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公开(公告)号：CN112189134A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN201980032436.X
申请日：2019-01-22
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: G01N23/041
Abstract: 本X射线成像装置(100)具备摄像系统(CS)、移动机构(8)、位置信息获取部(7a)、以及图像处理部(6)，其中，所述摄像系统(CS)包括X射线源(1)、检测器(5)以及多个光栅，所述图像处理部(6)基于多个X射线图像(10)和获取到的断层位置(z+jd)来获取断层面(40)中的相位分布，由此生成断层面的相位对比度图像(16)。
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公开(公告)号：CN111343921A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN201880073065.5
申请日：2018-11-08
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 本发明的X射线摄影装置(100)构成为，图像处理部(50a)基于在相对于被摄物(T)的多个相对位置而在第一检测区域(R1)中获取的多个第一图像(71a)来生成相位对比度图像(71)，并且基于在相对于被摄物的多个相对位置而在第二检测区域(R2)中获取的多个第二图像(72a)来生成吸收像(72)。
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公开(公告)号：CN109788928A
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201780059883.5
申请日：2017-07-28
Applicant: 株式会社岛津制作所 , 国立大学法人大阪大学
Abstract: 提供一种能够支持多种拍摄目的的X射线相位差摄影装置。本发明的装置能够变更多缝(3b)的狭缝的排列间距以及相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距。多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系由多缝(3b)的狭缝的排列间距、相位光栅(5)的相位移位部(5a)的排列间距、以及FPD(4)的检测元件的排列间距来决定。根据本发明，通过变更其中的狭缝的排列间距和相位移位部(5a)的排列间距，能够变更多缝(3b)、相位光栅(5)、FPD(4)的位置关系。
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公开(公告)号：CN107427269A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201580077485.7
申请日：2015-03-06
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00
Abstract: 提供一种将相位光栅与放射线检测器之间的分离距离最优化的放射线相位差摄影装置。即，根据本发明，以检测面(4a)中拍进的自身像被噪声扰乱了何种程度为基准来决定相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的分离距离。即，在本发明的结构中，将噪声的影响的大小确定为分离距离的评价的基准。而且，根据本发明，基于在将相位光栅(5)与FPD(4)的检测面(4a)之间的距离设为某个距离(Zd)时得到的自身图像上的自身像被噪声扰乱了何种程度来判断距离(Zd)是否适于摄影。这样，能够基于照射多个种类的X射线的实际的X射线源(3)的实际情况来实现分离距离的最优化。
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公开(公告)号：CN100385922C
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN200510062956.5
申请日：2005-03-31
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 在根据本发明的射线照相装置中，当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时，信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B-18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X-射线检测信号。由于非标准X-射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X-射线图像的缺陷信息转换获得的，所以，不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果，可以不管射线检测元件是如何分配给X-射线图像中的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X-射线检测信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1265765C
公开(公告)日：2006-07-26
申请号：CN200410003946.X
申请日：2004-02-10
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: A61B6/4233 , A61B6/02 , G06T11/005 , G06T2211/412
Abstract: 当X射线管发射X射线时，X光线照相设备从取自平板X射线检测器的辐射检测信号中获取除去了滞后部分的无滞后辐射检测信号。当假设由N个具有不同衰减时间常数的指数函数形成的脉冲响应引起包含于每一个所述辐射检测信号中的滞后部分时，利用递归计算去除滞后部分。由无滞后辐射检测信号创建X射线图像。
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公开(公告)号：CN1678036A
公开(公告)日：2005-10-05
申请号：CN200510062956.5
申请日：2005-03-31
Applicant: 株式会社岛津制作所
Abstract: 在根据本发明的射线照相装置中，当射线照相模式指定器16指定一种非标准射线照相模式时，信号纠正器15利用存储在非标准图像缺陷信息存储器18B－18E中的缺陷信息纠正从FPD 2输出的X－射线检测信号。由于非标准X－射线的像素缺陷信息是通过像素缺陷信息转换器19从存储在标准图像缺陷信息存储器18A中的标准X－射线图像的缺陷信息转换获得的，所以，不需要再次从FPD 2收集用于像素缺陷信息获得的输出信号。结果，可以不管射线检测元件是如何分配给X－射线图像中的像素的，迅速地纠正由于射线检测元件的缺陷造成的异常X－射线检测信号。
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公开(公告)号：CN111839558B
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202010213056.0
申请日：2020-03-24
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/40 , A61B6/42 , A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 本发明提供一种X射线相位成像装置。在该X射线相位成像装置中，多个光栅中的至少一个光栅由沿着与第一方向及第二方向正交的第三方向排列配置的多个光栅部分构成，所述第一方向是利用移动机构使被摄体或摄像系统移动的方向，所述第二方向是X射线源、检测部以及多个光栅排列的方向。而且，多个光栅部分构成为：从第一方向观察时，相邻的光栅部分彼此重叠。
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公开(公告)号：CN111343921B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN201880073065.5
申请日：2018-11-08
Applicant: 株式会社岛津制作所
IPC: A61B6/00 , G01N23/041
Abstract: 本发明的X射线摄影装置(100)构成为，图像处理部(50a)基于在相对于被摄物(T)的多个相对位置而在第一检测区域(R1)中获取的多个第一图像(71a)来生成相位对比度图像(71)，并且基于在相对于被摄物的多个相对位置而在第二检测区域(R2)中获取的多个第二图像(72a)来生成吸收像(72)。
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公开(公告)号：CN107407735B
公开(公告)日：2019-07-09
申请号：CN201680014450.3
申请日：2016-01-26
Applicant: 株式会社岛津制作所
CPC classification number: G01T1/2006 , A61B6/4241 , G01T1/20 , G01T1/2018 , H01L27/14629 , H01L27/14634 , H01L27/14638
Abstract: 提供一种能够进行可诊断性高的双能拍摄的、X射线敏感度更高的X射线检测器。X射线检测器(1)包括：闪烁体元件(15)，其由遮光壁(17)划分，将低能量的X射线转换成光；以及闪烁体元件(19)，其由遮光壁(21)划分，将高能量的X射线转换成光。从X射线的入射方向来看，遮光壁(17)的位置图案与遮光壁(21)的位置图案构成为未对齐。因此，入射到X射线检测器(1)的X射线被至少任意一方的闪烁体元件转换成光，最终作为X射线检测信号输出。即，即使在X射线检测器(1)中形成有遮光壁的情况下，无法检测到X射线的区域也不再存在。因而，能够利用遮光壁提高X射线图像的分辨率，并且能够提高X射线检测器的X射线敏感度。
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