一种简易的斜照明式彩色共聚焦测量系统及检测方法

    公开(公告)号:CN112857264B

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202110097632.4

    申请日:2021-01-25

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明涉及一种简易的斜照明式彩色共聚焦测量系统,包括复色点光源模块、色散镜头模块、运动载物模块、反射镜和光线采集计算模块。复色点光源模块发出光斜向下透过色散镜头模块,至运动载物模块,再斜向上反射至反射镜,二次反射至光线采集计算模块。运动载物模块装载被测物。将入射光以倾斜角投射到被测物表面,不同波长的光聚焦到不同的轴向高度,在被测物表面形成光斑,光线采集计算模块接收和分析光波信号,移动被测物,光线采集计算模块采集被测物所有采样点信息并进行点云建模生成表面三维形貌信息。本测量系统和检测方法适用于无法在垂直方向上检测样品表面形貌,如航空发动机转子叶片的表面形貌测量、玻璃等透明材料的厚度测量。

    一种斜照明式的彩色共聚焦测量系统及检测方法

    公开(公告)号:CN112857263A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110097625.4

    申请日:2021-01-25

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明涉及一种斜照明式的彩色共聚焦测量系统及检测方法,测量系统包括光源模块、色散镜头模块、运动载物模块、反射镜头模块和采集计算模块。光源模块射出复色光束通过色散镜头模块,色散成不同波长的多个光束,再聚焦至运动载物模块上的被测物,移动运动载物模块以进行被测物表面各位置图像信息采集,光纤再反射至反射镜头模块又180度反射回来,射向采集计算模块。采集计算模块采集被测物表面反射的聚焦光斑的波长和颜色信息,通过波长信息计算出被测物表面的相对轴向高度数据,将采样点信息的轴向高度与对应的水平位置坐标信息进行三维点云建模生成表面形貌图像。本测量系统和检测方法适用于在几何空间受限时,检测样品表面形貌。

    一种光学玻璃瑕疵检测装置及其厚度计算方法

    公开(公告)号:CN111289540A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN202010172383.6

    申请日:2020-03-12

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开了一种光学玻璃瑕疵检测装置以及光学玻璃厚度计算方法,装置包含光源发射机构和成像机构;其中,所述光源发射机构包含复色光源以及色散构件,所述色散构件包括用于将复色光源发射的光线进行分光为不同波长的光线的光纤束、以及用于将经光纤束进行分光后的光线沿轴向进行色散以使不同波长的光线分别聚焦在被测光学玻璃的不同高度位置处的平面上的色散管镜;所述成像机构包含有用于供所述被测光学玻璃预设高度的平面反射出的光线通过的小孔阵列、以及用于将通过小孔阵列的光线成像的相机,实现了对光学玻璃上下表面、亚表面和内部缺陷瑕疵的检测。

    基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原方法

    公开(公告)号:CN112734916B

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202110097600.4

    申请日:2021-01-25

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明提供一种基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原方法,该算法首先针对线扫描并行彩色共聚焦系统得到的多张图像进行目标提取和图像拼接,得到所需要处理的拼接图像信息;其次,通过形态学处理和质心提取算法得到每个被测点的质心连通区域;最后,对拼接图像中每个被测点的质心连通区域进行“H值‑高度”转换,根据H值得到相对应被测点的高度,再结合插值拟合算法实现物体表面三维形貌的重构。本发明的算法利用掩膜进行抠图的方式避免了杂散光和离焦光所导致的图像噪声的影响,可以精确地提取出所需要处理的目标光点区域,提高了处理精度,同时,图像拼接的应用也在一定程度上大大缩短处理耗时,提高处理效率。

    一种并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统

    公开(公告)号:CN111412863B

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN202010327432.9

    申请日:2020-04-23

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明涉及一种并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统,其特征在于,包括:从上至下依次排列的复色光源、分光模块、色散模块、载物模块以及位于分光模块一侧的成像模块,被测物位于色散模块和载物模块之间,复色光源发出的复色光经分光模块分光后传播至色散模块进行并行色散,使得不同波长的光线按照波长规律聚焦在各自轴向的不同高度位置处,光线到达被测物表面并由被测物表面反射至分光模块中,再由分光模块对光线进行再次反射,聚焦在被测物表面的波长的光线经反射后到达成像模块成像。本发明的并行彩色共聚焦三维形貌光学测量系统,使用方便,测量效率和测量精度高。

    一种改进的斜照明式彩色共聚焦测量系统和检测方法

    公开(公告)号:CN112857262A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110096581.3

    申请日:2021-01-25

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开了一种改进的斜照明式彩色共聚焦测量系统。该测量系统包括照明光路、水平运动平台、反射光路、采集光路和计算模块。水平运动平台上能安装被测物。照明光路的入射光部分聚焦至被测物表面,再反射至所述发射光路,再在反射光路上反向射回,并经过反射光路上的分光镜侧向射出反射光路,射向所述采集光路。所述计算模块连接于所述采集光路和所述水平运动平台。本发明以倾斜射入测试光波的方式对被测物表面信息进行采集,采集光路采集到的波长信息代表当前测量物表面的相对轴向高度,计算模块通过结合水平运动平台扫描测量被测物整个表面的高度变化值,生成表面三维形貌图。本发明不仅适用于水平表面的探测,也适用于竖直表面的探测。

    基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原算法

    公开(公告)号:CN112734916A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN202110097600.4

    申请日:2021-01-25

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明提供一种基于图像处理的彩色共聚焦并行测量三维形貌还原算法,该算法首先针对线扫描并行彩色共聚焦系统得到的多张图像进行目标提取和图像拼接,得到所需要处理的拼接图像信息;其次,通过形态学处理和质心提取算法得到每个被测点的质心连通区域;最后,对拼接图像中每个被测点的质心连通区域进行“H值‑高度”转换,根据H值得到相对应被测点的高度,再结合插值拟合算法实现物体表面三维形貌的重构。本发明的算法利用掩膜进行抠图的方式避免了杂散光和离焦光所导致的图像噪声的影响,可以精确地提取出所需要处理的目标光点区域,提高了处理精度,同时,图像拼接的应用也在一定程度上大大缩短处理耗时,提高处理效率。

    一种并行彩色共聚焦平面度测量系统

    公开(公告)号:CN111426287A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010327424.4

    申请日:2020-04-23

    Applicant: 华侨大学

    Abstract: 本发明公开了一种并行彩色共聚焦平面度测量系统。该述系统中分光镜设置在复色光源的出射光路上;按照设定排布方式排列的多个光纤构成的柔性光纤束设置在分光镜的出射光路上;按照设定排布方式排列的多个微色散透镜单元构成的微色散透镜阵列与柔性光纤束的出射端耦合;微色散透镜阵列的出射光路上设置待测物,使色散后的不同波长的光聚焦在不同位置上;待测物将到达其表面的光反射至分光镜;按照设定排布方式排列的小孔阵列设置在分光镜的反射光路上以透过聚焦在待测物表面的光;彩色相机对透过小孔阵列的光进行拍摄得到彩色图像,进而确定待测物表面的平面度、弯曲度和翘曲度。本发明能实现多点并行测量,提高待测物体的平面度的测量效率。

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