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公开(公告)号：CN112162148B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942414.1
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线单频率跟踪测频方法，单频率跟踪的扫频范围应覆盖将当前频率视为高频频率对应的低频频率扫频范围，以及将当前频率视为低频频率对应的高频谐振频率扫频范围；当前频率作为单频率跟踪的依据和SC晶片双谐振频率中另一个频率的判断依据；在单次扫频测频过程中，必须先保证测到当前频率，若当前频率未测到，则不作另外两个扫频范围的频率判断，若测到当前频率再进行前向频率波形和后向频率波形的判断；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线单频率跟踪测频方法。
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公开(公告)号：CN112162147B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202010942412.2
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法，具体过程如下：1.1)参数设置步骤、1.2)扫频准备步骤、1.3)波形匹配步骤、1.4)数据处理步骤；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法。
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公开(公告)号：CN113645398A
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN202110356809.8
申请日：2021-04-01
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 本发明公开一种基于自动对焦功能的尺寸测量仪系统，1.1)初始化步骤、1.2)对焦判断步骤、1.3)对焦界面信息处理步骤；本发明提供了容易操作、提示简洁、高效反应的一种基于自动对焦功能的尺寸测量仪系统。
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公开(公告)号：CN112304217A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202011104917.8
申请日：2020-10-15
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种基于机器视觉的尺寸测量评分装置及评分方法，其中装置包括操作台、检测台、光源以及相机；所述检测台的中间部位设置有通孔，在通空处设置有透明板；光源设置于检测台下方，与透明板对应设置；相机设置于透明板的正上方，相机固定设置；操作台与光源以及相机电性连接，操作台能够控制光源以及相机的动作；相机和检测台之间设置有激光测距装置；操作台包括显示模块；本发明通过在系统中设置学生、教师、游客权限的管理，并且在教师权限下设置试题制作的功能，实现对于考试题目的编辑和确定。
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公开(公告)号：CN112180160A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202010942378.9
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统，包括单次扫频双谐振频率波形匹配功能、单次扫频谐振频率数据处理功能、单位时间内数据处理功能；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112162148A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942414.1
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线单频率跟踪测频方法，单频率跟踪的扫频范围应覆盖将当前频率视为高频频率对应的低频频率扫频范围，以及将当前频率视为低频频率对应的高频谐振频率扫频范围；当前频率作为单频率跟踪的依据和SC晶片双谐振频率中另一个频率的判断依据；在单次扫频测频过程中，必须先保证测到当前频率，若当前频率未测到，则不作另外两个扫频范围的频率判断，若测到当前频率再进行前向频率波形和后向频率波形的判断；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的在线单频率跟踪测频方法。
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公开(公告)号：CN112162147A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942412.2
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法，具体过程如下：1.1)参数设置步骤、1.2)扫频准备步骤、1.3)波形匹配步骤、1.4)数据处理步骤；本发明提供了一种处理效率高、操作便捷，数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨的测频测试的波形匹配方法。
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公开(公告)号：CN112162145A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202010942393.3
申请日：2020-09-09
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/02 , G01R29/027 , G01R29/033
Abstract: 本发明公开了一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法，自动搜索实现对SC晶片当前频率的搜索，并且根据自动搜索的不同结果进行不同的处理，若指定圈数内未搜索到频率则系统提示搜索异常报警，若搜索到一个频率则进行单频率跟踪测频流程，若搜索到两个频率则进行双频率跟踪测频流程；同时当系统出现测频异常且频率未到达停机阈值时，调用自动搜索功能重新搜索频率；本发明提供了一种处理效率高、数据精度高，双模频率精准区分的一种SC切型石英晶片在线研磨测频系统的自动搜索方法。
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公开(公告)号：CN110376211A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910726981.0
申请日：2019-08-07
Applicant: 浙江大学台州研究院
Abstract: 一种湿法涂胶的合成革卷边在线检测装置及方法，包括支撑杆、支撑杆底盘、横杆一、横杆二、背光源、短杆、支杆、正面光源、采图模块、报警灯、工控机以及电气控制柜；所述支撑杆设置于支撑底盘，支撑底盘设置于地面，支撑杆竖立于检测点左右两侧；所述横杆一设置于支撑杆之间；所述背光源设置于横杆一上；所述短杆设置于支撑杆，短杆与支撑杆之间设置支杆；所述横杆二设置于短杆之间；所述采图模块、正面光源以及报警灯设置于横杆二；所述工控机与电气控制柜设置于支撑杆，工控机与采图模块以及正面光源电性连接；本发明通过机器代替人工，避免了人工检查可能存在漏检或是发现问题不及时的情况发生，保证了生产布匹的质量。
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公开(公告)号：CN110187175A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910608688.4
申请日：2019-07-08
Applicant: 浙江大学台州研究院
IPC: G01R23/06
Abstract: 本发明公开了一种石英晶片抛光研磨在线测频系统，包括DDS信号模块、射频功率放大模块、π网络接口电路模块、阻抗匹配模块、信号处理模块、MCU控制系统模块和用于为以上模块提供工作电压的电源模块，所述DDS信号模块根据MCU控制系统模块发出指定的扫频指令产生指定频率范围和扫频速度，输出功率的正弦扫频信号，经过射频功率放大模块把DDS信号模块产生的谐振信号进行功率放大，功率放大后的信号连接到π网络接口电路模块，正弦扫频信号通过π网络作用在晶片上使其产生机械振动，同时晶片的机械振动又产生交变电场，当外加的正选扫频信号频率为某一特定值的时候，振幅明显增大，当产生振幅明显增大的信号时，再去捕获有效信号。
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