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公开(公告)号：CN119989611A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202411753084.6
申请日：2024-12-02
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F30/17 , G06F18/22 , G06F111/08 , G06F123/02
Abstract: 一种基于数据特征度量的复杂系统非确定性数字模型仿真验证方法，在考虑不确定性的条件下，通过多角度提取仿真输出与实装试验输出参数数据的特征向量构建特征矩阵，通过概率分布差异度量相应数字模型和实装数据特征向量之间的统计相似性，进而获得数字模型与实装试验数据之间的一致性程度。该方法能够有效解决多变量数字模型验证复杂度问题，提升复杂系统数字模型验证的置信度。
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公开(公告)号：CN118673716A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410835741.5
申请日：2024-06-26
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F111/08 , G06F119/04
Abstract: 一种基于GSPN的系统寿命建模与仿真分析方法，属于寿命建模与仿真分析技术领域，基于GSPN基本理论，梳理图形化建模元素并赋予工程含义；分析系统寿命相关信息并映射到图形化建模元素中；逐级建立GSPN寿命模型；注入底层单机寿命信息，驱动GSPN寿命模型；设计基于蒙特卡洛仿真的寿命分析算法，获得系统寿命样本，统计计算系统寿命指标。该方法采用图形化寿命建模形式，提高了模型的可视性；能够有效模拟系统的动态运行过程，定量描述系统内故障发生的时序关系，弥补传统寿命建模与分析方法的不足；结合蒙特卡洛仿真算法，实现系统寿命指标智能求解，克服GSPN模型计算求解的困难。
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公开(公告)号：CN111898236B
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202010448476.7
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明提供一种基于失效大数据的加速贮存试验加速因子分析方法，利用不同种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据，更准确地分析电子整机的加速因子，从而提高贮存期验证的准确性。具体包括：获取电子整机的元器件清单；根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息，形成电子整机失效元器件清单；计算或查表得到所述失效元器件清单中每个元器件在贮存温度Tu和加速贮存试验温度TA下的失效率，形成元器件失效率表；根据所述元器件失效率表分析加速贮存(56)对比文件Jie Zhou et al..The step-down-stressaccelerated storage testing evaluationmethods of small sample electronicproducts based on Arrhenius model《.: 201410th International Conference onReliability, Maintainability and Safety(ICRMS)》.2015,全文.张生鹏;李宏民;赵朋飞.导弹装备贮存寿命加速试验技术体系探讨.装备环境工程.2018,(第02期),全文.刘佩风;王毅飞;白明明;马晓东;王冀宁.电子整机加速贮存试验及寿命评估方法研究.强度与环境.2018,(第01期),全文.盖炳良;滕克难;王浩伟;夏菲.整机级装备贮存延寿试验技术.火力与指挥控制.2018,(第01期),全文.王浩伟;滕克难;吕卫民.导弹贮存延寿试验关键技术及研究进展.含能材料.2019,(第12期),全文.李海波;张正平;胡彦平.加速寿命试验方法及其在航天产品中的应用.强度与环境.2007,(第01期),全文.向刚;苗静;邱丰.航天电子产品贮存期评估方法研究.电子测量技术.2017,(第01期),全文.林震;李宪姗;姜同敏;程永生;胡斌.整机产品加速贮存寿命试验研究思路探讨.航空标准化与质量.2006,(第04期),全文.赵婉;韩天龙.基于活化能的火工品加速贮存寿命试验优化设计方法.含能材料.2009,(第04期),全文.周秀峰;姚军;张俊.电子整机加速贮存试验的Dirichlet分析方法.航空学报.2011,(第07期),全文.苏承毅;牟春晖;何江;何保成.整机级加速贮存试验加速因子与真实度评估方法.战术导弹技术.2015,(第01期),全文.陈津虎;朱曦全;胡彦平;王冀宁;李星.航天电子产品加速贮存试验技术综述.强度与环境.2015,(第05期),全文.赵婉.航天火工装置步进应力加速贮存寿命试验方法研究.质量与可靠性.2008,(第03期),全文.张生鹏;王晓红;李晓钢.电子整机加速贮存试验方案设计.质量与可靠性.2011,(第02期),全文.蔡健平等.基于POF 的温度应力加速试验失效机理一致性研究《.装备环境工程》.2016,第13卷(第6期),第104-109页.
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公开(公告)号：CN104236505A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410478481.7
申请日：2014-09-18
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01B21/08
Abstract: 本发明提供了一种基于阵列式压电薄膜传感器的管道腐蚀监测装置，实现了对管道曲面区域范围的厚度进行测试。包括超声波信号激励模块、阵列式压电薄膜传感器模块、信号采集与处理模块和信号分析模块；超声波信号激励模块负责控制脉冲信号发生装置发出周期性窄脉冲；阵列式压电薄膜传感器模块受到激励产生超声波，超声波在被测试件上、下面多次地来回反射，反射产生的反射波被阵列式压电薄膜传感器探头接收形成电信号；信号采集与处理负责将电信号放大、滤波、以及多通道扫查处理后，发送给信号分析模块；信号分析模块负责统计超声波在上、下表面的传播时间，采用波形数据分析软件，计算出试件厚度，输出测量厚度变化情况，以检测腐蚀情况。
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公开(公告)号：CN114218676B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN202111544204.8
申请日：2021-12-16
Applicant: 中国航天标准化研究所
Inventor： 徐洪武 , 王伟 , 朱炜 , 陈凤熹 , 耿海 , 贾艳辉 , 李婧 , 蔡健平 , 王喜奎 , 韩天龙 , 施帆 , 张晓军 , 伍招冲 , 张睿 , 宋汝宁 , 刘艳荣 , 李觐竹 , 毛敏
IPC: G06F30/15 , G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 一种基于时变应力的多模式电推力器寿命预测方法，包括，获取不同探测阶段的工作模式以及与各个工作模式相对应的工作时间；通过预先训练好的参数预测模型，得到不同工作模式的应力下的溅射刻蚀初始退化率，漂移系数和扩散系数；根据溅射刻蚀初始退化率，漂移系数和扩散系数计算时变应力下电推力器栅极系统溅射刻蚀程度；根据时变应力下电推力器栅极系统溅射刻蚀程度，计算应力下栅极磨损变化情况；设定溅射刻蚀阈值，根据栅极磨损变化情况，计算各个工作模式下到达加速栅的刻蚀阈值所需要的时间，并进行累加，得到电推力器的寿命；本发明考虑了不同模式下电推力器溅射刻蚀对寿命的影响，通过各个模式下的溅射刻蚀情况进行累积得到电推力器寿命。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111881539B
公开(公告)日：2024-09-13
申请号：CN202010449338.0
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供一种基于失效大数据的加速贮存试验加速因子风险率分析方法，利用各种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据，计算给定的加速因子的风险率，从而为贮存期试验验证方案的制定、评估加速贮存试验的可信性提供依据。具体包括：获取电子整机的元器件清单；根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息，形成电子整机失效元器件清单；计算所述电子整机失效元器件清单中每个元器件的加速因子，形成电子整机元器件加速因子表；根据所述加速因子表分析电子整机加速贮存试验加速因子风险率和分布区间。
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公开(公告)号：CN111898236A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN202010448476.7
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/08
Abstract: 本发明提供一种基于失效大数据的电子整机加速贮存试验加速因子分析方法，利用不同种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据，更准确地分析电子整机的加速因子，从而提高贮存期验证的准确性。具体包括：获取电子整机的元器件清单；根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息，形成电子整机失效元器件清单；计算或查表得到所述失效元器件清单中每个元器件在贮存温度Tu和加速贮存试验温度TA下的失效率，形成元器件失效率表；根据所述元器件失效率表分析加速贮存试验的加速因子Af。
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公开(公告)号：CN111881539A
公开(公告)日：2020-11-03
申请号：CN202010449338.0
申请日：2020-05-25
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供一种基于失效大数据的电子整机加速贮存试验加速因子风险率分析方法，利用各种电子整机在贮存过程中的得到的失效大数据，计算给定的加速因子的风险率，从而为贮存期试验验证方案的制定、评估加速贮存试验的可信性提供依据。具体包括：获取电子整机的元器件清单；根据电子整机的质量数据库中查询所述元器件清单中的每种元器件型号的贮存失效信息，形成电子整机失效元器件清单；计算所述电子整机失效元器件清单中每个元器件的加速因子，形成电子整机元器件加速因子表；根据所述加速因子表分析电子整机加速贮存试验加速因子风险率和分布区间。
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公开(公告)号：CN116244882A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202211431202.2
申请日：2022-11-14
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种电子产品加速贮存寿命试验评估方法，将加速贮存试验分为恒定温度试验和温度步进试验两部分进行，温度步进试验在时间上接续在恒定温度试验之后；恒定温度试验中，将确定的试验品数量的受试产品置于恒定温度下经过所述试验时间，而温度步进试验则是在恒定温度试验的试验温度基础上按照一设定的温度梯度升温，直至试验品全部出现故障，并记录试验品出现故障时的温度和试验时长以及对应的失效元器件，形成失效的薄弱环节清单，并分析试验的加速因子，进一步计算受试产品的安全贮存期或危险贮存寿命；使用本发明能够提升电子产品贮存寿命或贮存期指标验证的高效性和准确性。
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公开(公告)号：CN111880023B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202010550156.2
申请日：2020-06-16
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。该方法具体为：获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率，并按照失效率降序排序并设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间ta；针对每个应力等级，均进行为期ta的贮存期加速试验。
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