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公开(公告)号：CN105891234A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610079699.4
申请日：2016-02-04
Applicant: 日新电机株式会社
IPC: G01N22/00
CPC classification number: G01N22/00
Abstract: 本发明提供一种高分子材料的劣化诊断方法及高分子材料的劣化诊断装置，本发明的高分子材料的劣化诊断方法，进行用于电气设备的高分子材料的劣化诊断，对诊断对象的所述高分子材料照射1GHz～50GHz内的任意的频率的电波，由基于所照射的电波的来自所述高分子材料的出射波测定复介电常数，并根据所述介电常数的至少实数部的值进行所述高分子材料的劣化诊断。藉此，可容易且适当地进行诊断对象的高分子材料的劣化诊断。
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