一种DBF相控阵天线的校正方法及系统

    公开(公告)号:CN113765559A

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN202110927708.1

    申请日:2021-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种DBF相控阵天线的校正方法及系统,利用射频窄带特性和DBF相控阵天线各通道频率可调的特性,通过采用多通道多频率的DDS信号发生器作为DBF相控阵校正信号源,并设置多通道DDS信号发生器的发射频率及相位同步的方式,实现了直接对接收单元采样得到的通道数据进行校正,而不需要进行精确的相位检测和同步,算法简单易行且系统误差较小,便于校正算法的实现,同时不需要额外增加硬件,系统简单,易于工程实现。

    一种基于关键路径优化的连续成像控制方法

    公开(公告)号:CN107291090B

    公开(公告)日:2020-05-12

    申请号:CN201710335800.2

    申请日:2017-05-12

    Abstract: 一种基于关键路径优化的连续成像控制方法,适用于可执行连续成像任务的敏捷成像遥感卫星。首先,按照时间顺序形成成像任务队列;然后基于基本指令序列构造每个成像任务的有向图模型;接着,搜索连续成像任务有向图模型所包含的当前成像任务启动数据记录指令对应的顶点到下一次成像任务启动数据记录指令对应的顶点之间的最长时延路径,当连续两次成像任务的启动数据记录指令之间的时间间隔小于有向图模型的关键路径长度时,通过取消任务间姿态回摆、合并任务间开关机指令和基本指令序列解耦等方法,不断优化连续成像任务所对应的有向图模型的顶点和边的“染色”状态;最后,以拓扑优化后的有向图模型为基准,自主生成连续成像任务的控制指令序列。

    基于电磁表面互易性的超宽角扫描相控阵天线及设计方法

    公开(公告)号:CN118889067A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410804446.3

    申请日:2024-06-20

    Abstract: 本发明公开一种基于电磁表面互易性的超宽角扫描相控阵天线及设计方法,设计方法包括:S1.设计超宽角域斜入射电磁吸波表面;S2.将具有最优结构参数的超宽角域斜入射电磁吸波表面加载的电阻转化为阻抗一致的馈电端口,并将超宽角域斜入射电磁吸波表面的最优结构参数转化为超宽角域辐射天线单元;S3.将N个超宽角域辐射天线单元进行组阵,改变每个超宽角域辐射天线单元的相位实现波束扫描,得到超宽角域扫描相控阵天线。超宽角扫描相控阵天线包括呈规则矩阵排列的N个超宽角域辐射天线单元;每一单元均包括介质基板、金属贴片、微带线巴伦结构、空气层。本发明提供的基于电磁表面互易性的超宽角扫描相控阵天线及设计方法突破了相控阵天线宽角的问题。

    一种具有可调控的频率选择表面及天线罩

    公开(公告)号:CN118889050A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410888309.2

    申请日:2024-07-03

    Abstract: 本发明涉及无线通信及天线设计技术领域,公开一种具有可调控的频率选择表面及天线罩。天线罩由多个呈阵列分布的频率选择表面构成;频率选择表面包括自上而下叠置的上金属层、上介质层、中间金属层、下介质层和下金属层。上金属层由分别且间隔设置在上介质层上表面四个角上的上金属贴片构成;下金属层由分别且间隔设置在下介质层下表面四个角上的下金属贴片构成;沿第一方向间隔分布两个第一二极管,第一二极管将沿第二方向分布的两个上金属贴片连接;沿第二方向间隔分布两个第二二极管,第二二极管将沿第一方向分布的两个下金属贴片连接;中间金属层包括外圈金属环和内圈金属环,内圈金属环与外圈金属环的形状不同但对称中心重合。

    一种平面近场测量中的准直装置及方法

    公开(公告)号:CN116359615A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202211318923.2

    申请日:2022-10-26

    Abstract: 本发明公开了一种平面近场测量中的准直装置及方法,装置包括波导探头和用于为待测平面天线提供位置参考标准的校准板,在不接触波导探头与待测平面天线的前提下,快速精确测量波导探头与待测天线的相对位置关系,对待测天线安装进行校正。通过调整在待测平面天线与校准板的影子边缘图像平行,完成待测平面天线安装位置校准;通过对比在待测平面天线与校准板的影子边缘图像的长度,获得波导口面与待测平面天线的间距;通过对在待测平面天线与校准板的影子边缘图像做辅助线,计算获得波导口面与天线单元的位置关系,完成待测平面天线的准直校正。过程简单、高效,避免了传统做法中测试繁琐、手工测量精度不高的问题。

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