强

IPC: G01N23/046 ,  A61B6/40 ,  A61B6/00 ,  A61B6/06 ,  A61B6/03

Abstract: 本公开涉及材料检测设备技术领域，尤其涉及一种X射线倒易空间多尺度成像系统，其中，X射线准直和光栅集成装置，用于对锥束X射线进行调制，得到扇束X射线；光栅装置用于对扇束X射线照射到待测样品后产生的X射线小角散射信号进行初步调制；光栅和编码孔集成装置配置有第三光栅及编码孔，第三光栅用于对初步调制的X射线小角散射信号进行再次调制，得到调制后的X射线小角散射信号；编码孔用于对扇束X射线照射到待测样品后产生的X射线衍射信号进行调制，得到调制后的X射线衍射信号；探测器用于接收调制后的X射线小角散射信号及X射线衍射信号。本公开可一体化、自动化地对待测样品的断层成像，高效获得内部体素的晶体结构和介观尺度信息。

公开(公告)号：CN118566261A

公开(公告)日：2024-08-30

申请号：CN202410464201.0

申请日：2024-04-17

Applicant: 清华大学

Inventor： 李亮 ,  陈志强 ,  张丽 ,  邢宇翔 ,  高河伟 ,  王振天 ,  邓智 ,  乐敏

IPC: G01N23/00 ,  G01N23/02 ,  G01N23/04 ,  G01N23/18 ,  G01N23/20 ,  G01N23/046 ,  G01N23/222

Abstract: 本发明提供一种X射线检测方法、装置、系统、电子设备及可读存储介质，其中的方法包括：基于事件模式能谱探测器，获取X射线照射下被检测物体的物体像素对应的事件信号；其中，事件信号包括能量信号和时间信号；将同一物体像素对应的多个事件信号进行叠加，得到被检测物体被扫描的目标检测信号。该方法通过利用事件模式能谱探测器获取被检测物体的物体像素在X射线照射下的事件信号，利用时间信息对单个事件信号进行逐一累加，空间信息更为精确，空间分辨率更高，且对检测条件没有限制，捕获的能谱信息也更加全面，进而能够快速获取目标检测信号对应的高信噪比图像。