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公开(公告)号：CN119415752A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411466028.4
申请日：2024-10-21
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G06F16/9035 , G06F16/906 , G06F18/22
Abstract: 本申请涉及一种芯片检测方法、系统及计算机设备。为了改善现有的芯片数据处理能力检测方法，使之能够检测芯片在实际应用时遇到的所有数据情景及运行的所有操作，本申请针对芯片相关的每个处理功能信息，通过一系列步骤在数据库中筛选出对应目标数据处理任务的评价指标信息，确保每个评价指标都与目标数据处理任务和处理功能信息高度相关，提高了生成芯片检测报告的精确性。同时，本申请基于若干处理功能信息及其对应的若干目标数据处理任务，通过数据类型、评价指标信息和处理日志信息多个维度对芯片进行综合评价，确保评价芯片数据处理能力时充分考虑片在实际应用时遇到的所有数据情景及运行的所有操作，提高了生成芯片检测报告的全面性。
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公开(公告)号：CN119355485A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411465270.X
申请日：2024-10-21
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明涉及集成电路芯片技术领域，公开了一种多环境状态下的芯片性能测试方法及装置。该方法获取多个环境状态对应的环境信息，并在各环境信息中识别第一芯片的多个关键影响因素；结合各关键影响因素分析第一芯片的多个历史运行信息，得到各环境状态对应的多个芯片影响参数；基于第一芯片的结构参数信息和多个芯片影响参数，构建各环境状态对应的仿真测试模型；利用各环境状态对应的仿真测试模型分别对第一芯片进行性能测试，得出第一芯片在各环境状态下的测试结果；分别对第一芯片在各环境状态下的测试结果进行分析调整，得出第一芯片在各环境状态下的芯片运行性能。本发明提高了多环境条件下芯片性能测试的精准度和效率，降低了测试成本。
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公开(公告)号：CN119293871A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411368700.6
申请日：2024-09-29
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G06F21/71 , G06F18/213 , G06F18/22 , G06F18/23 , G06F18/2433
Abstract: 本发明公开了一种芯片存储区域的数据安全防护方法及系统，所述数据安全防护方法包括：获取若干个数据信息和若干个数据信息的基础信息；基于数据来源和数据处理任务对若干个数据信息进行分组，得到多个数据组；基于数据特征向量及数据类型，从若干个数据信息中得到N个第一异常数据信息；向N个第一异常数据信息的数据来源发送数据核对请求并接收各数据来源传输的确认信息；在N个第一异常数据信息中将没有确认信息的第一异常数据信息作为目标异常数据信息；对目标异常数据信息进行拦截。本发明通过拦截精准筛选的目标异常数据信息，避免了恶意端口传输的数据伪装成待存储的数据信息被存储在芯片的存储区域，提升了对存储区域的数据安全防护效果。
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公开(公告)号：CN119293301A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411368206.X
申请日：2024-09-29
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G06F16/9035 , G06F16/901 , G06F16/906
Abstract: 本发明提出一种芯片数据处理效率优化方法及系统，通过识别芯片当前运行状态，获取若干芯片运行参数；对待处理数据信息进行数据段划分，得到若干数据段并获取所述若干数据段对应的子处理任务，并构建若干数据集合；对若干数据段进行数据类型提取和数据关联处理，得到数据处理结构网图；对数据处理结构网图进行目标数据筛选和数据处理，得到目标数据子处理结果；对芯片的未处理数据段进行序列更新，得到数据信息处理结果。本发明解决现有技术通过减少数据信息的数据量以使数据处理效率提高，却导致出现数据处理结果精度较差的问题。本发明提升了芯片处理的数据段的数量，确保了各数据段的数据处理精准度。
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公开(公告)号：CN119291453A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411368697.8
申请日：2024-09-29
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种芯片寿命评估方法、系统及存储介质，所述芯片寿命评估方法，包括：获取当前时段的芯片运行信息和芯片温度分布图；基于所述芯片温度分布图，得到芯片老化速率和当前故障概率；基于所述当前故障概率和所述芯片运行信息，得到当前受损率；基于所述当前受损率和所述芯片老化速率评估芯片的剩余寿命。受损率和芯片老化速率可以较好地表征芯片的受损程度，而芯片的受损程度与芯片的寿命高度相关，本发明从芯片的受损程度作为评价角度来评估芯片的剩余寿命，可以避免了对芯片通过多种测试仪器、以及复杂的测试流程进行综合测试，耗费大量的资源成本、时间成本以及人力成本的问题，进而可以有效提高了芯片的寿命评估效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119248555A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411351377.1
申请日：2024-09-26
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G06F11/07 , G06F18/2433 , G06F18/22 , G06F16/903
Abstract: 本发明提供了一种芯片处理异常的自动纠错方法和系统，该方法包括：获取芯片的当前处理数据和当前运行信息；基于当前运行信息获取运行异常原因和运行异常信息；基于运行异常信息获取异常趋势信息；基于当前处理数据获取当前异常数据；基于运行异常原因、异常趋势信息以及当前异常数据，获取数据异常原因和数据异常类型；基于数据异常原因和数据异常类型对当前异常数据进行数据纠错处理，实现自动纠错。本发明提供的一种芯片处理异常的自动纠错方法和系统，有效避免了整体纠错会出现重复纠错的技术问题，在实现自动纠错的同时提升了纠错的精确度、提高了芯片自动纠错效率。
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公开(公告)号：CN118209818A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410328999.6
申请日：2024-03-21
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G01R31/08 , G06F18/2411 , G06N20/10 , G06F30/27 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种故障区段确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法故障区段确定方法应用于包含分布式电源的配电网，配电网由N个区段构成，配电网的每个端点设置有故障行波采集装置，该方法包括：获取至少一个故障行波采集装置采集的故障行波数据；将故障行波数据输入区段分类模型，输出N个区段中故障行波数据对应的故障发生区段。采用本方法能够快速准确地确定故障发生区段，为配电网运行安全和检修提供数据支持，大大缩短了配电网故障处理和恢复供电的时间，提高了配电网供电的可靠性与安全性。
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公开(公告)号：CN119414206A
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411542979.5
申请日：2024-10-31
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种低功耗条件下的芯片自检方法、系统、设备及介质，所述低功耗条件下的芯片自检方法包括：实时获取芯片的运行功耗；当运行功耗低于预设阈值时，获取芯片的当前运行状态和芯片自检任务；基于芯片自检任务得到各子自检任务；基于当前运行状态和芯片自检任务进行当前芯片自检处理；在完成当前芯片自检处理后，获取新运行状态和剩余芯片自检任务，并基于新运行状态和剩余芯片自检任务继续进行芯片自检处理，直到完成所有子自检任务。由此本发明在运行功耗低于预设阈值时根据当前获取的运行状态和芯片自检任务进行芯片自检，能够在低功耗条件进行芯片自检，进而有效降低芯片自检的功耗。
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公开(公告)号：CN119296619A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411421392.9
申请日：2024-10-12
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G11C29/08
Abstract: 本发明公开了一种芯片存储性能的检测方法及装置，所述方法包括：获取芯片的检测信息集，所述检测信息集包括芯片存储规格的规格信息、芯片存储性能影响因素的因素信息和芯片存储数据的数据类型的类型信息；利用所述检测信息集生成芯片的多个存储性能测试策略，并记录每个所述存储性能测试策略对应的测试日志信息；采用所述测试日志信息计算芯片的存储性能变化值，基于所述存储性能变化值确定芯片的存储性能检测结果。本发明通过芯片的多种信息构建测试策略，再结合不同测试策略进行综合测试，从而可以提升检测的精准度，降低检测的误差，以满足现有的检测需求。
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公开(公告)号：CN119291458A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411421393.3
申请日：2024-10-12
Applicant: 南方电网数字电网研究院股份有限公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请提供一种用于芯片运行过程的检测方法及系统，该方法包括获取检测任务，基于所述检测任务获取若干个检测目标，进而得到若干个所述检测目标对应的若干个原始检测流程，基于若干个所述检测目标，获取若干个所述原始检测流程对应的若干个目标运行流程，基于若干个所述目标运行流程，调整若干个所述原始检测流程，得到若干个最终检测流程，获取当前运行流程，基于所述当前运行流程在若干个所述最终检测流程中识别出当前目标检测流程，基于所述当前目标检测流程对芯片进行检测，得到芯片运行过程的检测结果，实现了芯片运行流程和检测流程的同步进行，并进一步通过对芯片动态运行流程的实时检测，提高了芯片性能检测结果的精确度。
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