一种silicalite-1沸石晶体膜的制备方法

    公开(公告)号:CN119034508A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411231736.X

    申请日:2024-09-04

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种silicalite‑1沸石晶体膜的制备方法,包括以下步骤:(1)制备雏晶溶液;(2)通过以下方式一或方式二对雏晶溶液和载体进行处理:方式一:将载体置于雏晶溶液中使雏晶溶液能没过载体,置于‑20℃环境下冷冻30min,取出放置至融化;将载体取出并置于80℃水热处理24h,干燥;方式二:采用匀胶机将雏晶溶液旋涂在载体表面,置于‑20℃环境下冷冻20min,取出直接置于80℃水热处理48h,干燥;(3)干燥后的载体进行煅烧处理。本发明制备方法操作简单,原料利用率高,所得silicalite‑1沸石晶体膜排列致密。

    一种电镜样品制备设备和制备方法

    公开(公告)号:CN115683785A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211401179.2

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 本发明提供一种电镜样品制备设备和制备方法,该制备设备包括:加工腔室,用于容纳样品,所述加工腔室形成密闭空间与外界环境隔离开;样品台,用于在加工样品的过程中承载样品;飞秒激光器模块,用于对样品进行飞秒激光加工;离子枪模块,用于对样品进行离子加工。本发明的电镜样品制备方法先对样品进行飞秒激光加工,接着进行离子束减薄加工,避免了现有技术中采用研磨、凹坑等复杂操作,在一台设备上即可完成样品的制备,减少了设备数量,降低成本,并且样品在加工过程中始终处于加工腔室中,无需对样品在不同设备上转移,节省了工序;并且先用飞秒激光对样品进行粗加工,然后再用离子束进行精细加工,可以大大缩短样品的制备时间。

    一种增加钙钛矿纳米颗粒稳定性的方法

    公开(公告)号:CN119240781A

    公开(公告)日:2025-01-03

    申请号:CN202411232362.3

    申请日:2024-09-04

    Applicant: 北京大学

    Abstract: 本发明公开了一种增加钙钛矿纳米颗粒稳定性的方法,包括以下步骤:(1)利用溶液法合成表面配体包覆的钙钛矿纳米颗粒;(2)将合成的钙钛矿纳米颗粒分散至固体基质;(3)对分散后的钙钛矿纳米颗粒表面配体进行后处理,所述后处理方式为紫外联合臭氧处理,或等离子体处理。本发明的方法,采用紫外联合臭氧处理,或等离子体处理,使得配体中不饱和C=C交联,相互交联后的配体移动能力受限,因而在光照加热等条件下很难移动,从而有效的阻止纳米颗粒间的聚集生长,增加其光热稳定性。本发明的方法操作简单,适于大规模产业化生产,有利于实现商业化应用。

    一种用于保护敏感样品的样品杆
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119008367A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202411115361.0

    申请日:2024-08-14

    Inventor: 鞠晶 刘晓斌

    Abstract: 本申请实施例提供了一种用于保护敏感样品的样品杆,样品杆包括:外壳、传动件、驱动装置、样品承载件、第一连接组件;传动件的一端与样品承载件固定连接,另一端与驱动装置连接;样品承载件用于承载样品;驱动装置能够驱动传动件沿第一方向移动,以使样品承载件伸出外壳或缩至外壳内;传动件远离样品承载件的一端设有移动件,驱动装置包括带有螺旋槽的旋转件、导向件,导向件套设于移动件的外部,且导向件的一端通过第一连接组件与外壳固定连接;旋转件套设于导向件,导向件上设有沿第一方向延伸的导向孔,移动件通过导向孔伸出导向孔,移动件的至少部分位于旋转件的螺旋槽内,通过旋转旋转件,以使旋转槽的侧壁推动移动件沿第一方向移动。

    一种原位气氛热电两场测试用样品台及芯片电极自密封结构

    公开(公告)号:CN110109001B

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN201910360019.X

    申请日:2019-04-30

    Abstract: 本发明提供一种原位气氛热电两场测试用样品台及芯片电极自密封结构,采用的技术方案是:一种原位气氛热电两场测试用样品台,基于光学显微镜,包括集成电路测试台和安装有原位芯片的芯片安装台组件,关键在于,所述集成电路测试台中包括底座、安装在底座上的探针密封组件及电路板,探针限位于包括上密封板、探针导向板和下密封板的探针密封组件的连通孔中,探针导向板上开设通孔并限位有压簧,电路板下压时借助压簧形成下密封板与原位芯片之间、探针与电极之间的自密封结构。有益效果是:结构简单,易于加工,制造成本低,降低了实验成本;可以在光学显微镜下完成原位气体加热、真空加热及电学实验等多类型实验,操作简便。

    一种光学显微镜下热电两场原位气氛测试系统

    公开(公告)号:CN110068576B

    公开(公告)日:2021-07-27

    申请号:CN201910359998.7

    申请日:2019-04-30

    Abstract: 本发明提供一种光学显微镜下热电两场原位气氛测试系统,采用的技术方案是一种光学显微镜下热电两场原位气氛测试系统,包括光学显微镜、电学工作站、与电学工作站连接的样品台及为样品台腔室提供气氛环镜的气路系统,关键在于,所述样品台中包括集成电路测试台和设置在其下方、安装有原位芯片的芯片安装台组件,集成电路测试台中包括底座、安装在底座上的探针密封组件和电路板及限位在探针密封组件中、具有弹性探头的探针,电路板下压时,探头与原位芯片的电极之间形成自密封结构。有益效果是本系统在光学显微镜下完成原位气体加热、真空加热及电学实验等多类型实验,为原位透射实验提供依据,操作简便;实验风险低、成本低。

    一种原位气氛热电两场测试用样品台及芯片电极自密封结构

    公开(公告)号:CN209946318U

    公开(公告)日:2020-01-14

    申请号:CN201920615585.6

    申请日:2019-04-30

    Abstract: 本实用新型提供一种原位气氛热电两场测试用样品台及芯片电极自密封结构,采用的技术方案是:一种原位气氛热电两场测试用样品台,基于光学显微镜,包括集成电路测试台和安装有原位芯片的芯片安装台组件,关键在于,所述集成电路测试台中包括底座、安装在底座上的探针密封组件及电路板,探针限位于包括上密封板、探针导向板和下密封板的探针密封组件的连通孔中,探针导向板上开设通孔并限位有压簧,电路板下压时借助压簧形成下密封板与原位芯片之间、探针与电极之间的自密封结构。有益效果是:结构简单,易于加工,制造成本低,降低了实验成本;可以在光学显微镜下完成原位气体加热、真空加热及电学实验等多类型实验,操作简便。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种传送装置和包括该传送装置的无污染实验系统

    公开(公告)号:CN217542942U

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202220815405.0

    申请日:2022-04-08

    Abstract: 本实用新型提供了一种传送装置和包括该传送装置的无污染实验系统,适用于冷冻样本的传送和实验。该传送装置包括:第一组件,其包括贯通孔和与该贯通孔相连通的锁定部,并用于载置所述指定样品;第二组件,其具有锁舌部,该锁舌部嵌合于所述锁定部;杆件,其插入所述贯通孔中,且在所述锁定部与所述锁舌部形成锁定结构。本实用新型通过杆锁定件的缺口部、锁件的锁舌部以及第一组件的锁定部在结构上相互配合、多组件协作锁定的结构设置,能够实现更优化的锁定配合结构,能够实现更有效的锁定配合,并能够实现在冷冻样本实验中更快速且无污染的样本传送或转移。

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