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公开(公告)号：CN119534354A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202510089895.9
申请日：2025-01-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G01N21/25 , G01N21/63 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种材料掺杂检测方法、装置、电子设备及存储介质，涉及材料掺杂技术领域，包括：获取待检样品的掺杂体系信息，掺杂体系信息包括：主体材料信息、掺杂材料信息和掺杂标准信息，主体材料信息为主体材料与掺杂相关的信息，掺杂材料信息为掺杂进主体材料中的材料的信息，掺杂标准信息指掺杂成功后形成的掺杂体系的信息；获取待检样品在光致发光后的高光谱数据；基于高光谱数据和掺杂体系信息，得到待检样品的材料掺杂检测结果。本申请技术方案旨在解决如何在不损伤样品的前提下高效地检测出材料掺杂的结果的技术问题。
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公开(公告)号：CN118408932B
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202410870052.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种Micro‑LED检测设备及检测方法，属于Micro‑LED检测技术领域，该设备包括运动台、激光器、物镜、反射镜、采集器、半透半反镜、第一灰度相机、第二灰度相机。本申请提供的上述方案，在反射镜处于第一位置时，物镜成像后发出的光经过半透半反镜后，会分别进入到第一灰度相机和第二灰度相机中，后经过图像采集卡发送给计算机；在反射镜处于第二位置时，物镜成像后发出的光会经过反射镜后进入到采集器中，采集器通过标准光谱或色度对光图像进行标定，标定后的光图像经过图像采集卡发送给计算机，计算机再分析、计算标定后的光图像和经过灰度相机处理的光图像，从而实现Micro‑LED快速、高精度检测。
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公开(公告)号：CN118640956B
公开(公告)日：2024-11-19
申请号：CN202411105170.6
申请日：2024-08-13
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种星上定标板及其制备方法、星上定标器件，属于航天遥感技术领域，星上定标板包括：基板，以及依次位于基板的入光侧的生长衬底、衰减层和保护层；衰减层包括层叠设置的掺杂层和隔断层，掺杂层和生长衬底接触；掺杂层中包括第一材料和第二材料，第一材料和第二材料之间的透过率至少相差10%。本申请解决了多孔板作为星上定标板微孔容易受到堵塞，导致保存困难的技术问题，且保护层能够抵抗星上定标工作环境下宇宙粒子和紫外辐照的侵蚀。
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公开(公告)号：CN118734726A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202411236351.2
申请日：2024-09-04
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于优化材料配方的技术领域，公开了一种材料配方优化方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：使用孤立森林算法，从各发光材料的材料光谱数据中剔除异常数据，得到样本光谱数据，获取各样本光谱数据的测量光谱强度和实际光谱强度，用以结合光谱强度计算公式，构建透过率计算模型，利用L‑BFGS算法，根据透过率计算模型和不同材料的掺入量与实际光谱强度的函数关系式，结合材料组合对应的CIE坐标与期望坐标的差值，确定多个材料组合的最优配方组合；通过L‑BFGS算法、透过率计算模型、不同材料的掺入量与实际光谱强度的函数关系式、期望坐标和CIE坐标，确定材料组合的最优配方组合，以对材料配方进行优化，提高了材料配方的优化效率。
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公开(公告)号：CN117939308A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410298423.X
申请日：2024-03-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种偏振成像方法、装置、电子设备及存储介质，属于光学成像技术领域，该方法包括：获取偏振图像采集设备生成的原始偏振图像；根据所述偏振图像采集设备中的预设偏振方向，将所述原始偏振图像分解为多张遮挡图像，其中，各所述遮挡图像之间的偏振方向不同，各所述遮挡图像中的偏振方向相同；对各所述遮挡图像进行图像还原处理，得到目标偏振图像。本发明通过图像遮挡和图像还原处理，实现了提升偏振成像的图像质量的技术效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114441149A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202210371679.X
申请日：2022-04-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提出的一种微米发光二极管检测系统及检测方法，属于发光二极管检测领域，其中，系统包括第一光发生模块，用于发出第一光信号至多个待测微米发光二极管，以使多个待测微米发光二极管生成第二光信号；高光谱相机，所高光谱相机用于采集第二光信号，获得光谱成像帧，光谱成像帧中包括多个待测微米发光二极管的光谱数据；控制模块，与高光谱相机连接，用于基于光谱成像帧，从多个待测微米发光二极管中确定出缺陷微米发光二极管，其中，多个待测微米发光二极管，在接收到第一光信号中的光能后，激发自身以生成第二光信号。本发明实现同时准确对多个微米发光二极管进行检测，提高了在生产中对微米发光二极管的检测效率。
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公开(公告)号：CN119039969A
公开(公告)日：2024-11-29
申请号：CN202411545049.5
申请日：2024-11-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及OLED技术领域，特别涉及一种MR‑TADF有机微晶自组装量子点、其制备方法及应用。其中，所述MR‑TADF有机微晶自组装量子点从内至外包括晶核层、过渡层和连接层；所述晶核层为MR‑TADF有机分子；所述过渡层包括弱极性小分子或短链分子；所述连接层包括强极性小分子或含脂肪链长链分子。所述MR‑TADF有机微晶自组装量子点可在UV固化胶进行自组装且固化为稳定相，可应用于制备色转发光器件、色转发光面板等，具有色纯度高，使用寿命长，制备方法简单等优点。
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公开(公告)号：CN117939308B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410298423.X
申请日：2024-03-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种偏振成像方法、装置、电子设备及存储介质，属于光学成像技术领域，该方法包括：获取偏振图像采集设备生成的原始偏振图像；根据所述偏振图像采集设备中的预设偏振方向，将所述原始偏振图像分解为多张遮挡图像，其中，各所述遮挡图像之间的偏振方向不同，各所述遮挡图像中的偏振方向相同；对各所述遮挡图像进行图像还原处理，得到目标偏振图像。本发明通过图像遮挡和图像还原处理，实现了提升偏振成像的图像质量的技术效果。
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公开(公告)号：CN118153692A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410580190.2
申请日：2024-05-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及多模态数据应用技术领域，公开了一种基于语义的跨模态知识联想方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取跨模态知识及其对应的语言描述作为语义跨模态数据集；构建跨模态知识联想模型，跨模态知识联想模型包括语义mask子模型和融合变换因子生成子模型，语义mask子模型用于对语义跨模态数据集进行遮罩处理生成与语言描述最相关的部分数据，融合变换因子生成子模型用于对语义跨模态数据集进行处理生成变换因子；将语义跨模态数据集输入经过训练的跨模态知识联想模型中，输出符合语言描述的跨模态知识联想。本发明方法能够实现将最符合模型当前任务的跨模态知识联想用于下游任务，大幅提升深度学习模型面对跨模态任务的泛化能力。
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公开(公告)号：CN118067672A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410163359.4
申请日：2024-02-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种光谱检测方法及装置，所述光谱检测方法包括通过第一线偏振片在第一方向上对光源光过滤以得到偏振光；将所述偏振光照射至待检物上，并接收从所述待检物上发出的混合光；通过第二线偏振片在第二方向上对所述混合光过滤以得到检测光；获取所述检测光的高光谱图像；对所述高光谱图像进行预处理，以获取类图形光谱数据；根据所述类图形光谱数据获取对应的检测结果；所述第一方向与所述第二方向垂直。本发明技术方案提高检测精度，处理结果更可靠。
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