高低温引伸计的校准装置及方法

    公开(公告)号:CN114674275A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202011549958.8

    申请日:2020-12-24

    Abstract: 本申请公开了一种高低温引伸计的校准装置及方法,所述装置包括:温箱,用于为引伸计提供相应的高低温环境;移动心轴和固定心轴,设置于所述温箱内,并安装所述引伸计;测微头,设置于所述温箱外部,通过隔热材料与所述移动心轴连接;定位机构,安装于所述温箱外部;测长仪表,安装于所述定位机构上。本申请使高低温引伸计校准装置的测量结果的不确定度达到Urel=0.06%~0.10%,能够满足0.5级及以下高低温引伸计的校准工作。

    静电探针电流测量装置
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114236222A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111465080.4

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种静电探针电流测量装置,包括:采样电阻(1),用于采集所述静电探针反馈的信号;放大电路(2),用于接收所述采样电阻(1)采集的信号并进行放大;采集器(3),用于对经过所述放大的信号进行模数转换;处理器(4),用于对经过所述模数转换的信号进行处理得到测量结果;所述放大电路(2)对其接收的信号按量程分多路进行放大,所述采集器(3)对经过所述放大的多路信号分别进行模数转换,所述处理器(4)对经过所述模数转换的多路信号进行合并处理。本发明的测量装置可以实现大动态范围信号的自动测量,保证信号测量的精度,可实现无人值守的自动测量,尤其适用于信号大小未知的不可重复试验,保证信号能完整测量。

    一种等离子体测量装置
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111654966A

    公开(公告)日:2020-09-11

    申请号:CN202010504516.5

    申请日:2020-06-05

    Abstract: 本公开实施例公开了一种等离子体测量装置,该等离子体测量装置包括:移动台,用于在第一方向或第二方向上移动,第一方向与第二方向不同;支撑架,位于移动台上,能够跟随移动台的移动而移动;至少两个探针,位于支撑架上,用于通过支撑架的移动,与等离子体的至少两个点接触并同时测量至少两个点的等离子体特征参数。通过本公开实施例,能够提高测量效率及精度。

    一种真空下温度传感器校准用均温系统

    公开(公告)号:CN103115699A

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201310048769.6

    申请日:2013-02-06

    Abstract: 一种真空下温度传感器校准用均温系统,所述均温系统既可以实现热辐射式测温,又可以实现热传导式测温,从而有利于实现真空下温度传感器校准,其特征在于,包括恒温槽,所述恒温槽内有恒温介质,所述恒温槽的槽口上设置有覆盖所述槽口的吊固平台,所述吊固平台将均温真空室吊装固定在所述恒温槽内的恒温介质中,所述均温真空室的上方与弯管的一端连接,所述弯管从所述吊固平台穿越,所述弯管的另一端设置有连接真空抽气系统的接口,所述均温真空室的外壁设置有铜管,所述铜管的底端被封堵,所述铜管的顶端穿越在所述吊固平台之外,所述均温真空室内设置有绝热传感器固定支架。

    一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN114245554B

    公开(公告)日:2025-01-17

    申请号:CN202111465016.6

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种等离子体推力器羽流参数多点测量装置及测量方法,多点测量装置,包括:真空舱;与所述真空舱相连接的真空泵单元;与所述真空泵单元相连接的工控单元,用于提供并维持所述真空舱的真空环境;以及测量单元;所述测量单元包括:至少两个设置在所述真空舱内的三维移动平台;设置于所述三维移动平台上的探测结构;与所述探测结构连接,用于采集数据的采集单元;探测结构采用朗缪尔探针、RPA探针或Faraday探针。本发明可以提高等离子体测量效率、能够连续测量羽流多点对称性,打破朗缪尔探针使用的局限性、屏蔽探针电路中的误差干扰,同时,本发明的多点测量装置结构简单、稳定可靠,实用性强。

    TDLAS温度校准系统
    18.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103175634B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201310048162.8

    申请日:2013-02-06

    Abstract: TDLAS温度校准系统,用于实现对TDLAS温度测量的校准,其特征在于,包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统,所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中,所述光学系统的壳体与所述恒温槽周壁之间具有恒温液,所述标准传感器温度测量系统中的标准传感器位于所述恒温液内。

    热电偶真空熔焊系统
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103111766A

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201310048710.7

    申请日:2013-02-06

    Abstract: 热电偶真空熔焊系统,该系统能够用于各种型号的热电偶丝在真空环境下的熔焊,通过抽真空排除空气以消除在对热电偶丝对接端实施熔焊时可能导致的热偶丝氧化反应,从而提高热电偶的热电效应性能,其特征在于,包括真空室,所述真空室内设置有热电偶丝夹具,所述热电偶丝夹具夹持热电偶丝对接端的对应位置设置有熔焊碳棒,所述熔焊碳棒连接进给运动装置,所述热电偶丝夹具连接熔焊电源的一极,所述熔焊碳棒连接所述熔焊电源的另一极。

    一种等离子体静电探针校准用模拟负载

    公开(公告)号:CN114236450A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111464781.6

    申请日:2021-12-03

    Abstract: 本发明涉及一种等离子体静电探针校准用模拟负载,包括可调精密恒压源、MOSFET模块、二极管阵列、相位补偿过压保护网络、屏蔽机箱和同轴接头,二极管阵列用于产生单向导通且随电压指数增长的探针电流,以模拟探针过渡区的电流信号,MOSFET模块用于在探针对地正电压下产生饱和电流信号以模拟探针的电子饱和电流;可调精密恒压源用于为MOSFET模块提供精准稳定的栅极电压,相位补偿过压保护网络用于限制MOSFET模块饱和电流、补偿探针高速扫描时二极管阵列引起的相位偏差、保护测试负载免受过高的探针电压烧毁。本发明可模拟空间等离子体的特征阻抗,与探针电源配合使用可获得大电流范围内的等离子体探针特征电压电流曲线,具有极高的精度、重复性和稳定性。

Patent Agency Ranking