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公开(公告)号：CN107560564B
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201710635739.3
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种自由曲面检测方法，包括：采用三坐标测量设备对包括待测反射球面、投影屏和CCD相机在内的逆向哈特曼检验光路的结构位置参数S进行测量标定；根据测量标定的结构位置参数S，确定待测反射球面的面形误差数据W0；根据测量标定的结构位置参数S和面形误差数据W0，采用泽尼克拟合确定待测球面的面形偏差优化目标；根据确定的面形偏差优化目标，确定初始测量标定的结构位置参数S的各项偏差，并根据所述各项偏差确定待测反射面的实际面形误差ΔW。采用本发明，减小了自由曲面的面形测量误差。
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公开(公告)号：CN109870424A
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201910163686.9
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于彩色三步移项技术的哈特曼光线追迹方法，包括采用彩色三步移相法对影像进行计算并得到相位信息；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN106643507B
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201710077177.5
申请日：2017-02-13
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了基于双通道点衍射干涉的三坐标测量装置，包括偏振激光器发出的激光经过第一偏振分光棱镜被分成透射光和反射光，沿所述透射光传播方向，设置有第三偏振分光棱镜；沿所述反射光传播方向依次设置有四分之一波片、反光镜；沿所述反射光经过反射镜反射后的传播方向，在所述第一偏振分光棱镜之后，还设置有第二偏振分光棱镜；沿光的传播方向，所述第二偏振分光棱镜和第三偏振分光棱镜之后分别设置有一对光纤耦合器以及与所述光线耦合器连接的亚微米孔径光纤。另外，本发明还公开了一种基于双通道点衍射干涉的三坐标测量方法。采用本发明，实现了三个方向上的高精度测量，提高了点衍射三维测量的精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108507492A
公开(公告)日：2018-09-07
申请号：CN201810456759.9
申请日：2018-05-14
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供一种平曲面透射元件表面的高精度大动态范围测量方法及测量系统，涉及测量技术领域。干涉仪测待元件平表得到面形数据；三坐标测量设备标定得到偏折光路系统结构位置参数；光线追迹建立理想光路系统得到理论坐标位置值；显示投影屏显示多步移相正弦灰度直条纹，计算机解出CCD相机拍摄的条纹对应的实际坐标位置值；由理论坐标位置值和实际坐标位置值得到对应坐标误差，计算得到待测曲面面形误差斜率分布，积分后得到待测元件曲表面面形误差。本发明解决了现有技术中高精度平曲面透射元件表面测量的测量动态范围小，设备昂贵的技术问题。本发明有益效果为：提供非接触高精度大动态范围的测量方法，实现检测设备的通用化。操作简单效率高。
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公开(公告)号：CN109883995B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201910164088.3
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统及其方法，包括内部存在非均匀介质场的测量空间、用于向测量空间射出与光轴形成偏转角为θ的入射光线的投影屏、用于对入射光线穿透测量空间内部的非均匀介质场折射形成平行于光轴的偏折光线进行汇聚成影像的物方远心光学系统；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且该系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN109883995A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910164088.3
申请日：2019-03-05
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01N21/41
Abstract: 本发明公开了一种基于哈特曼光线追迹的非均匀介质场的测量系统及其方法，包括内部存在非均匀介质场的测量空间、用于向测量空间射出与光轴形成偏转角为θ的入射光线的投影屏、用于对入射光线穿透测量空间内部的非均匀介质场折射形成平行于光轴的偏折光线进行汇聚成影像的物方远心光学系统；本发明采用彩色三步移相法，结合三维非均匀介质场的反积分曲线三维重建算法，通过投影屏和远心光学系统的组合设置，实现了对非均匀介质场的测量光线的准确追迹及对三维空间折射率的瞬态折射特性测量，大大提高了测量精确度和效率；并且该系统整体设计精密，测量精度高，成本较低，应用范围广，具有重要的理论意义和工程应用价值，适合推广应用。
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公开(公告)号：CN107543683A
公开(公告)日：2018-01-05
申请号：CN201710644047.5
申请日：2017-07-31
Applicant: 中国计量大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供一种透射元件像差的高精度大动态范围测量系统及测量方法，涉及测量技术领域。它利用三坐标测量机对测量系统结构位置参数预标定，待测透射元件置于显示器屏幕与CCD相机之间，采用四步移相法求解出条纹对应的相位分布，并得到与相位对应的待测透射元件透射表面上的点投影在CCD相机中的实际光斑坐标值，再利用光线追迹法生成基于检验光路结构位置参数的理想坐标值，在此基础上对待测透射元件进行斜率误差计算，最后利用积分法得到元件像差数据。本发明解决了现有技术中非接触式的高精度透射元件表面检测的动态范围小、设备昂贵的技术问题。本发明为大动态范围的透射元件像差测量提供一种通用化可行方法，具有极其重要的实际应用价值。
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公开(公告)号：CN212340439U
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202021236096.9
申请日：2020-06-30
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 本实用新型公开了一种大口径分光测色仪，包括光源、传感系统、积分球，所述的积分球上开设的狭缝与积分球外侧的镜面反射件、测量口、第一光纤配合设置，光源的光线在积分球内匀光后通过狭缝射出，依次经镜面反射件、测量口、第一光纤传输至传感系统，由于光线在积分球内部进行了充分的反射，所以狭缝处射出的光的强度在各个方向上是相等的，通过第一光纤将原本放置在第一光纤的光入口处的体积较大的传感系统放到了光路结构之外，从而避免了传感系统对整个光路结构的影响，方便了整体结构设计，同时，传感系统可以使用更大的光谱仪接受信号，达到测量被测物体表面反射光的光谱信息的目的。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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