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公开(公告)号：CN105572429B
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201510975344.9
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开了一种晶体振荡器的固定装置及监测系统。该晶体振荡器的固定装置是由底座、加电测试电路、固定基板和固定压条依次构成；其中，所述底座，用于安装加电测试电路、固定基板和固定压条；所述加电测试电路，用于对晶体振荡器进行加电，使所述晶体振荡器产生相应的频率；所述固定基板，用于将所述晶体振荡器固定在所述底座上；所述固定压条，用于将所述晶体振荡器固定在所述固定基板上。应用本发明实施例提供的晶体振荡器的加固装置，在该固定装置中加入了多路测试电路，使得该晶体振荡器的固定装置在进行振动试验时，不仅可以刚性的固定晶体振荡器，而且可以批量的对晶体振荡器进行实时地监测。
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公开(公告)号：CN110401427A
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201910604923.0
申请日：2019-07-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H3/04
Abstract: 本申请公开了一种封装内热式高精密晶体谐振器及装配方法，解决了高稳石英晶体振荡器现有技术功耗大，体积大的问题。一种封装内热式高精密晶体谐振器，金属片等温体与加热电路分别位于石英晶片的两侧。金属盖和金属基座将石英晶片、金属片等温体和加热电路真空封装，所述加热电路与金属基座上的引脚连接。本申请装置的装配方法，包含以下步骤：加热电路安装在陶瓷基板上；陶瓷基板安装在金属基座上；将石英晶片安装在陶瓷基板的支撑架上；将金属片等温体与陶瓷基板连接；键合处点上导电胶，用真空烤箱使导电胶固化；调试频率，达到频率精度要求；将装置封装。本申请有助于石英晶体振荡器小型化，同时可以很好解决高稳石英晶体振荡器的低功耗要求。
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公开(公告)号：CN105958958B
公开(公告)日：2018-09-25
申请号：CN201610269551.7
申请日：2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种石英晶体谐振器，用以缓解现有技术中的石英晶体谐振器产生的频率老化问题。该石英晶体谐振器包括：上电极、下电极以及石英晶片。所述上电极，包括：上电极衬底、上电极金属膜以及上电极金属引线；所述上电极衬底由绝缘材料制成；所述上电极衬底与所述下电极，分别设置在所述石英晶片的相对的两侧；所述上电极金属膜附着于所述上电极衬底；所述上电极金属膜位于所述上电极衬底与所述石英晶片之间，且所述上电极金属膜与所述石英晶片之间存在空隙；所述上电极金属引线，设置在所述上电极衬底与所述石英晶片之间存在的空隙中；所述上电极金属引线与所述上电极金属膜相连接。申请还公开了一种石英晶体谐振器的制作方法。
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公开(公告)号：CN108169651A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711174137.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请实施例提供一种时钟晶体振荡器检测方法，包括整体检测过程、开封检测过程，所述整体检测过程包括以下步骤：用显微镜外观检查；X光检查、电流电压特征测试、密封测试、颗粒碰撞试验、超声扫描显微镜检测；所述开封检测包含以下步骤：显微镜检查、扫描电镜晶片检测、晶片功能测试、金相显微镜芯片检测、芯片功能测试、扫描电镜芯片内部检测步骤。此检测流程按照先非破坏性检测后破坏性检测的方法，缩短了失效检测步骤，提高了失效检测的效率和准确性。通过此方法的应用，可以达到在生产、试验和使用过程中提高器件质量和可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN105522281B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201610018285.0
申请日：2016-01-12
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B23K26/362 , B23K26/0622 , B23K26/046 , B23K26/402 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开一种石英晶体的激光刻蚀加工方法，具体包括如下步骤：选择激光、准备控制软件、设计加工图纸、激光刻蚀、加工后处理和检测，同时，结合对各步骤条件的限定，设计出了一种加工石英晶体的方法，该加工方法可有效的将石英晶体加工成各种形状，且可对石英晶体进行减薄加工，减薄后的石英晶体厚度薄，对应的基频频率高，且加工后的石英晶体强度好，该加工方法简单，加工精度高，对石英晶体加工的尺寸精度可控制在±5μm内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105978519A
公开(公告)日：2016-09-28
申请号：CN201610269245.3
申请日：2016-04-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
CPC classification number: H03H3/02 , H03H9/0538 , H03H9/19 , H03H2003/021
Abstract: 本申请公开了一种石英晶体谐振器，用以缓解现有技术中的石英晶体谐振器产生的频率老化问题。该石英晶体谐振器包括：上电极、下电极以及石英晶片。所述下电极，包括：下电极衬底、下电极金属膜以及下电极金属引线；所述下电极衬底由绝缘材料制成；所述下电极衬底与所述上电极，分别设置在所述石英晶片的相对的两侧；所述下电极金属膜附着于所述下电极衬底；所述下电极金属膜位于所述下电极衬底与所述石英晶片之间，且所述下电极金属膜与所述石英晶片之间存在空隙；所述下电极金属引线，设置在所述下电极衬底与所述石英晶片之间存在的空隙中；所述下电极金属引线与所述下电极金属膜相连接。申请还公开了一种石英晶体谐振器的制作方法。
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公开(公告)号：CN119830585A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411967851.3
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体元器件设计反馈的提取方法、系统、电子设备及存储介质，涉及晶体元器件的数据处理领域，旨在解决数据零星分散且每次只能查取一批，非常耗时且无法直接与其他批产品对比的问题。本发明包括：获取生产管理系统的目标地址；使用requests模块对生产管理系统的设计反馈模块进行访问；将设计反馈模块的数据信息对应放到data字典的相应位置；使用requests模块的内置函数将data字典内的设计反馈模块的数据信息读取下来；将读取到的设计反馈模块的数据信息保存成csv格式的数据信息。本发明将生产管理系统中的设计反馈文本信息使用代码的方式，快速爬取大量的数据信息，自动汇总到同一个csv文件中，方便按照各项参数对设计反馈进行筛选查看，节省时间提升工作效率。
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公开(公告)号：CN118554913A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410636684.8
申请日：2024-05-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器和制作方法，解决了高温和高冲击的使用环境下晶体振荡器老化率高的问题。一种晶体振荡器，包括基座外壳、芯片、石英晶片和导电胶；基座外壳设置有凹槽，凹槽内有连通外部的电路；芯片通过导电胶粘接到凹槽底层，与凹槽内电路连接，用于电路起振和稳定振荡频率；石英晶片表面镀上金属电极，一端通过导电胶与凹槽内电路连接，从而连接芯片，用于提供振荡频率。本申请保护内部器件在高频冲击、振动及热学冲击使用环境下不受影响，改善晶振高温、强力学冲击、极恶劣使用环境下对内部器件的损害和容易脱落问题。
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公开(公告)号：CN118174675A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202311828695.8
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H3/04
Abstract: 本发明提供一种降低表贴温补晶振老化率的方法、装置和存储介质，该方法包括：对产品进行真空离子溅射镀金电极得到镀膜产品，将预选出的导电胶均匀点至所述镀膜产品上并对点胶后的产品进行烘烤得到点胶产品，其中，所述导电胶为硅酮，离子刻蚀所述点胶产品后对其真空高温退火得到第一退火产品，对所述第一退火产品进行真空平行焊封口处理后高温退火得到第二退火产品，所述真空平行焊封口为烘焙和高真空封装，预设固定时间对所述第二退火产品高温加电得到预制产品，对所述预制产品温度补偿调试处理得到目标产品，从而逐步对产品应力释放，能够降低老化率，从而提升了老化率的要求，能够满足现代工艺要求。
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公开(公告)号：CN117097292A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311139496.6
申请日：2023-09-05
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种具有电性能参数测试数据存储功能的晶体振荡器，包括基座；配置于基座上的石英晶体谐振器；配置于基座上的存储芯片，用以存储电性能参数测试数据；以及与基座结合固定的盖体；所述盖体与基座形成用以容纳石英晶体谐振器和存储芯片的密闭腔体。该晶体振荡器在具有传统晶体振荡器的优良特性的同时还具有电性能参数测试数据及生产加工信息存储功能。
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