液体喷射方法、液体喷射装置以及液体喷射头

    公开(公告)号:CN107618264B

    公开(公告)日:2020-04-14

    申请号:CN201710567866.4

    申请日:2017-07-13

    Abstract: 一种液体喷射方法包括:使用包括用于加热液体的加热表面和对应于加热表面的喷射口的液体喷射头,通过用加热表面加热液体以产生通过喷射口与空气连通的气泡从而使得加热表面的至少一部分通过喷射口暴露于空气,从喷射口喷射液体,其中,用加热表面将液体加热0.5微秒或更短以产生通过喷射口与空气连通的气泡,从而使得加热表面的至少一部分通过喷射口暴露于空气,以便从喷射口喷射液体。本公开还包括液体喷射装置和液体喷射头。

    记录元件板和液体排出头
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107009742B

    公开(公告)日:2019-08-02

    申请号:CN201710011145.5

    申请日:2017-01-06

    Abstract: 本发明提供一种记录元件板和液体排出头。记录元件板包括:排出口,用于排出液体;压力室,其与排出口连通;记录元件,用于生成使液体起泡的热能量,其中记录元件被配置在压力室内并且与排出口相对;以及基板,其上形成有记录元件。在记录元件被驱动并且排出压力室内的液体的情况下,所产生的气泡与大气连通。将排出口投影在基板上的排出口投影区域包括在将记录元件的热产生区域投影在基板上的热产生区域投影区域之外延伸的区域,并且排出口投影区域的轮廓被热产生区域投影区域的轮廓外接。

    记录元件板和液体排出头
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107009742A

    公开(公告)日:2017-08-04

    申请号:CN201710011145.5

    申请日:2017-01-06

    CPC classification number: B41J2/045

    Abstract: 本发明提供一种记录元件板和液体排出头。记录元件板包括:排出口,用于排出液体;压力室,其与排出口连通;记录元件,用于生成使液体起泡的热能量,其中记录元件被配置在压力室内并且与排出口相对;以及基板,其上形成有记录元件。在记录元件被驱动并且排出压力室内的液体的情况下,所产生的气泡与大气连通。将排出口投影在基板上的排出口投影区域包括在将记录元件的热产生区域投影在基板上的热产生区域投影区域之外延伸的区域,并且排出口投影区域的轮廓被热产生区域投影区域的轮廓外接。

    太赫兹检查装置
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102272578B

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN200980153214.X

    申请日:2009-12-16

    Abstract: 在检查装置或方法中,可同时获取被检体的厚度和特性的值或者它们的分布。检查装置包括:部分9,用于用放射线照射被检体2;部分10,用于检测来自被检体的放射线;获取部分26;存储部分21和计算部分20。获取部分获取与放射线的检测时间相关联的传送时间以及放射线的振幅。存储部分事先存储传送时间和振幅与被检体的特性的代表性值之间的关系数据。计算部分基于传送时间、振幅和关系数据,获得被检体的厚度和特性的值。

    光学半导体器件
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101794835B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010135255.0

    申请日:2005-07-28

    CPC classification number: H01L31/08 G01N21/3581 H01S1/02

    Abstract: 本发明提供了一种光学半导体器件,其包括具有光电导性的半导体薄膜(4)和用于在大致垂直于所述半导体薄膜(4)的表面的方向向所述半导体薄膜(4)内部施加电场的电极对(5)和(10),其中,当光作用于所述半导体薄膜(4)的被施加了电场的区域时,所述半导体薄膜(4)产生电磁波。所述电极被设置在所述半导体薄膜(4)的前表面和背面,其间夹着所述半导体薄膜。

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