公开(公告)号：CN118730484A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202410910889.0

申请日：2024-07-09

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 严云翔 ,  逄昱宸 ,  周嘉仪 ,  朱龙发 ,  皇甫林青 ,  汪盛佳 ,  闫奇 ,  耿涛 ,  孙伟民

IPC: G01M11/00

Abstract: 本发明提供一种光纤扰模综合测量系统，涉及光纤扰模综合测量技术领域。所述光纤扰模综合测量系统包括：光源、光纤跳线、第一FC转接口、第一六维位移调整台、滤光片系统、第一消色差透镜、分束立方体、可调光阑、第二消色差透镜、第三消色差透镜、第四消色差透镜、第一高倍率成像系统、第二高倍率成像系统、第一同轴光、第一光功率计、第二FC转接口、第二六维位移调整台、待测光纤、机械振动扰模系统、第三FC转接口、第三六维位移调整台、第二光功率计、第一抛物面镜、平面反射镜、第二抛物面镜、成像光谱仪、分光片、第五消色差透镜、第三高倍率成像系统、第二同轴光、大靶面成像系统、平行滑轨、上位机。本发明提供的光纤扰模综合测量系统具有准确度高、实现多参量同时测量以及提高光纤扰模参数测量精度等的优点。

公开(公告)号：CN118603331A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410465945.4

申请日：2024-04-18

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 高帅 ,  汪盛佳 ,  常青 ,  方未东

IPC: G01J9/02

Abstract: 本发明属于光学干涉测量技术领域，具体涉及矢量微分剪切干涉仪用二维微分相位分布同步提取方法，包括以下步骤：步骤一：搭建光学系统，以三束物光通过正交矢量微分剪切干涉技术进行调整，使三束物光两两之间形成错位干涉，在干涉平面上，建构公式①和②；步骤二～七：利用相移装置，分别对三束物光进行相移；步骤八：将步骤二～七中储存的具有相移的矢量微分剪切干涉结果I1～I6带入公式②，得到两个正交方向上的微分相位分布#imgabs0#和#imgabs1#本发明能够在不损失光学系统空间分辨率的前提下，有效解决矢量微分剪切干涉图中二维微分相位的耦合问题，实现对二维微分相位分布的同步分离和定量提取。

公开(公告)号：CN111610582B

公开(公告)日：2022-10-28

申请号：CN202010498463.0

申请日：2020-06-04

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 孙伟民 ,  张英华 ,  耿涛 ,  闫奇 ,  陈旭东 ,  金夕人 ,  陈龙震 ,  朱清柱 ,  王佳斌 ,  严云翔 ,  汪盛佳

IPC: G02B3/00

Abstract: 本发明属于光学设计领域，具体涉及是一种用于日冕观测的扇形微透镜阵列。本发明为一扇形微透镜阵列，用于积分视场单元的微透镜阵列为扇形，由多个不同尺寸的扇形微透镜单元组成；所述的扇形微透镜阵列，外层扇形微透镜单元的面积大于内层扇形微透镜单元，力求不同层的扇形微透镜单元通光量接近；扇形微透镜单元的外弧长与其径向长度成比例，以保证每个扇形微透镜单元的外接圆半径最小，使扇形微透镜单元具有最小的球差。本发明通过使扇形微透镜单元的径向长度随着日冕半径的增加而增加，或随着日冕半径的增加而使每扇形微透镜单元对应的圆心角增大，实现组成扇形微透镜阵列的每个扇形微透镜单元的通光量基本一致，保证了微透镜通光的均匀性。

公开(公告)号：CN111707206A

公开(公告)日：2020-09-25

申请号：CN202010498424.0

申请日：2020-06-04

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 孙伟民 ,  张英华 ,  耿涛 ,  闫奇 ,  陈旭东 ,  金夕人 ,  陈龙震 ,  朱清柱 ,  王佳斌 ,  严云翔 ,  汪盛佳

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明属于光纤传感应用领域，具体涉及一种用于对单点及多点发生微弯进行检测的带位置检测功能的量子点光纤微弯传感器。本发明使用紫外光作为激励光源，在光纤内部传播，当发生微弯损耗时，紫外光溢出纤芯激发涂覆在包层外特定位置的量子点颗粒，被激发的量子点发出特征光谱，并耦合回光纤纤芯，被探测端的光谱仪检测、分析，并确认微弯损耗发生位置和微弯程度。本发明使用光纤的数量与使用量子点的数量相同能最大化使用效率。如果使用N根光纤以及N种荧光材料，能将检测区域区分为N(N+1)个区域，相比初始的一种量子点只能检测一个位置有了大大的提高。