公开(公告)号：CN105263396A

公开(公告)日：2016-01-20

申请号：CN201480031891.5

申请日：2014-05-29

申请人： 浜松光子学株式会社

发明人： 黄洪欣 ,  井上卓

IPC分类号： A61B3/10 ,  G01J9/00 ,  G01M11/02 ,  G02F1/01

CPC分类号： G02B27/0068 ,  A61B3/1015 ,  A61B3/13 ,  A61B3/14 ,  G01J1/42 ,  G01J9/00 ,  G01M11/02 ,  G01M11/0264 ,  G02B26/06 ,  G02B27/0927 ,  G02F1/01 ,  G02F1/0121 ,  G02F1/133553 ,  G02F1/136277 ,  G02F2201/346 ,  G02F2203/12 ,  G02F2203/18

摘要： 自适应光学系统包括：对入射到包含排列成二维状的N个区域的调制面上的光学像的相位进行空间调制的空间光调制器；从上述空间光调制器接收调制后的上述光学像的波前传感器，该波前传感器包括由与上述N个区域分别对应的N个透镜二维状排列而成的透镜阵列，和对包含由该透镜阵列形成的M个会聚光斑的光强度分布进行检测的光检测元件，上述自适应光学系统基于根据上述光强度分布得到的上述光学像的波前形状，对显示于上述空间光调制器的相位图案进行控制来补偿波前畸变，在上述自适应光学系统中，在执行上述波前畸变的补偿时，确定上述空间光调制器的上述区域与形成于上述波前传感器的上述会聚光斑的对应关系。

公开(公告)号：CN101946202B

公开(公告)日：2012-07-25

申请号：CN200980105377.0

申请日：2009-01-13

申请人： 浜松光子学株式会社

发明人： 黄洪欣 ,  井上卓

IPC分类号： G02B21/18 ,  G02B26/10 ,  A61B3/10 ,  A61B3/12 ,  G02B21/06

CPC分类号： A61B3/1025 ,  A61B3/1015 ,  G01J9/00 ,  G02B17/0836 ,  G02B21/06 ,  G02B21/14 ,  G02B27/50

摘要： 观察装置(1)具备光源部(10)、二轴扫描系统(20)、波阵面调制部(30)、光分支部(40)、光检测部(50)、波阵面检测部(60)以及控制部(70)等。波阵面调制部(30)呈现补偿输入光的像差的补偿用相位图形，并且呈现将输入光分支成第一及第二光的分支用相位图形。波阵面检测部(60)接收所输入的光，检测该光的波阵面。在包括由波阵面检测部(60)对光的波阵面变形的检测、基于该检测结果由控制部(70)对相位图形的调整、由波阵面调制部(30)对相位图形的呈现在内的循环处理中，用于进行波阵面像差补偿的补偿用相位图形被反馈控制。