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公开(公告)号：CN106768329A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611131954.1
申请日：2016-12-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/2823
Abstract: 本发明公开了一种空间远紫外高灵敏度电离层成像仪，包括主体、首镜、次镜、三镜及光子计数探测器，其中，三个反射镜沿光线传递方向依次设置在主体内，其三个反射镜上均镀有窄带反射多层膜或带通反射多层膜；光子计数探测器设置在主体内并位于光路末端；上述成像仪根据成像目标的辐射特性对成像系统的光谱响应带宽要求，直接在反光镜表面镀制相应工作波段的反射多层膜，从而简化系统光路，缩小体积，减轻重量，降低研制难度和成本，而光子计数探测器能够在不增加光学系统口径的前提下提高成像系统响应效率，并且能够以计数形式对微弱目标成像，且暗噪声极低，其成像信噪比远高于一般的微弱目标成像探测器，从而达到提高探测灵敏度的目的。
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公开(公告)号：CN118362545B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202410604665.7
申请日：2024-05-15
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及原子荧光探测技术领域，尤其涉及一种基于单光子的原子荧光激发光束调节系统及其调节方法，系统包括进样模块、原子化模块、光源激发模块、电动位移平台和光谱成像模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发产生目标元素的原子荧光谱线，电动位移平台用于对光源激发模块中光源的位姿进行调节，光谱成像模块用于对目标元素的原子荧光谱线进行光谱成像，并对成像数据进行分析，将光源调至最佳激发位置。本发明将原子荧光谱线与火焰激发区域成像相结合，可以有效将将激发位置调整到最佳状态，不再依靠人眼观察和经验判断，提高检测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN118310966B
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202410632837.1
申请日：2024-05-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及探测器成像技术领域，尤其涉及一种基于单光子的高性能紫外成像探测器及其成像方法，其中的成像方法包括S1：入射光谱准直后均匀入射并铺满数字微镜器件；S2：根据数字微镜器件与面阵单光子计数器之间的等效映射关系对数字微镜器件的微镜阵列进行翻转，使入射光谱反射到面阵单光子计数器的同一个等效像元内，获得光谱信号。本发明既保留了位敏阳极面阵单光子计数器对于紫外波段的高灵敏度探测能力，又弥补了位敏阳极面阵单光子计数器因等效像元大导致的空间分辨率差的问题，从而有效提高探测分辨能力。
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公开(公告)号：CN118961145A
公开(公告)日：2024-11-15
申请号：CN202411169148.8
申请日：2024-08-23
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明属于天文目标观测技术领域，尤其涉及一种用于极紫外波段探测器的传函测试装置及方法，装置包括：真空罐；设置在真空罐外、且位于真空罐两侧的光源系统和计算机；以及设置在真空罐内的探测器、二维平移台、电路板和刀口靶标，其中，光源系统的输出端固定在真空罐的一端，刀口靶标固定在探测器的靶面上，探测器安装在二维平移台上，探测器的输出端与电路板的输入端相连，电路板的输出端与计算机的输入端相连。本发明对倾斜边缘法进行了改进，即直接将锐利刀口放置在探测器的靶面前，避免了使用平行光管和聚焦镜头对极紫外光束造成的衰减，提高了传函的测试信噪比，首次实现了极紫外波段探测器的传函测试。
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公开(公告)号：CN115547792A
公开(公告)日：2022-12-30
申请号：CN202211247346.2
申请日：2022-10-12
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供一种电荷分割型阳极及其解码方法，电荷分割型阳极包括：M个周期，每个周期包括六个电极，六个电极呈周期规律排列；每个周期均划分为相同宽度的三个周节；每个周节被一个余弦函数划分为两个电极，电极的面积与该电极积聚的电荷量成正比。解码方法通过确定每个周期的余弦函数，并依据余弦函数构造辅助函数Z，求解质心位置y坐标；依据余弦函数构造辅助函数Z1和Z2，求解质心位置x坐标。本发明的阳极面板周期数不受限制，且分辨率高，同时采用新型的解码方法，仅依靠六路电极输出即可确定电子云的质心位置，解码方法快速精准；阳极采用六电极结构有效简化了刻蚀与电极引线工序，提高了探测器的可靠性，降低了探测器电子处理系统的成本。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113932783B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202111217036.1
申请日：2021-10-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本申请属于光机电一体化设备技术领域，提供一种太阳边缘检测仪器，依次包括依次滤光片系统、望远镜主镜、望远镜次镜、分割狭缝、探测器、信号处理单元，太阳光经所述滤光片系统变成单色的太阳光辐射，太阳光辐射经所述望远镜主镜、所述望远镜次镜，并由所述分割狭缝将太阳图像分割成若干小区域，成像到所述探测器的像面上，再经所述信号处理单元对探测器内的光信号放大和处理，得到太阳边缘信息和中心位置信息。本申请的检测仪器具有结构简单，所用光电器件的可靠性高，能够精确监测太阳位置变化。
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公开(公告)号：CN113043196B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN201911373963.5
申请日：2019-12-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: B25B11/02
Abstract: 本申请提供了一种微通道板固定装置，包括环形底座，依次叠压在所述底座上的收集极、第二弹性压环、绝缘板、微通道板底座、绝缘定位环、微通道板、弧形定位环、第一弹性压环，所述第二弹性压环和所述底座夹持所述收集极，实现对所述收集极的上表面、侧面、下表面定位；所述弧形定位环、绝缘定位环和所述微通道板底座夹持所述微通道板，实现对所述微通道板的上表面、侧面、下表面定位。本申请的一种微通道通道板的固定装置，可以对微通道板进行减震固定，保证微通道板两面受力均匀，弹性压圈具有一定的弹性缓冲能力，通过设计控制压圈的弹性模量做到对微通道板固定所需压紧力的精准控制。
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公开(公告)号：CN114252753A
公开(公告)日：2022-03-29
申请号：CN202111597700.X
申请日：2021-12-24
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于筛选四象限探测器的方法和系统，该方法先对所有待筛选的四象限探测器进行暗电流测试，记录各个四象限探测器各通道的第一暗电流；而后在无光环境下，对所有待筛选的四象限探测器进行加光测试，获取各个待筛选的四象限探测器各通道的第一响应度信息；而后对所有待筛选的四象限探测器进行一项或多项筛选试验，而后再＝进行暗电流测试和加光测试，分别记录第二暗电流和第二响应度信息；而后通过比对第一暗电流和第二暗电流的变化值、以及第一响应度信息和第二响应度信息的变化值筛选出符合要求的四象限探测器。通过本申请的方案可以有效分析出四象限探测器的环境适应性，使得最终筛选出的四象限探测器具有足够的可靠性。
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公开(公告)号：CN119961659A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202411937677.8
申请日：2024-12-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G06F18/2131 , G01J1/44 , G06F18/15 , H03K5/04 , H03K5/01 , G06F123/02
Abstract: 本发明属于光子计数成像技术领域，尤其涉及一种基于三次样条插值的准高斯脉冲成形方法。包括：S1：对指数衰减信号进行极零处理，获得极零相消信号；S2：对极零相消信号进行拟合，获得拟合参数；基于反褶积递推公式对极零相消信号进行求解，获得反褶积信号；S3：对标准高斯窗进行三次样条插值拟合计算，设计高斯脉冲形状的插值曲线公式组；S4：对插值曲线公式组进行推算，获得成形传递函数递推公式；S5：将反褶积信号输入至成形传递函数递推公式，输出准高斯成形信号。本发明的通用性高，稳定性强，参数可调，设计灵活。
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公开(公告)号：CN118362545A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410604665.7
申请日：2024-05-15
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明涉及原子荧光探测技术领域，尤其涉及一种基于单光子的AFS激发光束调节系统及其调节方法，系统包括进样模块、原子化模块、光源激发模块、电动位移平台和光谱成像模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发产生目标元素的原子荧光谱线，电动位移平台用于对光源激发模块中光源的位姿进行调节，光谱成像模块用于对目标元素的原子荧光谱线进行光谱成像，并对成像数据进行分析，将光源调至最佳激发位置。本发明将原子荧光谱线与火焰激发区域成像相结合，可以有效将将激发位置调整到最佳状态，不再依靠人眼观察和经验判断，提高检测结果的准确性。
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