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公开(公告)号:CN108172501A
公开(公告)日:2018-06-15
申请号:CN201711400432.1
申请日:2017-12-22
Applicant: 北京大学
IPC: H01L21/02
Abstract: 本发明公布了一种异质衬底上GaN连续厚膜的外延生长方法,在异质衬底上依次生长氮化铝成核层、铝镓氮层、氮化镓位错过滤层和氮化镓外延层,通过采用独特的氮化镓位错过滤层,有效克服了现有异质衬底上GaN厚膜材料外延技术上的复杂性,使外延工艺简单且快捷有效,稳定性高,同时能大幅降低缺陷密度,获得GaN连续厚膜,提高异质结构晶体质量,十分适合于低成本的垂直GaN电子器件的研制。
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