公开(公告)号：CN107192706A

公开(公告)日：2017-09-22

申请号：CN201710353376.4

申请日：2017-05-18

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 王苗 ,  张岚 ,  张学聪 ,  孟苏 ,  董磊 ,  蔡静

IPC: G01N21/71

CPC classification number: G01N21/71

Abstract: 本发明涉及一种基于锁相放大的不透明材料的带通发射率测量装置，适用于测量金属、非金属材料表面法向光谱发射率，属于材料热物性参数技术领域。该装置包括：标准参考黑体、样品加热装置、水冷光阑、斩波器、光学耦合系统、滤光片轮、激光器、探测器组、位移台和锁相放大器。其中，标准参考黑体和样品加热装置位置相对于光学耦合系统中的旋转反射镜的中心位置对称，两组斩波器相对旋转反射镜的中心位置对称，滤光片轮放于光学耦合系统和探测器组之间，激光器和探测器组安装在位移台上。本发明采用锁相放大器对探测器的输出进行放大，同时对噪声进行抑制，提高了测量精度，同时通过滤光片轮和探测器组之间的切换，实现了多波长的测量。