公开(公告)号：CN101101285B

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN200710112245.3

申请日：2001-09-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三好浩二 ,  阿河昌弘 ,  重松薰

IPC: G01N33/558

Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。

公开(公告)号：CN102012413A

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：CN201010294813.8

申请日：2001-09-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三好浩二 ,  阿河昌弘 ,  重松薰

IPC: G01N30/90 ,  G01N30/95 ,  G01N33/543

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/8483 ,  G01N30/95 ,  G01N33/542 ,  G01N33/54386 ,  G01N33/558 ,  Y10S435/967 ,  Y10S435/97 ,  Y10S436/805 ,  Y10S436/81

Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。

公开(公告)号：CN1271402C

公开(公告)日：2006-08-23

申请号：CN01802901.9

申请日：2001-09-25

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 三好浩二 ,  阿河昌弘 ,  重松薰

IPC: G01N21/27 ,  G01N30/90

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/8483 ,  G01N30/95 ,  G01N33/542 ,  G01N33/54386 ,  G01N33/558 ,  Y10S435/967 ,  Y10S435/97 ,  Y10S436/805 ,  Y10S436/81

Abstract: 本发明所涉及的色层分析定量测量装置的构成是：在由光源(201)相对于色层分析试片(8)照射的光束被柱面透镜(205)等光学部件形成椭圆形状并照射在标识试剂保持部(82)和检测部(83)之间的状态下，检测伴随着标识试剂的洗提的吸光度的变化，并自该检测后在一定时间后自动地开始测量。利用这样构成的色层分析定量测量装置，通过利用光学部件使光束成为椭圆形状，可以缓和显色不均并使定量分析高精度化，此外，还可以实现装置的操作性简单的色层分析测量装置。