行走机构及绝缘子串自动除冰装置

    公开(公告)号:CN112736824B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202110006723.2

    申请日:2021-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种行走机构及绝缘子串自动除冰装置,该行走机构,包括:底座,其上形成有沿绝缘子串排布方向延伸的滑轨;固定座,其固定在所述底座上;活动座,其沿所述滑轨的延伸方向滑动;夹持机构,其包括两个,两个所述夹持机构分别设置于所述固定座和所述活动座上,每个所述夹持机构均用于夹持相邻所述绝缘子串中的相邻两个绝缘子之间的轴体;丝杠,其沿所述滑轨的延伸方向布置,所述丝杠穿设所述活动座并与所述活动座形成螺旋传动,所述丝杠的头部伸入至所述固定座,以使所述丝杠能够相对于所述固定座转动;电机,其固定在所述底座上并连接至所述丝杠的尾部,所述电机用于驱动所述丝杠转动。

    快速存储器的测试方法及测试装置、存储介质、芯片

    公开(公告)号:CN115620794B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202211442462.X

    申请日:2022-11-18

    Abstract: 本发明涉及芯片技术领域,具体公开了一种快速存储器的测试方法及测试装置、存储介质、芯片,其中,快速存储器包括非易失性寄存器存储阵列,测试方法包括:按照预设规则对快速存储器的校准参数进行处理得到校准值,其中,校准参数是对快速存储器进行校准获得的;将校准值写入非易失性寄存器存储阵列,以在快速存储器上电复位时从非易失性寄存器存储阵列中读出校准值,并根据预设规则对校准值进行校验以识别校准参数是否正确。由此,实现了对校准参数的校验功能,避免了因非易失性寄存器存储阵列的可靠性问题导致校准参数出错,进而产生不良后果的问题,有效提高了快速存储器的整体可靠性。

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