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公开(公告)号：CN100578586C
公开(公告)日：2010-01-06
申请号：CN200410104855.5
申请日：2004-12-24
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/32 , G09G2320/0247 , G09G2320/041 , G09G2340/0435
Abstract: 在室温下正常工作的半导体显示器件，在低温下可以不正常工作。同时，在具有相同电路构造和相同驱动方法的半导体显示器件中，工作频率越高，显示质量就越好。于是，其工作频率根据室温被设定的半导体显示器件，就可能在低温下不正常工作。根据本发明，半导体显示器件的温度和工作状态被测量，以便根据测量结果来改变工作频率。更具体地说，工作频率在低温下被降低，以便得到正常的工作，同时，工作频率在室温和高温下被提高，以便改善显示质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101211552A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200710300484.1
申请日：2007-12-28
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/2096 , G06F3/14 , G06F3/147 , G09G3/2092 , G09G2330/02 , G09G2370/16 , G09G2380/04 , G09G2380/06 , H04N5/66
Abstract: 本发明的目的是提供一种不需要用于连接到显示器件并将图像信号直接输入到显示器件的诸如FPC或电缆那样的输入/输出端子并且可以提供操作者想要的设置值、显示图像等等的显示器件。本发明的显示器件包括显示部分、从外部操作或输入的控制台部分、用来发送和接收无线电信号的天线部分、用来控制输入到控制台部分的信号和在天线部分发送或接收的信号的控制器部分、和将在天线部分接收的无线电信号变换成电功率并保持该电功率以驱动显示部分的电池部分。
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公开(公告)号：CN101211552B
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN200710300484.1
申请日：2007-12-28
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/2096 , G06F3/14 , G06F3/147 , G09G3/2092 , G09G2330/02 , G09G2370/16 , G09G2380/04 , G09G2380/06 , H04N5/66
Abstract: 本发明的目的是提供一种不需要用于连接到显示器件并将图像信号直接输入到显示器件的诸如FPC或电缆那样的输入/输出端子并且可以提供操作者想要的设置值、显示图像等等的显示器件。本发明的显示器件包括显示部分、从外部操作或输入的控制台部分、用来发送和接收无线电信号的天线部分、用来控制输入到控制台部分的信号和在天线部分发送或接收的信号的控制器部分、和将在天线部分接收的无线电信号变换成电功率并保持该电功率以驱动显示部分的电池部分。
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公开(公告)号：CN101013551B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200710006328.4
申请日：2007-02-02
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/006 , G09G2310/0267 , G09G2310/0275 , G09G2320/029
Abstract: 本发明提供一种具有用于在附加反衬底之后且装运之前的步骤中进行测试的、具有高精度的测试电路的显示设备，以及提供一种在显示设备内部对于缺陷出现的情况具有校正电路的显示设备。由栅极线和源极线操作的像素电路，与栅极线同时形成的第一布线，与源极线同时形成的第二布线，以及通过使用第一布线和第二布线的电位检测像素电路的缺陷的测试电路提供在衬底上。
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公开(公告)号：CN101013551A
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200710006328.4
申请日：2007-02-02
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/006 , G09G2310/0267 , G09G2310/0275 , G09G2320/029
Abstract: 本发明提供一种具有用于在附加反衬底之后且装运之前的步骤中进行测试的、具有高精度的测试电路的显示设备，以及提供一种在显示设备内部对于缺陷出现的情况具有校正电路的显示设备。由栅极线和源极线操作的像素电路，与栅极线同时形成的第一布线，与源极线同时形成的第二布线，以及通过使用第一布线和第二布线的电位检测像素电路的缺陷的测试电路提供在衬底上。
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公开(公告)号：CN1637819A
公开(公告)日：2005-07-13
申请号：CN200410104855.5
申请日：2004-12-24
Applicant: 株式会社半导体能源研究所
CPC classification number: G09G3/32 , G09G2320/0247 , G09G2320/041 , G09G2340/0435
Abstract: 在室温下正常工作的半导体显示器件，在低温下可以不正常工作。同时，在具有相同电路构造和相同驱动方法的半导体显示器件中，工作频率越高，显示质量就越好。于是，其工作频率根据室温被设定的半导体显示器件，就可能在低温下不正常工作。根据本发明，半导体显示器件的温度和工作状态被测量，以便根据测量结果来改变工作频率。更具体地说，工作频率在低温下被降低，以便得到正常的工作，同时，工作频率在室温和高温下被提高，以便改善显示质量。
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