公开(公告)号：CN112098753A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN202010953086.5

申请日：2020-09-11

Applicant: 北京无线电测量研究所

Inventor： 冯吉祥 ,  刘冬冬 ,  王智慧 ,  韩策 ,  卢子琦 ,  张奇勋 ,  侯佳赞 ,  李世华

IPC: G01R31/00 ,  G01R1/04 ,  G01B11/00

Abstract: 本发明公开了一种电子组件老化测试系统、方法，属于电子产品测试技术领域。电子组件老化测试系统包括：电子组件老化测试架，电子组件老化测试架上设有多个老化测试工位；控制单元；机械手，与控制单元电连接，用于抓取电子组件；视觉识别系统，与控制单元电连接，用于对电子组件的位置进行识别获取电子组件的初始位置信息；电子组件预安装位置标记读取装置，与控制单元电连接，用于对电子组件上设有的预安装位置标记进行读取，获取电子组件的预安装位置信息；老化测试仪器，与控制单元电连接，在控制单元的控制下对电子组件进行老化测试。本发明的电子组件老化测试系统能够实现电子组件老化测试的自动化，提高老化测试的可靠性且实现无人职守。